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公开(公告)号：CN115599576A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110772368.X
申请日：2021-07-08
Applicant: 长鑫存储技术有限公司(CN)
Inventor： 杨柳
IPC: G06F11/07
Abstract: 本发明实施例涉及通信技术领域，公开了一种修补算法的验证方法、电子设备及存储介质，其中方法可应用于模拟软件平台，包括：配置模拟失效的动态随机存取存储器的失效地址；形成所述失效地址的Raw Data文档；将所述Raw Data文档经修补算法进行运算，得到所述失效地址的地址文档及修补方案文档；基于所述修补方案文档对所述地址文档中的失效地址进行修补，并展示修补结果。本方案能够有效提高RA算法的验证的效率、不会对wafer造成损坏，且验证完整。
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