公开(公告)号：CN106441811A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610454912.5

申请日：2016-06-21

Applicant: 烟台昕诺吉太阳能技术有限公司

Inventor： 郝智斌 ,  张彦鑫 ,  张晓东

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/06 ,  G01J1/44

CPC classification number: G01M11/0285 ,  G01J1/06 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4446

Abstract: 本发明适用于光学检测技术领域，提供了一种检测光传输效率的装置，包括：一遮光件，具有与被测物体的光入口和/或光出口配合的容置口，该容置口的口径大小可调节；一照度检测件，包括一基板，及设于所述基板的若干光敏传感器，每个光敏传感器用于测量所属面积上的照度值，并传送给数据处理单元；一数据处理单元，用于处理接收的照度值，获取光强分布及光通量。本发明还相应的提供一种检测光传输效率的方法。借此，本发明结构简单，可以更准确的测量光传输效率。

公开(公告)号：CN103512595B

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201310373268.5

申请日：2012-07-10

Applicant: 赫普塔冈微光有限公司

Inventor： 哈特穆特·拉德曼 ,  马库斯·罗西

IPC: G01D5/26

CPC classification number: H01L31/16 ,  B29D11/00298 ,  B29D11/00307 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0233 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/06 ,  G01J1/42 ,  G01J5/00 ,  G01J5/022 ,  G01J5/0235 ,  G01J5/024 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/045 ,  G01J5/0806 ,  G01J5/20 ,  G01J2001/061 ,  G02B3/0031 ,  G02B3/0056 ,  G02B13/0085 ,  H01L25/167 ,  H01L27/14618 ,  H01L27/14625 ,  H01L27/14627 ,  H01L27/14687 ,  H01L31/02325 ,  H01L31/167 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T29/49002 ,  H01L2924/00

Abstract: 用于制造光电模块（1）的方法包含：a）提供衬底晶片（PW），在所述衬底晶片上布置有多个检测构件（D）；b）提供间隔晶片（SW）；c）提供光学晶片（OW），所述光学晶片包含多个透明部分（t）和至少一个阻挡部分（b），所述多个透明部分对于通常可由所述检测构件检测的光透明，所述至少一个阻挡部分用于实质上衰减或阻挡通常可由所述检测构件检测的入射光；d）制备晶片堆叠（2），在所述晶片堆叠中，所述间隔晶片（SW）布置在所述衬底晶片（PW）与所述光学晶片（OW）之间，以使得所述检测构件（D）布置在所述衬底晶片与所述光学晶片之间。优选地，用于发射通常可由所述检测构件（D）检测的光的多个发射构件（E）布置在所述衬底晶片（PW）上，以使得多个相邻发射构件和检测构件存在于所述衬底晶片上。可通过将所述晶片堆叠（2）分隔成多个单独模块（1）来获得单个模块（1）。

公开(公告)号：CN108369137A

公开(公告)日：2018-08-03

申请号：CN201680071718.7

申请日：2016-10-20

Applicant: 光谱化有限公司

Inventor： 理查德·比尔 ,  维克塔·塔斯安库

IPC: G01J3/51 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01N21/31 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/0492 ,  G01J1/06 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4266 ,  G01J2003/1213 ,  G01N21/538 ,  G01N2201/0616 ,  G01N2201/065

Abstract: 太阳光谱辐照度(SSI)测量对于太阳能集热器/光伏电池板效率和太阳能资源评估，以及科学气象/气候观测和材料测试研究而言，非常重要。迄今为止，此类测量利用的是基于改进型衍射光栅的科学仪器，体积庞大、价格昂贵，对于通用结构而言，机械完整性很低。作为现场太阳能资源评估和模块性能表征研究的一部分，提供准确确定全太阳光谱以及全部水平或倾斜辐照度的紧凑型且成本效益高的工具是有利的。所述工具在开阔场地、非控制部署中不设有机械和环境稳定性的移动部件，并可利用软件来解析280-4000nm光谱内所测量的全球、直射和漫射的太阳光谱，除了主要的大气过程(例如，空气质量、瑞利散射、气溶胶消光、臭氧和水蒸气吸收)之外。

公开(公告)号：CN107063454A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201610950713.3

