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发明公开
半导体集成电路和测试其间的连接状态的方法无效

公开(公告)号：CN1847869A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200610073646.8

申请日：2006-04-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 , 沟口弘明

IPC: G01R31/28 , H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2812 , G01R31/046 , G01R31/31717

Abstract: 一种包括输入端和连接到该输入端的输入电路的半导体集成电路包括如下组件。测试电路被提供在输入端和输入电路之间，并且改变输入端和预定电势之间的电阻值。测试端被用来操作测试电路。

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