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公开(公告)号:CN102034586B
公开(公告)日:2015-02-18
申请号:CN201010506464.1
申请日:2010-09-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H02H7/001 , G01R33/288 , G01R33/3815 , H01F6/02 , Y02E40/68 , Y10T29/49826
Abstract: 一种超导磁体设备(100)包括超导线圈(C1-)和并联地电耦合到线圈(C1-)的无源失超保护电路(130)。电路(130)包括串联连接的加热器(210)和限流器(220)。加热器(210)热耦合到线圈(C1-),并且限流器(220)将流过电路(130)的电流限制在低于加热器(210)的最大额定电流的电流。
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公开(公告)号:CN102034586A
公开(公告)日:2011-04-27
申请号:CN201010506464.1
申请日:2010-09-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H02H7/001 , G01R33/288 , G01R33/3815 , H01F6/02 , Y02E40/68 , Y10T29/49826
Abstract: 一种超导磁体设备(100)包括超导线圈(C1-)和并联地电耦合到线圈(C1-)的无源失超保护电路(130)。电路(130)包括串联连接的加热器(210)和限流器(220)。加热器(210)热耦合到线圈(C1-),并且限流器(220)将流过电路(130)的电流限制在低于加热器(210)的最大额定电流的电流。
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公开(公告)号:CN101065657A
公开(公告)日:2007-10-31
申请号:CN200580040640.4
申请日:2005-09-19
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01N21/958 , G01N21/88 , G01M11/00
CPC classification number: G01N21/958 , G01N21/8803 , G01N2021/8967
Abstract: 一种检测光管理膜(22)的方法,包括将来自于头顶光源(28)的光从光管理膜(22)的第一面反射出并检测所述光管理膜(22)的缺陷;引导来自于背光光源(18)的透射光通过所述光管理膜(22)的第二面到达第一面并检测所述光管理膜(22)的缺陷;将来自于所述头顶光源(28)的光从所述光管理膜(22)的第二面反射出并检测所述光管理膜(22)的缺陷;引导来自于所述背光光源(18)的透射光通过所述光管理膜(22)的第一面到达第二面并检测所述光管理膜(22)的缺陷;以及测量各测得缺陷在光管理膜(22)中的位置。
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公开(公告)号:CN101052903A
公开(公告)日:2007-10-10
申请号:CN200580037953.4
申请日:2005-09-07
Applicant: 通用电气公司
IPC: G02B6/00
CPC classification number: G02B6/0053 , G02B5/0221 , G02B5/0242 , G02B5/0278 , G02B6/0065
Abstract: 本发明公开了一种包含底膜的增亮膜,其中计算得到的底膜的应力阻滞梯度小于或等于50纳米/英寸,其中底膜的第一表面具有纹理,且其中光改向结构安置在底膜的第一表面上。
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公开(公告)号:CN101052900A
公开(公告)日:2007-10-10
申请号:CN200580037925.2
申请日:2005-09-01
Applicant: 通用电气公司
IPC: G02B5/20 , G02B5/28 , G02B5/30 , G02B6/00 , G02F1/13357
CPC classification number: G02B6/0065 , G02B6/0041 , G02B6/0051 , G02B6/0053 , Y10S524/91 , Y10S524/911 , Y10S524/912 , Y10T428/10 , Y10T428/1086 , Y10T428/31551 , Y10T428/31554 , Y10T428/31609
Abstract: 光控制膜(1)包括具有热塑性树脂和特定磷磺酸盐的第一层(10),及由可固化组合物形成的并具有至少1.5的折光率的第二层(20)。该光控制膜减少了静电积聚并减少了灰尘吸引,使得在显示装置例如便携式计算机的平板显示器的制备期间易于操作。
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