一种多源辐射耦合的目标红外偏振特征反演方法

    公开(公告)号:CN119880161A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510370926.8

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种多源辐射耦合的目标红外偏振特征反演方法,包括:步骤S1,获取背景、目标和入射源的温度参数以及入射源的角度参数和目标的表面材质参数;步骤S2,计算背景、目标和入射源等效的黑体辐射亮度;步骤S3,计算第一镜面反射热辐射分量和第二镜面反射热辐射分量;步骤S4,计算第一漫反射热辐射分量和第二漫反射热辐射分量;步骤S5,计算目标自发热辐射分量;步骤S6,根据第一镜面反射热辐射分量、第二镜面反射热辐射分量、第一漫反射热辐射分量、第二漫反射热辐射分量和目标自发热辐射分量得到反射斯托克斯矢量内的三个参量;步骤S7,根据三个参量得到目标的目标偏振度。有益效果是本发明能够提升目标红外偏振特征反演的准确性。

    一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法

    公开(公告)号:CN118898617B

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411397747.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本发明提供了一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法,包括:步骤S1,针对目标工件,采集不同偏振角度下的偏振强度图像形成多通道偏振图像集合并求解得到多维图像特征数据集;步骤S2,采用Canopy算法对多维图像特征数据集进行初聚类得到初始聚类中心,随后基于初始聚类中心,采用K‑means算法对多维图像特征数据集进行细聚类得到图像特征数据集分类结果;步骤S3,基于高光判定规则生成感兴趣区域;步骤S4,标记感兴趣区域内所有的第一连通域以及感兴趣区域外与各第一连通域相邻近且属于同一类的第二连通域,并基于区域判定规则筛选得到镜面‑漫反射过渡区域包含至感兴趣区域内。有益效果是本发明能够实现对镜面‑漫反射过渡区域的准确定位。

    一种偏振高光谱图像融合系统和方法

    公开(公告)号:CN118172258A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410311317.0

    申请日:2024-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种偏振高光谱图像融合系统和方法,系统包括:图像采集模块1,用于获取高光谱图像和若干个不同偏振角对应的偏振图像;降维模块2,用于在高光谱图像内提取至少两张具有不同中心波长的波段图像,并将若干个不同偏振角对应的偏振图像进行信息提取,获得线偏振度图像;编码模块3,用于对至少两张具有不同中心波长的光谱图像和线偏振度图像分别进行图像特征提取,获得各自对应的深层特征向量;融合模块4,用于将编码模块输出的所有特征向量进行特征融合,获得融合后的融合特征向量;解码模块5,用于将融合后的融合特征向量进行图像显影,获得高光谱偏振融合图像。本发明可以避免在融合图像过程中出现图像信息丢失。

    一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法

    公开(公告)号:CN119915825A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510401240.0

    申请日:2025-04-01

    Abstract: 本发明涉及一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法,装置包括光源,用于提供可见光;起偏器,用于接收所述可见光,并通过调节其偏振角度将所述可见光调制为四种偏振态的入射偏振光线,所述入射偏振光线入射至金属表面,由金属表面反射出反射偏振光线;检偏器,用于接收反射偏振光线,并通过调节其偏振角度将任意一种偏振态的反射偏振光线调制为四种偏振态的出射偏振光线,得到十六种偏振态的出射偏振光线;图像采集模块,用于接收每种偏振态的出射偏振光线并形成成像图;图像处理模块,所述图像处理模块与所述装置本体连接;该装置能够直接快速获取金属表面的偏振特征信息,无需额外的光路,实现了快速且多场景的检测,方便携带。

    一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法

    公开(公告)号:CN118567020B

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN202411034443.2

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法,包括:基底;第一介质层,沉积于基底顶端;第二介质层,沉积于第一介质层顶端;多个介质光栅层,沉积于第二介质层顶端并沿第二介质层的长度方向间隔设置,每相邻的两个介质光栅层之间分别形成沟槽,各介质光栅层和第二介质层的材质具有相同的折射率,各介质光栅层的光栅周期小于入射光的入射波长;多个第一金属层,分别沉积于各沟槽内;多个第二金属层,分别沉积于各介质光栅层顶端,各第二金属层和各第一金属层的材质具有相同的介电常数。有益效果是本发明能够在获得优良偏振性能的同时减小微纳加工工艺难度,并实现亚波长金属光栅偏振器件结构的大面积、高保真、高效率制造。

    一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法

    公开(公告)号:CN118898617A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202411397747.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本发明提供了一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法,包括:步骤S1,针对目标工件,采集不同偏振角度下的偏振强度图像形成多通道偏振图像集合并求解得到多维图像特征数据集;步骤S2,采用Canopy算法对多维图像特征数据集进行初聚类得到初始聚类中心,随后基于初始聚类中心,采用K‑means算法对多维图像特征数据集进行细聚类得到图像特征数据集分类结果;步骤S3,基于高光判定规则生成感兴趣区域;步骤S4,标记感兴趣区域内所有的第一连通域以及感兴趣区域外与各第一连通域相邻近且属于同一类的第二连通域,并基于区域判定规则筛选得到镜面‑漫反射过渡区域包含至感兴趣区域内。有益效果是本发明能够实现对镜面‑漫反射过渡区域的准确定位。

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