一种使用锯齿波调相的相位测量方法

    公开(公告)号:CN111351585A

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201911262898.9

    申请日:2019-12-10

    Inventor: 梁松林 牛瑞华

    Abstract: 本发明公开了一种使用锯齿波调相的相位测量方法,首先,设待测相位为和携带该相位的信号,接下来,通过周期性锯齿波进行相位调制,调制后的信号在一个周期内进行傅里叶变换,求出相位值。本发明采用锯齿波进行调相,调制和解调过程方便,具体的相位信息可以代表长度、光程、折射率等等物理量,通过对相位变化的测量,得到相应物理量的变化信息,可广泛应用于多种涉及相位的测量领域。

    一种镁橄榄石多晶料的合成方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117699811A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311683743.9

    申请日:2023-12-10

    Abstract: 本发明公开了一种镁橄榄石多晶料的合成方法,采用富镁高温等静压固相合成和烧结工艺制备镁橄榄石多晶料,包括以下过程:S1.取氧化镁细粉原料煅烧,以排除CO2和水分,将二氧化硅微粉烘干;S2.将氧化镁细粉与二氧化硅微粉混合,在聚氨酯混料筒中混料,料混合均匀后将其放入搅拌锅中,加水搅拌均匀,得到原料混合物;然后使用乙醇作为介质,研磨原料混合物;S3.将研磨后的湿浆料烘干、过筛,并在空气中于高温下煅烧。然后将所得产物研磨,再烘干,再过筛得到镁橄榄石粉末。本发明通过采用富镁高温等静压固相法的方式,使制备的镁橄榄石多晶料纯度得以提高达到5N级。

    一种光程差分布测试装置与方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116148182A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211676381.6

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 本发明涉及一种光程差分布测试装置与方法,属于光学测量技术领域。本发明提供的光程差分布测试方法可获得材料整个通光区域的光程差分布信息,可应用于:波片相位延迟分布及其均匀性测量,RTP、KTP晶体光程差分布测量,用于指导晶体的精确配对,可适用于铌酸锂、KDP、玻璃等各向同性或特定方向各向同性材料,测量其应力双折射分布情况。

    一种使用锯齿波调相的相位测量方法

    公开(公告)号:CN111351585B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN201911262898.9

    申请日:2019-12-10

    Inventor: 梁松林 牛瑞华

    Abstract: 本发明公开了一种使用锯齿波调相的相位测量方法,首先,设待测相位为和携带该相位的信号,接下来,通过周期性锯齿波进行相位调制,调制后的信号在一个周期内进行傅里叶变换,求出相位值。本发明采用锯齿波进行调相,调制和解调过程方便,具体的相位信息可以代表长度、光程、折射率等等物理量,通过对相位变化的测量,得到相应物理量的变化信息,可广泛应用于多种涉及相位的测量领域。

    掺杂钇铝石榴石陶瓷转变为单晶的制备方法

    公开(公告)号:CN103820859A

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:CN201310750513.X

    申请日:2013-12-31

    Abstract: 本发明提出的一种掺杂钇铝石榴石陶瓷转变为单晶的制备方法,旨在提供一种可控性强,掺杂钇铝石榴石晶体组分均匀的固态晶体生长方法,本发明通过下述技术方案予以实现:在纳米掺杂钇铝石榴石陶瓷粉料中添加粉体重量0.2%~1%的二氧化硅、氧化镁、氟化锂中至少一种作为烧结助剂,随后同玛瑙球一起以酒精为介质球磨;在600~800℃流动氧气气氛下加热,再将粉料装入不锈钢磨具中干压成型陶瓷素坯,并进一步冷等静压陶瓷素坯,在真空度高于10-3Pa、温度大于1550℃保温得到掺杂钇铝石榴石陶瓷;将钇铝石榴石晶体和掺杂钇铝石榴石陶瓷光胶组合形成复合体,在大于1600℃高温、0~300MPa高压氩气处理20小时;掺杂钇铝石榴石单晶在氢气、氧气或空气气氛下大于1200℃保温100小时以上。

    一种固体材料热膨胀系数测试装置

    公开(公告)号:CN117871595A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311683740.5

    申请日:2023-12-10

    Abstract: 本发明公开了一种固体材料热膨胀系数测试装置,其包括激光器、分光镜、真空室、法布里‑玻罗干涉腔、待测样品、热电偶、探测器;法布里‑玻罗干涉腔布置在真空室内,待测样品放置在法布里‑玻罗干涉腔内,热电偶固定在待测样品侧面;激光器出光侧布置分光镜,分光镜的出射光射向法布里‑玻罗干涉腔,经由法布里‑玻罗干涉腔的反射光进一步经分光镜反射,由布置在分光镜一侧的探测器接收。本发明的干涉光程差仅与试样长度有关,无零漂效应,具有结构简单,可靠性高,测试精度高的突出优势。

Patent Agency Ranking