一种基于MBE设备原位低温获得大尺寸Ga滴的方法

    公开(公告)号:CN108751127A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201810523864.X

    申请日:2018-05-28

    Applicant: 苏州大学

    CPC classification number: B82B1/00 B82B3/00 H01L21/268

    Abstract: 本发明公开了一种基于MBE设备原位低温获得大尺寸Ga滴的方法,包括步骤,利用分子束外延系统在基底上沉积Ga,以获得一层致密的Ga滴,在所述分子束外延系统上原位引入脉冲激光,使脉冲激光辐照上述Ga滴,使Ga滴融合团聚形成大尺寸的Ga滴。本申请采用分子束外延系统,在较低的基底温度下直接在基底表面沉积一层致密的Ga滴,直接在高真空外延设备MBE系统上原位引入脉冲激光对致密的Ga滴进行照射,Ga滴在膨胀时与相邻的Ga滴互相融合,从而制备得到大尺寸的Ga滴,由于整个制备大尺寸Ga滴的过程基底温度始终可以处于低温,因此可有效避免Ga滴对基底材料的刻蚀作用。

    原位无损剥离量子点的方法

    公开(公告)号:CN108751254A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201810556681.8

    申请日:2018-06-01

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明涉及一种原位无损剥离量子点的方法,包括以下步骤:将表面负载有量子点的衬底升温至量子点的临界脱附温度,其中,量子点为Ⅲ‑Ⅴ族量子点,衬底的材质为Ⅲ‑Ⅴ族化合物,所述量子点的键能低于衬底中化合物的键能;然后向量子点施加脉冲激光,使得量子点中的原子受激发后从所述衬底表面原位无损剥离。本发明的方法可有效避免目前主流剥离方法中存在的氧化,污染,材料破坏,耗时以及不经济等问题。

    原位无损剥离量子点的方法

    公开(公告)号:CN108751254B

    公开(公告)日:2020-09-08

    申请号:CN201810556681.8

    申请日:2018-06-01

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明涉及一种原位无损剥离量子点的方法,包括以下步骤:将表面负载有量子点的衬底升温至量子点的临界脱附温度,其中,量子点为Ⅲ‑Ⅴ族量子点,衬底的材质为Ⅲ‑Ⅴ族化合物,所述量子点的键能低于衬底中化合物的键能;然后向量子点施加脉冲激光,使得量子点中的原子受激发后从所述衬底表面原位无损剥离。本发明的方法可有效避免目前主流剥离方法中存在的氧化,污染,材料破坏,耗时以及不经济等问题。

Patent Agency Ranking