-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102418110B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201010299084.5
申请日：2010-09-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: C23G5/00
Abstract: 本发明涉及一种去除氧化物的方法，其包括：将所述氧化物与组合物反应生成结果产物，所述组合物包含碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐，或者碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐和氧化硼或硼酸的组合或反应产物；清除结果产物。另一方面，本发明涉及一种去除氧化物的方法，其包括：将所述氧化物与包含碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐，或者碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐和氧化硼或硼酸的组合或反应产物的组合物接触；加热所述氧化物和组合物以反应生成结果产物；清洗所述结果产物。
-
公开(公告)号：CN102031113B
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN201010508034.3
申请日：2010-09-28
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/202 , C09K11/7774
Abstract: 本发明提供一种闪烁体，所述闪烁体包含式(Lu1-x-y-zCexInyM1z)2SiO5的组合物，其中M1为Y、Sc、Gd或其组合；0.00001＜x＜0.05；0.000001＜y＜0.1；并且0≤z＜0.999989。本发明还提供包含上述闪烁体的晶体结构的检测装置。本发明还提供一种用上述检测装置检测能量的方法，所述方法包括通过闪烁体接收辐射；并用连接到闪烁体的光子检测器检测光子。
-
公开(公告)号：CN102031113A
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN201010508034.3
申请日：2010-09-28
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/202 , C09K11/7774
Abstract: 本发明提供一种闪烁体，所述闪烁体包含式(Lu1-x-y-zCexInyM1z)2SiO5的组合物，其中M1为Y、Sc、Gd或其组合；0.00001＜x＜0.05；0.000001＜y＜0.1；并且0≤z＜0.999989。本发明还提供包含上述闪烁体的晶体结构的检测装置。本发明还提供一种用上述检测装置检测能量的方法，所述方法包括通过闪烁体接收辐射；并用连接到闪烁体的光子检测器检测光子。
-
公开(公告)号：CN102418110A
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN201010299084.5
申请日：2010-09-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: C23G5/00
Abstract: 本发明涉及一种去除氧化物的方法，其包括：将所述氧化物与组合物反应生成结果产物，所述组合物包含碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐，或者碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐和氧化硼或硼酸的组合或反应产物；清除结果产物。另一方面，本发明涉及一种去除氧化物的方法，其包括：将所述氧化物与包含碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐，或者碱金属的碳酸盐、氧化物、氢氧化物或者草酸盐和氧化硼或硼酸的组合或反应产物的组合物接触；加热所述氧化物和组合物以反应生成结果产物；清洗所述结果产物。
-
公开(公告)号：CN102344808A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201010244643.2
申请日：2010-07-30
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本发明涉及一种闪烁体，其组成为(GdxLuyM1-x-y)2Si2O7，其中M为Ce、Pr或其组合。其中0.32＜x＜1；0＜＝y＜＝0.63；0＜1-x-y＜0.05；其中y＝0时，M为Ce和Pr的组合。本发明也涉及包含前述闪烁体的检测装置。本发明还涉及应用前述检测装置检测能量的方法，其包括：由闪烁体接收辐射能量，并且用与闪烁体连接的光子检测器检测闪烁体发射的光子。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.015 seconds)
