公开(公告)号：CN105118885B

公开(公告)日：2017-10-13

申请号：CN201510553548.3

申请日：2010-05-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A.伊赫列夫 ,  李文 ,  J.A.考策尔

IPC: H01L31/105 ,  H01L31/115 ,  G01T1/20 ,  H01L27/146

CPC classification number: H01L27/14663 ,  G01T1/2018 ,  H01L27/14603 ,  H01L31/105 ,  H01L31/115

Abstract: 一种光电二极管元件(20)包括第一扩散类型的第一层以及第二层。第二层定义电荷收集区域(29)。电荷收集区域(29)包括第二扩散类型的活性区(32)以及无活性区(33)。活性区(32)围绕无活性区(33)。光电二极管元件(20)还包括第一层与第二层之间的本征半导体层。

公开(公告)号：CN105118885A

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201510553548.3

申请日：2010-05-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A.伊赫列夫 ,  李文 ,  J.A.考策尔

IPC: H01L31/105 ,  H01L31/115 ,  G01T1/20 ,  H01L27/146

CPC classification number: H01L27/14663 ,  G01T1/2018 ,  H01L27/14603 ,  H01L31/105 ,  H01L31/115

Abstract: 一种光电二极管元件(20)包括第一扩散类型的第一层以及第二层。第二层定义电荷收集区域(29)。电荷收集区域(29)包括第二扩散类型的活性区(32)以及无活性区(33)。活性区(32)围绕无活性区(33)。光电二极管元件(20)还包括第一层与第二层之间的本征半导体层。

公开(公告)号：CN103083034A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201210431799.0

申请日：2012-11-02

Applicant: 通用电气公司

Inventor： A.伊赫列夫 ,  J.A.考策尔

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04

CPC classification number: A61B6/032 ,  A61B6/06 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4266 ,  A61B6/4411 ,  A61B6/4435 ,  A61B6/5205 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/639 ,  Y10T29/49826

Abstract: 本发明粗略分段的检测器架构及其制造方法，一种CT系统，包括具有用于接纳要扫描的对象的开口的可旋转门架、该可旋转门架具有检测器安装表面，附接到门架且配置成向对象投影X射线束的X射线源，各安装在一个视场(FOV)内以及直接安装到可旋转门架的检测器安装表面的多个检测器模块，配置成从多个检测器模块的至少其中之一接收输出的数据采集系统(DAS)，以及编程为从DAS获取对象的成像数据的投影并使用成像数据生成对象的图像的计算机。