申请日：2011-06-30

Applicant: 新港公司

Inventor： 杰米·纳普

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G02B27/10 ,  G02B27/14

CPC classification number: G02B6/2938 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0407 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G01J2001/061 ,  G02B6/12007 ,  G02B6/29394 ,  G02B27/1006 ,  G02B27/141 ,  G02B27/145 ,  G02B2006/12109 ,  G02B2006/12164 ,  H04J14/02 ,  H04J14/0209 ,  H04Q2011/0016

Abstract: 本发明论述多路分解系统和方法，其可以是小型化的并且精确的，无需移动部件。在一些情况中，多路分解实施例可以包括滤光片腔体，所述滤光片腔体包括滤光片挡板和支撑挡板，可以配置这些挡板以最小化杂散光信号检测和串扰。多路分解组合件实施例中的一些还可以被配置用于有效地检测U.V.光信号并且至少部分地补偿随光信号波长而变的检测器响应度的变化。

公开(公告)号：CN103620779B

公开(公告)日：2016-12-28

申请号：CN201280006331.5

申请日：2012-07-10

Applicant: 赫普塔冈微光有限公司

Inventor： 哈特穆特·拉德曼 ,  马库斯·罗西

IPC: H01L25/16 ,  H01L31/167 ,  H01L31/0232 ,  H01L27/146 ,  G01J1/02 ,  G01J1/04 ,  G01J1/06 ,  G01J1/42 ,  G01J5/00 ,  G01J5/02 ,  G01J5/20 ,  G02B3/00

CPC classification number: H01L31/16 ,  B29D11/00298 ,  B29D11/00307 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0233 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/06 ,  G01J1/42 ,  G01J5/00 ,  G01J5/022 ,  G01J5/0235 ,  G01J5/024 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/045 ,  G01J5/0806 ,  G01J5/20 ,  G01J2001/061 ,  G02B3/0031 ,  G02B3/0056 ,  G02B13/0085 ,  H01L25/167 ,  H01L27/14618 ,  H01L27/14625 ,  H01L27/14627 ,  H01L27/14687 ,  H01L31/02325 ,  H01L31/167 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T29/49002 ,  H01L2924/00

Abstract: 过将所述晶片堆叠（2）分隔成多个单独模块（1）用于制造光电模块（1）的方法包含：a）提供 来获得单个模块（1）。衬底晶片（PW），在所述衬底晶片上布置有多个检测构件（D）；b）提供间隔晶片（SW）；c）提供光学晶片（OW），所述光学晶片包含多个透明部分（t）和至少一个阻挡部分（b），所述多个透明部分对于通常可由所述检测构件检测的光透明，所述至少一个阻挡部分用于实质上衰减或阻挡通常可由所述检测构件检测的入射光；d）制备晶片堆叠2），在所述晶片堆叠中，所述间隔晶片（SW）布置在所述衬底晶片（PW）与所述光学晶片（OW）之间，以使得所述检测构件（D）布置在所述衬底晶片与所述光学晶片之间。优选地，用于发射通常可由所述检测构件（D）检测的光的多个发射构件（E）

公开(公告)号：CN103512595A

公开(公告)日：2014-01-15

申请号：CN201310373268.5

申请日：2012-07-10

Applicant: 赫普塔冈微光有限公司

Inventor： 哈特穆特·拉德曼 ,  马库斯·罗西

IPC: G01D5/26

CPC classification number: H01L31/16 ,  B29D11/00298 ,  B29D11/00307 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0233 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/06 ,  G01J1/42 ,  G01J5/00 ,  G01J5/022 ,  G01J5/0235 ,  G01J5/024 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/045 ,  G01J5/0806 ,  G01J5/20 ,  G01J2001/061 ,  G02B3/0031 ,  G02B3/0056 ,  G02B13/0085 ,  H01L25/167 ,  H01L27/14618 ,  H01L27/14625 ,  H01L27/14627 ,  H01L27/14687 ,  H01L31/02325 ,  H01L31/167 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T29/49002 ,  H01L2924/00

Abstract: 用于制造光电模块（1）的方法包含：a）提供衬底晶片（PW），在所述衬底晶片上布置有多个检测构件（D）；b）提供间隔晶片（SW）；c）提供光学晶片（OW），所述光学晶片包含多个透明部分（t）和至少一个阻挡部分（b），所述多个透明部分对于通常可由所述检测构件检测的光透明，所述至少一个阻挡部分用于实质上衰减或阻挡通常可由所述检测构件检测的入射光；d）制备晶片堆叠（2），在所述晶片堆叠中，所述间隔晶片（SW）布置在所述衬底晶片（PW）与所述光学晶片（OW）之间，以使得所述检测构件（D）布置在所述衬底晶片与所述光学晶片之间。优选地，用于发射通常可由所述检测构件（D）检测的光的多个发射构件（E）布置在所述衬底晶片（PW）上，以使得多个相邻发射构件和检测构件存在于所述衬底晶片上。可通过将所述晶片堆叠（2）分隔成多个单独模块（1）来获得单个模块（1）。

