具有波前传感器的扫描激光显微镜

    公开(公告)号:CN1784624A

    公开(公告)日:2006-06-07

    申请号:CN200480012465.3

    申请日:2004-04-02

    CPC classification number: G02B21/002

    Abstract: 物体的增强分辨率图像由扫描激光显微镜(10)产生,该显微镜包括用于通过聚焦探测光束(22)扫描物体(12)的照明臂(14)以及用于接收来自该物体的光线的检测臂(16)。该检测臂包括采集并检测来自该物体(12)的光线的检测器(34),以为多个像素产生像素数据。此外,该检测臂包括用于检测来自该物体的光线相位变化的波前传感器(36),以为扫描的像素位置产生波前数据。通过在每一像素位置采集的光线的波前形状,可确定高频频谱,其对应于从该像素位置的小尺度特征衍射的未采集的光线。基于这些扫描的像素位置的高频频谱,产生目标区域的增强分辨率图像。

    磁膜
    2.
    发明授权
    磁膜 有权

    公开(公告)号:CN113168947B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN201980081107.4

    申请日:2019-12-17

    Abstract: 本发明描述了一种电绝缘多氧化物单层磁膜,所述电绝缘多氧化物单层磁膜包含铁、锰和锌。所述电绝缘多氧化物单层磁膜具有大于约100微米的平均厚度以及相反的主要第一表面和主要第二表面。所述第一表面和所述第二表面中的至少一者具有形成于所述第一表面和所述第二表面中的所述至少一者中的基本上平行的第一沟槽的第一规则图案。所述第一规则图案包括第一节距P1,所述第一沟槽具有平均半深全宽W,并且W/P1≥0.1。

    图像的选择性解卷恢复
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1961336A

    公开(公告)日:2007-05-09

    申请号:CN200580017940.0

    申请日:2005-04-29

    Abstract: 提供方法和系统,用于选择性使用解卷恢复以减小图像的特征之间的串扰。该选择要解卷恢复的图像的区域的方法包括以下步骤:a)提供包含多个特征的图像,其中每个特征都与至少一个值(v)相关联;b)识别一个测试特征,该测试特征是邻近于已知的图像的低值区的高值特征,其中该测试特征具有尾比例(rt),尾比例是测试特征的值(vt)与邻近的图像的低值区的值(vo)的比例;c)计算阈值t,该阈值t是测试特征的尾比例(rt)的函数;以及d)对选中的图像区域进行识别,选中的区域是邻近的特征的值(v)之间的比值大于所述阈值(T(rt))的那些区域。通常,本发明的方法还包括将选中的图像区域解卷恢复的步骤。

    磁膜
    10.
    发明公开
    磁膜 有权

    公开(公告)号:CN113168947A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN201980081107.4

    申请日:2019-12-17

    Abstract: 本发明描述了一种电绝缘多氧化物单层磁膜,所述电绝缘多氧化物单层磁膜包含铁、锰和锌。所述电绝缘多氧化物单层磁膜具有大于约100微米的平均厚度以及相反的主要第一表面和主要第二表面。所述第一表面和所述第二表面中的至少一者具有形成于所述第一表面和所述第二表面中的所述至少一者中的基本上平行的第一沟槽的第一规则图案。所述第一规则图案包括第一节距P1,所述第一沟槽具有平均半深全宽W,并且W/P1≥0.1。

Patent Agency Ranking