具有优良成形性的高强度冷轧板及其生产方法

    公开(公告)号:CN101684533A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200810013481.4

    申请日:2008-09-27

    Abstract: 本发明提供一种具有优良成形性的高强度冷轧板,其化学成分:C≤0.0040%、Si:0.02%~0.15%、Mn:0.20%~1.00%、P:0.02%~0.09%、Ti:0.015%~0.06%、Nb:0.01%~0.05%,余量为Fe。其生产方法包括冶炼、连铸、热轧、冷轧、连续退火,热轧的钢坯加热温度1170~1270℃,热轧终轧温度850℃~960℃,卷取温度650~760℃;冷轧压下率为60%~82%;退火温度760~880℃,保温时间60~210s,缓冷段温度630~700℃,快冷段出口温度300~500℃;平整延伸率0.5%~1.0%。本发明含磷高强度钢板具有超低碳、微合金化、钢质纯净等特点。在钢中添加一定的Nb、Ti合金,使钢具有高的塑性。采用相应的轧制和退火工艺,使钢的性能指标达到高强度汽车冲压件的要求。

    一种冷轧热水器用搪瓷钢及生产方法

    公开(公告)号:CN101684532A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200810013480.X

    申请日:2008-09-27

    Abstract: 本发明公开一种冷轧热水器用搪瓷钢及生产工艺,其成分(重量百分比)C 0.01%~0.08%、Si≤0.03%、Mn 0.10%~0.60%、P≤0.02%、S0.003%~0.02%、N0.001%~0.006%、AlS≤0.04%、Ti 0.02%-0.12%,其余为铁及不可避免的杂质,钢中的过剩钛含量=Ti-(4*C+3.43*N+1.5S)≤0,工艺特点为,钢坯加热温度:1160~1300℃,热轧终轧温度850~950℃,钢板卷取温度660~760℃,冷轧压下率60%~85%,退火温度760~880℃,保温时间:60~200s;快冷速率:15~45℃/s,平整延伸率0.7%~1.8%;表面的粗糙度为0.7~1.9μm,本发明钢具有良好成形性、可涂搪性、耐压性和可焊性及抗鳞爆性能,而且搪烧后屈服强度稳定,成本增加不大,效果稳定,经济效益显著。

    一种超低碳高强度冷轧板的生产方法

    公开(公告)号:CN102719740A

    公开(公告)日:2012-10-10

    申请号:CN201210088829.2

    申请日:2012-03-29

    Abstract: 本发明提供一种超低碳高强度冷轧板的生产方法,适量提高传统IF钢中的碳含量,并添加对钢起强化作用的Mn、P、Si等合金元素及可形成第二相析出粒子的Nb、Ti元素,确保钢中的第二相以合理的粒径析出;控制热轧和冷轧工艺参数,利用热轧低温卷取工艺避开FePTid的形成,防止其对钢板冲压性能和延伸率的破坏作用;通过调整冷轧工艺,使钢板具有较高的{111}织构,从而获得高的抗拉强度、延伸率及r值,以保证钢的成形性和抗冲击性能。经对冷轧后钢板试验检测:其平均屈服强度达到287MPa,抗拉强度为460MPa,延展率36%,深冲性能指标r=1.74,n=0.202,其他各项性能指标亦达到标准要求。

    制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架及织构分析

    公开(公告)号:CN101191777A

    公开(公告)日:2008-06-04

    申请号:CN200610134436.5

    申请日:2006-11-28

    Abstract: 本发明提供了一种用于织构测试分析中制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架,主要由“T”字形基准架,与基准架上的直杆相配合的滑块,以及与滑块和基准架上的端头相配合并产生压力的紧固件所组成。同时还公开了一种利用试样架对立方系大晶粒薄板材料进行织构测试分析的方法,以大晶粒薄板材料取向分析为目标,采用组合试样法将薄钢板叠加制备试样,利用X光衍射仪对制备出的试样的轧向所组成的面进行三张不完整极图测量,选择“二步法”对不完整极图数据进行计算斜面坐标架下试样ODF系数Wlpm′,并转换成轧制坐标架下的Wlmn,最后合成ODF。在对大晶粒材料的织构进行测试时,则可测量40至70倍的晶粒数,实现了大晶粒材料织构测试分析的准确快捷,使测量的统计性得以保证。可应用于实际生产中性能及工艺优劣的判断。

    制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架及织构分析

    公开(公告)号:CN101191777B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200610134436.5

    申请日:2006-11-28

    Abstract: 本发明提供了一种用于织构测试分析中制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架,主要由“T”字形基准架,与基准架上的直杆相配合的滑块,以及与滑块和基准架上的端头相配合并产生压力的紧固件所组成。同时还公开了一种利用试样架对立方系大晶粒薄板材料进行织构测试分析的方法,采用组合试样法将薄钢板叠加制备试样,利用X光衍射仪对制备出的试样的轧向所组成的面进行三张不完整极图测量,选择“二步法”对不完整极图数据进行计算斜面坐标架下试样ODF系数W′lpm,并转换成轧制坐标架下的Wlmn,最后合成ODF。在对大晶粒材料的织构进行测试时,则可测量40至70倍的晶粒数,实现了大晶粒材料织构测试分析的准确快捷,使测量的统计性得以保证。

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