一种基于FPGA的卷积神经网络电缆缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN117593291A

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311855060.7

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的卷积神经网络电缆缺陷检测方法,步骤一:采集电缆的缺陷图像,确定缺陷的初始化图像,并对缺陷图像储存和标注,构建电缆缺陷图像样本库;步骤二:将缺陷图像样本库中的图像分为训练集,利用训练代码进行图像识别训练,并将训练数据嵌入到FPGA中;步骤三:通过相机实时采集正在移动电缆的图像,由FPGA对图像进行预处理,匹配预先储存的缺陷图像;步骤四:将检测结构通过显示屏展示,以供工作人员获取信息;本发明采用基于FPGA的卷积神经网络电缆缺陷检测方法,不仅计算速度快而且更能适应复杂的环境提高检测效率和降低成本,改变了人工检测电缆的效率低下,以及单纯利用深度学习进行电缆检测不准确的现状。

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