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公开(公告)号：CN118013162A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202311801920.9
申请日：2023-12-26
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了基于三坐标测量离轴二次非球面时获取点路径的计算方法，利用坐标变换的方法并带入离轴非球面的面型参数，得到离轴非球面的表达公式，之后对公式进行化简，利用xy表示出z值以提升后续求解z值的运算速率；再通过二分法进行迭代计算求出偏转角θ，将其带入上述坐标变换的公式中，从而得到以离轴非球面镜底面圆中心为坐标原点的新空间坐标系下的离轴非球面表达式；取点过程中，利用同心圆路径求出XY的坐标，再利用推导出的公式计算出此XY值下的Z轴坐标值和该点的法向量。本发明在已有的获取点路径的计算方法过程中重新对取点公式进行了推导、计算，构建了新的取点公式并获取了符合模型要求的点集文件，进一步提升了工作效率。
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公开(公告)号：CN116872087A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202311079299.X
申请日：2023-08-25
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明提供一种获取离轴非球面光学元件的点路径的方法，其包括如下步骤：S1：根据所述离轴非球面光学元件的初始参数构建母镜坐标系下的曲面方程；S2：通过二分法计算边缘高度差值，迭代出等厚工件时的θ偏转角度；S3：根据子镜中心高度，建立子镜坐标系，通过空间坐标系的平移和旋转变换，计算出在所述子镜坐标系下离轴非球面光学元件表面的曲面表达式；S4：在所述子镜坐标系下，计算获得离轴非球面的面型点及法向特征。本发明利用坐标变换矩阵通过离轴非球面镜初始参数直接得到子镜坐标系下的面型公式，获取均匀分布的采样点路径，克服了常规测量中由于采样点分布不均导致的长时间消耗，对后续的误差分析提升了精度。
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公开(公告)号：CN118550079A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410580654.X
申请日：2024-05-11
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种离轴凹抛物面反射镜投影畸变校正的方法，根据待校正离轴凹抛物面的基本参数，构建在母镜坐标系下该待校正离轴凹抛物面的曲面方程；在待校正离轴凹抛物面利用无像差点法自准直检测光路中，计算CCD投影面到待校正离轴凹抛物面的坐标变换关系；将待校正离轴凹抛物面上像素点线性变换至CCD投影面，得到投影面坐标数据；根据坐标变换关系对投影面坐标数据进行坐标变换，并对坐标变换后的数据进行插值处理。本发明利用CCD线性投影面和离轴抛物面工件表面之间的坐标投影变换结合少数标记点实现无像差点法的投影畸变校正，可用于实际CCOS机床加工，在一定精度内提升了校正效率。
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