公开(公告)号：CN102667425A

公开(公告)日：2012-09-12

申请号：CN201080052663.8

申请日：2010-02-02

Applicant: 韩国标准科学研究院

Inventor： 朴盛钟 ,  李东勋 ,  朴承男

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01J1/0295 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供了一种积分球光度计及其测量方法。所述积分球光度计包括：积分球，包括左半球和右半球；光度计，置于右半球的中心面；光度计挡板，置于光度计前面且与光度计间隔开；待测光源，置于积分球的中心区，至少向左半球的照明区发光；辅助灯部，置于左半球和右半球之间的接触区附近，以向照明区发光；以及辅助灯挡板，置于辅助灯部周围，以防止待测光源发出的光直接照射到辅助灯部，并且也防止从辅助灯部发出的光直接照射到待测光源。

公开(公告)号：CN109682466A

公开(公告)日：2019-04-26

申请号：CN201910063825.0

申请日：2019-01-23

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 边宇 ,  马源 ,  郑锦泽

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/04 ,  G01J1/06

CPC classification number: G01J1/4204 ,  G01J1/04 ,  G01J1/06 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4266 ,  G01J2001/428

Abstract: 本发明公开了一种可同时测量太阳总辐射和散射辐射的测量仪及方法；包括兼做壳体的基座、内嵌在基座上的圆底盘、半圆形遮阳环带，以及位于在基座内的控制器；半圆形遮阳环带的两端分别对称固定在圆底盘的边缘；圆底盘上开设有数个结构相同的通光圆孔，在各通光圆孔的下方均对应设有一个光辐照度探头；光辐照度探头与主控制器连接；光辐照度探头将各其采集的照度数据传递给控制器，并通过基座上的数据接口输出。本测量仪各个光辐照度探头采集当前时间当前位置环境的光照参数等，控制器自动采集、处理、输出光辐射量，无需手动设置，不仅有效解决家用难以安装的问题，还具有技术手段简便易行等优点，可应用在狭窄的地区上。

公开(公告)号：CN102177442B

公开(公告)日：2014-10-22

申请号：CN200980140191.9

申请日：2009-10-06

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： T·范伯梅尔 ,  E·J·梅杰尔 ,  R·A·M·希克梅特 ,  H·A·范斯普朗 ,  M·A·维舒伦

IPC: H01L27/00 ,  G01S3/782

CPC classification number: H01L27/1462 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/06 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/061 ,  G01S3/784 ,  H01L27/14625 ,  H01L27/14685

Abstract: 本发明涉及用于测量光特性的光传感器。具体而言，本发明涉及一种能够测量光特性如光方向、光准直和光分布的光方向性传感器。根据本发明的第一方面，提供一种光方向性传感器，该传感器包括：光传感器(2)，包括多个光敏元件(3)；以及多个光吸收光选择结构(1)，布置于光传感器上以便形成光吸收光选择结构阵列。在光吸收光选择结构阵列中，至少一些光吸收光选择结构的连串具有变化的结构特性。通过形成该连串的各个别结构使得它允许感测在相对于阵列的不同角区间内的光来实现变化的结构特性。另外根据本发明的第二方面，提供一种用于形成根据本发明第一方面的光传感器的方法。

公开(公告)号：CN103994874A

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：CN201410052143.7

申请日：2014-02-14

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01J1/08 ,  G01J1/42 ,  G01J2001/061 ,  G01J2001/4252

Abstract: 提供一种标准光源以及测量方法，是适合于具有与以往的标准光源不同的配光特性的光源的总光通量测量的、具有更简单结构的新的标准光源以及使用了该标准光源的测量方法。标准光源(10)包含发光部(14)、与发光部电连接的供电部(18)以及限制部(16)，该限制部(16)设置于发光部与供电部之间，限制从发光部放射的光向供电部一侧传播。限制部的被来自发光部的光入射的表面构成为进行漫反射。