公开(公告)号：CN100338460C

公开(公告)日：2007-09-19

申请号：CN03159421.2

申请日：2003-09-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： T·J·巴青格 ,  W·李 ,  R·S·吉尔摩 ,  E·J·尼特尔斯 ,  W·T·哈特菲尔德 ,  R·E·克拉尔森 ,  J·N·巴辛格 ,  B·H·海德 ,  C·L·查勒克 ,  R·J·麦克利戈特 ,  D·C·弗兰克林

IPC: G01N29/04

CPC classification number: G01N29/4436 ,  G01N29/069 ,  G01N29/262 ,  G01N29/32 ,  G01N29/341 ,  G01N29/38 ,  G01N2291/011 ,  G01N2291/02836 ,  G01N2291/044 ,  G01N2291/048 ,  G01N2291/106 ,  G01S15/8913 ,  G01S15/8918 ,  G01S15/8925 ,  G01S15/894 ,  G01S15/8979 ,  G10K11/346

Abstract: 用于检测元件(10)的一种方法包括激励形成阵列(14)的多个换能器(12)，产生聚焦到元件的超声发射束(超声束)。阵列和元件由间隔物(18)分开。利用换能器产生多个回声信号，并在多个频道(20)中处理回声信号。处理包括动态聚焦和提供动态接收孔径(24)，二者均可补偿超声束在元件/间隔物界面的折射。一种单次检测方法包括：(a)定位面对元件的阵列；(b)激励换能器；(c)产生多个回声信号；(d)围绕轴(26)改变阵列和元件的相对角度定向，并重复步骤(b)和(c)；以及(e)处理回声信号，以形成至少一个处理的回声信号。

公开(公告)号：CN1530651A

公开(公告)日：2004-09-22

申请号：CN03159421.2

申请日：2003-09-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： T·J·巴青格 ,  W·李 ,  R·S·吉尔摩 ,  E·J·尼特尔斯 ,  W·T·哈特菲尔德 ,  R·E·克拉尔森 ,  J·N·巴辛格 ,  B·H·海德 ,  C·L·查勒克 ,  R·J·麦克利戈特 ,  D·C·弗兰克林

IPC: G01N29/04

CPC classification number: G01N29/4436 ,  G01N29/069 ,  G01N29/262 ,  G01N29/32 ,  G01N29/341 ,  G01N29/38 ,  G01N2291/011 ,  G01N2291/02836 ,  G01N2291/044 ,  G01N2291/048 ,  G01N2291/106 ,  G01S15/8913 ,  G01S15/8918 ,  G01S15/8925 ,  G01S15/894 ,  G01S15/8979 ,  G10K11/346

Abstract: 用于检测元件(10)的一种方法包括激励形成阵列(14)的多个换能器(12)，产生聚焦到元件的超声发射束(超声束)。阵列和元件由间隔物(18)分开。利用换能器产生多个回声信号，并在多个频道(20)中处理回声信号。处理包括动态聚焦和提供动态接收孔径(24)，二者均可补偿超声束在元件/间隔物界面的折射。一种单次检测方法包括：(a)定位面对元件的阵列；(b)激励换能器；(c)产生多个回声信号；(d)围绕轴(26)改变阵列和元件的相对角度定向，并重复步骤(b)和(c)；以及(e)处理回声信号，以形成至少一个处理的回声信号。