用于测量温度的方法和装置

    公开(公告)号:CN107076616A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201580057068.6

    申请日:2015-08-27

    CPC classification number: G01J5/34 G01J2005/0077 G01J2005/345

    Abstract: 本发明涉及一种用于在使用具有作为电容来连接的金属‑绝缘体‑半导体结构的传感器下测量温度(T1,T2)的方法,所述金属‑绝缘体‑半导体结构则具有取决于温度的自动放电(112)。所述方法包括在使用在测量时刻(114)加载在所述电容上的电位(116,118)下确定代表着所述传感器的温度(T1,T2)的温度信息的步骤。

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