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公开(公告)号:CN103181753B
公开(公告)日:2016-12-28
申请号:CN201310022851.1
申请日:2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor: 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言,至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地,所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外,有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外,可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号:CN103293126A
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201310023630.6
申请日:2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor: 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
IPC: G01N21/45
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言,至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地,所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外,有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外,可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号:CN103284691B
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201310023749.3
申请日:2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor: 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言,至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地,所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外,有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外,可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号:CN101529757A
公开(公告)日:2009-09-09
申请号:CN200780038724.3
申请日:2007-09-27
Applicant: 国际商业机器公司
IPC: H04B10/155 , H01S5/50 , H04B10/17
CPC classification number: H01S5/4006 , H01S5/06213 , H01S5/5045 , H04B10/2914
Abstract: 本发明提供了用于扩展短波长和长波长光纤长度的带宽的器件和方法。本发明提供了一种光发射机封装器件,包括:激光二极管;以及直接连接至激光二极管之后并且非常靠近激光二极管的半导体光放大器,其中所述半导体光放大器适于在这样的频域中进行操作,从而所述半导体光放大器对来自所述激光二极管的光波长进行过滤和整形,并且其中所述半导体光放大器偏置到用于所述半导体光放大器的放大阈值之下。该器件还可以包括反馈电路,其包括分光器,其中反馈电路对来自半导体光放大器的经过整形的光输出进行采样,并且动态地调节半导体光放大器和激光二极管中的一个或者二者。在多模光纤的情况下,本发明提供了提供受控的偏移发送到光纤中的额外能力,以及在没有专用光连接器的情况下控制模式噪声的能力。
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公开(公告)号:CN1116783A
公开(公告)日:1996-02-14
申请号:CN95107191.2
申请日:1995-06-06
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor: 柿本升一
IPC: H01S3/18
CPC classification number: H01S5/20 , H01S5/0608 , H01S5/2004 , H01S5/2275 , H01S5/3211 , H01S5/3213 , H01S5/50 , H01S5/5045
Abstract: 一种半导体发光器件,包括一个双异质结结构,该结构包括活性层、第一电导型覆盖层、和第二电导型覆盖层,这些覆盖层夹住活性层,在第一电导型覆盖层和活性层之间夹进非搀杂的覆盖层,非搀杂覆盖层的材料与第一电导型覆盖层相同,并且非搀杂覆盖层的厚度大于载流子在该非搀覆盖层中的扩散长度。因此,载流子在非搀杂的覆盖层中积累,并借助于载流子间的库仑排斥作用被有规律地引入活性层中,从而得到低产生热量、以及低噪声的半导体发光器件。
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公开(公告)号:CN103293126B
公开(公告)日:2017-03-01
申请号:CN201310023630.6
申请日:2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor: 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
IPC: G01N21/45
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种设备和方法。具体而言,至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二电磁辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一电磁辐射的至少一个第三电磁辐射与关联于所述第二电磁辐射的至少一个第四电磁辐射之间检测干涉。可替换地,所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外,有可能以第一偏振态检测所述第三电磁辐射与所述第四电磁辐射之间的干涉信号。此外,可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四电磁辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号:CN103082996A
公开(公告)日:2013-05-08
申请号:CN201310026985.0
申请日:2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor: 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种设备和方法。具体而言,至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地,所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外,有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外,可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号:CN101399615B
公开(公告)日:2012-01-25
申请号:CN200710122536.0
申请日:2007-09-26
CPC classification number: H01S5/5045 , H01S5/028 , H01S5/0287 , H01S5/0622 , H01S5/1039 , H01S5/168
Abstract: 本发明提供了一种半导体光器件以及时钟恢复方法和装置。所述半导体光器件的外延片的两个端面设置有端面抗反射膜,所述端面抗反射膜用于对接收到的光信号进行梳状滤波处理,其端面反射率根据半导体光器件输出的时钟信号的幅度抖动率而设定,从而使得半导体光器件输出的时钟信号的质量控制在设定的范围内。本发明通过适当地选择半导体光器件的端面反射率,从而可以实现不同速率的全光时钟恢复,使恢复出来的时钟信号的质量控制在设定的范围内。
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公开(公告)号:CN1540430A
公开(公告)日:2004-10-27
申请号:CN200310122337.1
申请日:2003-12-17
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H04B10/2916 , H01S3/094003 , H01S3/0941 , H01S3/2375 , H01S3/302 , H01S5/12 , H01S5/5045
Abstract: 一种拉曼光放大器,包括:光纤放大器,用于拉曼放大输入光信号以形成初步放大光信号;半导体光放大器,用于输出预定波长的拉曼泵浦光以拉曼泵浦光纤放大器,同时放大初步放大光信号以形成二次放大光信号。循环器允许光纤和半导体光放大器交换光和信号,并操作作为滤光器运行的光纤光栅以输出二次放大光信号。
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公开(公告)号:CN107039886A
公开(公告)日:2017-08-11
申请号:CN201710212325.X
申请日:2017-04-01
Applicant: 上海理工大学
CPC classification number: H01S5/5045 , H01S5/0078
Abstract: 本发明提供了一种基于液晶调谐滤波装置的扫频激光光源,包括:半导体光放大器;调谐滤波装置,包括多级利奥滤波模块以及驱动该多级利奥滤波模块的多路信号发生器;光纤耦合器,用于将扫频激光分成输出扫频激光以及返回扫频激光;以及光增强输出模块,其中,多级利奥滤波模块为m级利奥滤波模块,由依次交替设置的m+1个偏振片以及m个液晶盒构成,多路信号发生器具有驱动信号发生模块、信号传输模块、数模转换模块以及m个电信号输出端口,m个电信号输出端口与m个液晶盒一一对应,将电信号分别同时加载至m个液晶盒上。本发明的扫频激光光源基于液晶技术实现调谐滤波,并且能够提供通带带宽小的扫频激光。
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