公开(公告)号：CN1188838C

公开(公告)日：2005-02-09

申请号：CN00101177.4

申请日：2000-01-28

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 蜂须贺望 ,  稻毛健治 ,  前田寿昭

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/33 ,  G01R33/12

CPC classification number: G11B5/3166 ,  G11B5/455 ,  G11B2005/0016

Abstract: 一种用来试验带有一个MR元件和一个感应元件的组合型磁头的方法，包括：一个电流施加步骤，把电流施加到感应元件上，而不把外部磁场施加到磁头上；和一个测量步骤，在电流施加步骤结束之后，测量MR元件的输出特性。

公开(公告)号：CN1262505A

公开(公告)日：2000-08-09

申请号：CN00101177.4

申请日：2000-01-28

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 蜂须贺望 ,  稻毛健治 ,  前田寿昭

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/33 ,  G01R33/12

CPC classification number: G11B5/3166 ,  G11B5/455 ,  G11B2005/0016

Abstract: 一种用来试验带有一个MR元件和一个感应元件的组合型磁头的方法,包括:一个电流施加步骤,把电流施加到感应元件上,而不把外部磁场施加到磁头上;和一个测量步骤,在电流施加步骤结束之后,测量MR元件的输出特性。