公开(公告)号：US10018642B2

公开(公告)日：2018-07-10

申请号：US15145657

申请日：2016-05-03

Applicant: Ikonisys, Inc.

Inventor： Young Min Kim ,  Yanning Zhu ,  Yash Agarwal ,  Xiuzhong Wang ,  Aaron Armstrong ,  Robert Borgerding ,  Andrew Macginitie ,  Antti Seppo ,  Ilia Ichetovkin ,  Michael Kilpatrick ,  Petros Tsipouras ,  Triantafyllos P. Tafas

IPC: G01N21/64 ,  G01N35/00 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44

CPC classification number: G01N35/00732 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2021/6441 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2035/00851 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12

Abstract: A method for automated microscopic analysis wherein the test protocol is obtained from interrogatable data affixed to each microscope slide. The method further comprises the algorithms that implement the test protocol.

公开(公告)号：US20170023600A1

公开(公告)日：2017-01-26

申请号：US15145657

申请日：2016-05-03

Applicant: Ikonisys, Inc.

Inventor： Young Min Kim ,  Yanning Zhu ,  Yash Agarwal ,  Xiuzhong Wang ,  Aaron Armstrong ,  Robert Borgerding ,  Andrew Macginitie ,  Antti Seppo ,  Ilia Ichetovkin ,  Michael Kilpatrick ,  Petros Tsipouras ,  Triantafyllos P. Tafas

IPC: G01N35/00 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N35/00732 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2021/6441 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2035/00851 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/12

Abstract: A method for automated microscopic analysis wherein the test protocol is obtained from interrogatable data affixed to each microscope slide. The method further comprises the algorithms that implement the test protocol.

Abstract translation: 一种用于自动显微镜分析的方法，其中从每个显微镜载片上的可询问数据获得测试方案。 该方法还包括实现测试协议的算法。