通过非晶硅X射线探测器进行电磁辐射探测的系统和方法

    公开(公告)号:CN101190130B

    公开(公告)日:2012-02-08

    申请号:CN200610064460.6

    申请日:2006-11-30

    Abstract: 本发明的特定实施例提供一种探测成像系统(100)中的电磁场(160)的方法,所述方法包括:利用电磁发射器(150)发射电磁场(160),利用成像系统探测器(120,200)探测电磁场(160),以及至少部分地基于电磁场(160)从探测器(120,200)读取场图像。成像系统探测器(120,200)能够读取物体图像和场图像。探测器(120,200)可以是非晶硅平板x射线探测器。电磁发射器(150)可被用于手术导航。可以部分地基于场图像来确定手术设备、仪器和/或工具的位置。探测器(120,200)在电磁发射器(150)发射电磁场(160)时可以被协调以采集场图像。

    减少电磁跟踪器中失真的系统和方法

    公开(公告)号:CN1901835A

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:CN200480040357.7

    申请日:2004-11-04

    Inventor: P·T·安德森

    Abstract: 本发明提供一种用于在电磁(EM)跟踪器中进行失真分析和减少失真的系统(100)和方法(200)。EM跟踪器可采用线圈作为接收器和发射器。系统(100)的某些实施例包括用于分析仪器(110)跟踪性能的跟踪分析单元(120)和用于补偿仪器(110)跟踪性能的跟踪修正单元(130)。这种仪器(110)例如是医疗仪器,如钻孔装置、导管、外科手术刀或观察仪器。这些仪器及其周围环境经常包含有金属部件。将EM导航装置,如接收器或发射器,放置在仪器(110)上可导致影响跟踪和跟踪准确度的磁场内失真。可以预见医学应用以外的利用,除了EM跟踪系统之外的跟踪系统,例如超声或惯性位置。

    通过非晶硅X射线探测器进行电磁辐射探测的系统和方法

    公开(公告)号:CN101190130A

    公开(公告)日:2008-06-04

    申请号:CN200610064460.6

    申请日:2006-11-30

    Abstract: 本发明的特定实施例提供一种探测成像系统(100)中的电磁场(160)的方法,所述方法包括:利用电磁发射器(150)发射电磁场(160),利用成像系统探测器(120,200)探测电磁场(160),以及至少部分地基于电磁场(160)从探测器(120,200)读取场图像。成像系统探测器(120,200)能够读取物体图像和场图像。探测器(120,200)可以是非晶硅平板x射线探测器。电磁发射器(150)可被用于手术导航。可以部分地基于场图像来确定手术设备、仪器和/或工具的位置。探测器(120,200)在电磁发射器(150)发射电磁场(160)时可以被协调以采集场图像。

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