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公开(公告)号:CN101300461A
公开(公告)日:2008-11-05
申请号:CN200680041115.9
申请日:2006-09-05
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
IPC: G01D3/036
CPC classification number: G01D3/032 , G01D3/0365 , G01D5/145
Abstract: 本发明公开了一种方法和系统,其中通过预测磁阻阵列内特定磁阻感测器或组件的中心线到中心线距离之间的以及此类阵列与感测的磁体之间的、由热膨胀引起的温度上的物理变化,从而减小磁阻位置变换器中热膨胀引起的误差。
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公开(公告)号:CN101300461B
公开(公告)日:2013-04-10
申请号:CN200680041115.9
申请日:2006-09-05
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
IPC: G01D3/036
CPC classification number: G01D3/032 , G01D3/0365 , G01D5/145
Abstract: 本发明公开了一种方法和系统,其中通过预测磁阻阵列内特定磁阻感测器或组件的中心线到中心线距离之间的以及此类阵列与感测的磁体之间的、由热膨胀引起的温度上的物理变化,从而减小磁阻位置变换器中热膨胀引起的误差。
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公开(公告)号:CN101915590B
公开(公告)日:2013-02-06
申请号:CN201010261230.5
申请日:2006-09-12
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
Abstract: 本发明涉及利用磁传感器阵列的位置检测。一种磁阻传感器系统,包括:被排列成旋转阵列的多个磁阻感测部件,其中所述多个感测部件之中的至少一些磁阻感测部件彼此被以不规则的方式有角度地隔开,以便优化所述旋转阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求。
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公开(公告)号:CN101915590A
公开(公告)日:2010-12-15
申请号:CN201010261230.5
申请日:2006-09-12
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
Abstract: 本发明涉及利用磁传感器阵列的位置检测。一种磁阻传感器系统,包括:被排列成旋转阵列的多个磁阻感测部件,其中所述多个感测部件之中的至少一些磁阻感测部件彼此被以不规则的方式有角度地隔开,以便优化所述旋转阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求。
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