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发明公开
半导体电路、半导体器件及布线异常诊断方法失效

公开(公告)号：CN102455398A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN201110293717.6

申请日：2011-09-26

Applicant: OKI半导体株式会社

Inventor： 井上和俊

IPC: G01R31/02 , G01R31/36

CPC classification number: G01R31/025 , G01R31/3658

Abstract: 本发明涉及半导体电路、半导体器件及布线异常诊断方法。使电压施加部(24)的开关(SW5)处于接通状态，向布线(27)供给电压VCC，测量电池单元(C4)的输出电压Vout，如果输出电压Vout＝0V，则判断为布线(V4～V3)之间发生短路，如果输出电压Vout≠0V，则判断为布线(V4)断线。使电压施加部(26)的开关(SW6)处于接通状态，向布线(27)供给电压VREF，测量电池单元(C1)的输出电压Vout，如果输出电压Vout＝0V，则判断为布线(V1～V0)之间发生短路，如果输出电压Vout≠0V，则判断为布线(V1)断线。从而，能够对与电池有关的布线的断线以及短路进行准确的诊断。

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