用于感测电子设备暴露在水分下的方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN106415287A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201480076938.X

    申请日:2014-08-12

    CPC classification number: H02H5/083

    Abstract: 本发明公开了用于感测电子设备内的水分的系统、设备和方法。设备可以包括壳体和显示器,所述壳体和显示器限定电子设备的外部和所述电子设备的内部。进一步地,所述设备可以包括集成电路(IC),所述集成电路在所述电子设备内并且包括控制元件。所述设备还可以包括水分传感器,如电感式传感器、电容式传感器、或两者。可以是所述IC的一部分的所述水分传感器与所述控制元件一起可以感测所述电子设备内的水分。

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