公开(公告)号：US09596460B2

公开(公告)日：2017-03-14

申请号：US13914532

申请日：2013-06-10

Applicant: CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY

Inventor： Suresh Seshadri ,  David Cole ,  Roger M. Smith ,  Bruce R. Hancock

IPC: H04N17/00 ,  H04N5/225 ,  H04N5/378 ,  G09G3/06 ,  G09G3/00

CPC classification number: H04N17/004 ,  G09G3/006 ,  G09G2320/0209 ,  G09G2320/0219 ,  H04N5/2256 ,  H04N5/378

Abstract: The effects of inter pixel capacitance in a pixilated array may be measured by first resetting all pixels in the array to a first voltage, where a first image is read out, followed by resetting only a subset of pixels in the array to a second voltage, where a second image is read out, where the difference in the first and second images provide information about the inter pixel capacitance. Other embodiments are described and claimed.

Abstract translation: 像素化阵列中的像素间电容的影响可以通过首先将阵列中的所有像元复位到第一电压来测量，其中读出第一图像，然后仅将阵列中的像素的子集重置为第二电压， 其中读出第二图像，其中第一和第二图像中的差异提供关于像素间电容的信息。 描述和要求保护其他实施例。