双波长中子光栅干涉仪的成像方法

    公开(公告)号:CN107290360A

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201710478922.7

    申请日:2017-06-22

    Inventor: 王志立 刘达林

    Abstract: 本发明公开了一种双波长中子光栅干涉仪的成像方法,其特征包括:1移动光栅,将中子光栅干涉仪的工作点固定在光强曲线的半腰位置;2设置第一等效波长为λ1,分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像;3设置第二等效波长为λ2,分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像;4分别提取被成像物体在等效波长λ的吸收和折射信号。本发明摒弃繁琐的光栅机械扫描,简化中子光栅干涉仪的成像过程,提高数据采集效率,并定量获得被成像物体在等效波长λ的吸收、折射信号,从而为被成像物体的快速、定量表征提供新途径。

    实现XANES分析的方法和设备

    公开(公告)号:CN1829910B

    公开(公告)日:2012-05-23

    申请号:CN200480021932.9

    申请日:2004-06-02

    CPC classification number: G01N23/02 G01N23/06 G21K2201/062 G21K2201/064

    Abstract: 用于将样品曝露到高能辐射的紧凑、低功耗系统和方法,例如将样品曝露到用于实现X射线吸收近边缘分析(XANES)的X射线。该系统和方法包括一个低功耗的辐射源,例如一个X射线管;一个或多个用于对指向被分析样品的辐射能量加以导向和改变的可调节晶体光学部件;以及一个用于探测由该样品发射的辐射的辐射探测器件,例如一个X射线探测器。这一个或多个可调节晶体光学部件可以是双重弯曲晶体光学部件。该系统的部件可以被排列在同一条直线上。所公开的系统和方法特别适用于XANES分析,例如生物过程中铬或其他过渡金属的化学状态的分析。

    X射线检查装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101907580A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010200544.4

    申请日:2010-06-08

    Inventor: 岛田征浩

    CPC classification number: G01N23/06 G01N2223/643 G01N2223/652

    Abstract: 本发明提供一种X射线检查装置,其具有多个判断基准,能够基于多个判断基准进行异物判断。在该X射线检查装置(100)中,用X射线照射装置(200)及线性传感器(300)检测物品(600)的状态,用控制部(350)基于级别1~级别5的检测级别判断物品(600)的状态,用输出部(355)输出该判断结果。另外,在检测级别为级别1的情形下设定成为控制部(350)的判断基准的第一阈值(771a、771b)。

    一种β射线烟尘浓度直读监测仪及其确认有效样本的方法

    公开(公告)号:CN101101256A

    公开(公告)日:2008-01-09

    申请号:CN200710122913.0

    申请日:2007-07-03

    Abstract: 本发明为β射线烟尘浓度直读监测仪以及确定有效烟尘检测样本的方法,其包括:烟尘收集单元和烟尘质量检测单元,所述的烟尘收集单元包括:烟尘采样枪、滤纸和机械控制自动走纸结构,其中,所述的烟尘采样枪包括:采集管、皮托管以及护套管;其中,所述的烟尘采样枪的采集管末端设有一上腔体,与所述的上腔体对应设有一下腔体,所述的滤纸在所述的上下腔体的间隙中通过,在所述下腔体的入口处设有滤纸托栅,所述下腔体下部设有烟气出口,其中,所述上腔体获得烟尘的采样面积至少为滤纸实际检测面积的2倍。从而达到提高了对烟尘的测量精度,防止了水气对烟尘测量的干扰的目的。

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