公开(公告)号：CN109313116B

公开(公告)日：2021-11-05

申请号：CN201680083711.7

申请日：2016-12-12

Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司

Inventor： J·A·范德斯利斯 ,  C·A·歌德 ,  M·M·理帕特

IPC: G01N15/08

Abstract: 用于研究多孔有效衬底表面的光学性质的变化的系统和方法，所述光学性质涉及例如有效表面深度和折射率、孔径、孔体积和大气压力下的孔径分布。

公开(公告)号：CN115335684B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202180022393.4

申请日：2021-12-27

Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司

Inventor： 贺平 ,  M·M·理帕特 ,  J·A·范德斯利斯 ,  C·M·赫兹恩格 ,  B·D·古恩瑟尔 ,  D·E·梅耶 ,  S·斯科驰 ,  J·D·威尔驰 ,  J·S·海乐

IPC: G01N21/21 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/359 ,  G01J3/00 ,  G01J3/12 ,  G01J4/00 ,  G02F1/35

Abstract: 椭偏计、偏振计、反射计和分光光度计系统包括一个或多个波长修改器，其将由电磁辐射源提供的波长转换为用于在调查样品中使用的不同的波长，和/或其检测器可以检测的波长。

公开(公告)号：CN115335684A

公开(公告)日：2022-11-11

申请号：CN202180022393.4

申请日：2021-12-27

Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司

Inventor： 贺平 ,  M·M·理帕特 ,  J·A·范德斯利斯 ,  C·M·赫兹恩格 ,  B·D·古恩瑟尔 ,  D·E·梅耶 ,  S·斯科驰 ,  J·D·威尔驰 ,  J·S·海乐

IPC: G01N21/21 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/359 ,  G01J3/00 ,  G01J3/12 ,  G01J4/00 ,  G02F1/35

Abstract: 椭偏计、偏振计、反射计和分光光度计系统包括一个或多个波长修改器，其将由电磁辐射源提供的波长转换为用于在调查样品中使用的不同的波长，和/或其检测器可以检测的波长。

公开(公告)号：CN109313116A

公开(公告)日：2019-02-05

申请号：CN201680083711.7

申请日：2016-12-12

Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司

Inventor： J·A·范德斯利斯 ,  C·A·歌德 ,  M·M·理帕特

IPC: G01N15/08

Abstract: 用于研究多孔有效衬底表面的光学性质的变化的系统和方法，所述光学性质涉及例如有效表面深度和折射率、孔径、孔体积和大气压力下的孔径分布。