公开(公告)号：CN103648384B

公开(公告)日：2016-12-14

申请号：CN201280020392.7

申请日：2012-04-20

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J.Z.刘 ,  P.R.格兰富斯 ,  薛平 ,  D.F.朗勒 ,  K.S.坎普 ,  B.J.科斯特

IPC: A61B6/00 ,  H04N5/217 ,  H04N5/361 ,  H04N5/32 ,  G01N23/04

CPC classification number: A61B6/585 ,  H04N5/32 ,  H04N5/361

Abstract: 本发明公开一种X射线系统以及用于处理图像数据的方法，所述方法包括将数字检测器暴露于X射线辐射中。所述方法还包括通过所述数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。

公开(公告)号：CN103648384A

公开(公告)日：2014-03-19

申请号：CN201280020392.7

申请日：2012-04-20

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J.Z.刘 ,  P.R.格兰富斯 ,  薛平 ,  D.F.朗勒 ,  K.S.坎普 ,  B.J.科斯特

IPC: A61B6/00 ,  H04N5/217 ,  H04N5/361 ,  H04N5/32 ,  G01N23/04

CPC classification number: A61B6/585 ,  H04N5/32 ,  H04N5/361

Abstract: 本发明公开一种X射线系统以及用于处理图像数据的方法，所述方法包括将数字检测器暴露于X射线辐射中。所述方法还包括通过所述数字检测器对数据进行取样，所述数据包括X射线图像数据和偏移图像数据。所述方法进一步包括在事先不知晓所取样的偏移图像帧总数的情况下计算平均偏移图像。