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公开(公告)号:CN106969734B
公开(公告)日:2021-02-19
申请号:CN201611167111.7
申请日:2016-12-16
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B21/00
Abstract: 提供了一种用于构件(10)的定位系统(100)和方法(200)。构件(10)具有外表面(11)。方法(200)包括通过分析构件(10)的图像(212)以获得表面特征(30)的X轴线数据点(214)和Y轴线数据点(216)来沿X轴线(50)和Y轴线(52)定位配置在外表面(11)上的表面特征(30)。方法(200)还包括沿Z轴线(54)直接地测量表面特征(30),以获得表面特征(30)的Z轴线数据点(222),其中X轴线(50)、Y轴线(52)和Z轴线(54)相互正交。方法(200)还包括计算表面特征(30)的纵倾值(234)、侧倾值(232)或横摆值(64)中的至少两个。
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公开(公告)号:CN106052579B
公开(公告)日:2020-03-10
申请号:CN201610233423.7
申请日:2016-04-15
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/16
Abstract: 提供了用于分析参考对象(40)的数据采集装置(102)和用于监测涡轮构件(10)变形的系统(100)。数据采集装置(102)具有纵轴线(104),且包括透镜组件(110)和与透镜组件(110)连通的图像获取装置(120),图像获取装置(120)用于接收和处理来自透镜组件(110)的光以生成图像(312)。数据采集装置(102)还包括光源(130)和在后端(144)处联接至光源(130)的灯管(140)。灯管(140)沿纵轴线(104)在前端(142)与后端(144)之间延伸,且可操作成将光从光源(130)传送穿过其,且从前端(142)发射光。数据采集装置(102)还包括可操作成开动图像获取装置(120)和光源(130)的促动器(180)。
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公开(公告)号:CN106989667B
公开(公告)日:2020-12-01
申请号:CN201611168846.1
申请日:2016-12-16
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/00 , G01B11/02 , G01B11/16 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B15/00 , G01B15/04 , G01B15/06 , G01B15/08
Abstract: 本发明涉及一种用于监视涡轮构件的方法,具体而言,一种用于监视构件的方法包括在构件上定位多个机加工表面特征,定位至少一个参考点,以及测量在多个机加工表面特征和至少一个参考点之间的多个第一距离。
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公开(公告)号:CN106052579A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201610233423.7
申请日:2016-04-15
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/16
Abstract: 提供了用于分析参考对象(40)的数据采集装置(102)和用于监测涡轮构件(10)变形的系统(100)。数据采集装置(102)具有纵轴线(104),且包括透镜组件(110)和与透镜组件(110)连通的图像获取装置(120),图像获取装置(120)用于接收和处理来自透镜组件(110)的光以生成图像(312)。数据采集装置(102)还包括光源(130)和在后端(144)处联接至光源(130)的灯管(140)。灯管(140)沿纵轴线(104)在前端(142)与后端(144)之间延伸,且可操作成将光从光源(130)传送穿过其,且从前端(142)发射光。数据采集装置(102)还包括可操作成开动图像获取装置(120)和光源(130)的促动器(180)。
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公开(公告)号:CN106989667A
公开(公告)日:2017-07-28
申请号:CN201611168846.1
申请日:2016-12-16
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/00 , G01B11/02 , G01B11/16 , G01B11/24 , G01B11/30 , G01B15/00 , G01B15/04 , G01B15/06 , G01B15/08
Abstract: 本发明涉及一种用于监视涡轮构件的方法,具体而言,一种用于监视构件的方法包括在构件上定位多个机加工表面特征,定位至少一个参考点,以及测量在多个机加工表面特征和至少一个参考点之间的多个第一距离。
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公开(公告)号:CN106969734A
公开(公告)日:2017-07-21
申请号:CN201611167111.7
申请日:2016-12-16
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B21/00
Abstract: 提供了一种用于构件(10)的定位系统(100)和方法(200)。构件(10)具有外表面(11)。方法(200)包括通过分析构件(10)的图像(212)以获得表面特征(30)的X轴线数据点(214)和Y轴线数据点(216)来沿X轴线(50)和Y轴线(52)定位配置在外表面(11)上的表面特征(30)。方法(200)还包括沿Z轴线(54)直接地测量表面特征(30),以获得表面特征(30)的Z轴线数据点(222),其中X轴线(50)、Y轴线(52)和Z轴线(54)相互正交。方法(200)还包括计算表面特征(30)的纵倾值(234)、侧倾值(232)或横摆值(64)中的至少两个。
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