公开(公告)号：US08283933B2

公开(公告)日：2012-10-09

申请号：US12707534

申请日：2010-02-17

Applicant: Sachin D Dasnurkar

Inventor： Sachin D Dasnurkar

IPC: G01R29/26

CPC classification number: G01R29/26 ,  G01R31/31709 ,  H04L1/205

Abstract: An apparatus configured for built in self test (BIST) jitter measurement is described. The apparatus includes a time-to-voltage converter. The time-to-voltage converter generates a voltage signal proportional to timing jitter present in a clock/data signal input. The apparatus also includes feedback circuitry for the time-to-voltage converter. The feedback circuitry provides a ramp slope for the time-to-voltage converter. The apparatus further includes a calibration controller. The calibration controller provides control signals to the time-to-voltage converter for process-independent calibration. The apparatus also includes a sample-and-hold (S/H) circuit. The S/H circuit provides a set bias voltage to the time-to-voltage converter once calibration is complete.

Abstract translation: 描述了内置自测（BIST）抖动测量的装置。 该装置包括时间 - 电压转换器。 时间到电压转换器产生与时钟/数据信号输入中存在的定时抖动成比例的电压信号。 该装置还包括用于时间 - 电压转换器的反馈电路。 反馈电路为时间到电压转换器提供斜坡斜率。 该装置还包括校准控制器。 校准控制器为时间到电压转换器提供控制信号，用于与过程无关的校准。 该装置还包括采样保持（S / H）电路。 校准完成后，S / H电路为时间到电压转换器提供设定的偏置电压。

公开(公告)号：US20100253559A1

公开(公告)日：2010-10-07

申请号：US12697435

申请日：2010-02-01

Applicant: Sachin D Dasnurkar

Inventor： Sachin D Dasnurkar

IPC: H03M1/10

CPC classification number: H03K4/501 ,  H03K4/90 ,  H03M1/109 ,  H03M1/12

Abstract: An apparatus configured for built in self test (BiST) of analog-to-digital convertors (ADCs) is described. The apparatus includes an ADC to be tested. The apparatus includes a ramp generator. The ramp generator provides a voltage ramp to the ADC. The apparatus further includes feedback circuitry for the ramp generator. The feedback circuitry maintains a constant ramp slope for the ramp generator. The apparatus includes an interval counter. The interval counter provides a timing reference.

Abstract translation: 描述了配置用于模数转换器（ADC）的内置自检（BiST）的装置。 该装置包括要测试的ADC。 该装置包括斜坡发生器。 斜坡发生器为ADC提供电压斜坡。 该装置还包括用于斜坡发生器的反馈电路。 反馈电路为斜坡发生器保持恒定的斜坡斜率。 该装置包括间隔计数器。 间隔计数器提供定时参考。

公开(公告)号：US08106801B2

公开(公告)日：2012-01-31

申请号：US12697435

申请日：2010-02-01

Applicant: Sachin D Dasnurkar

Inventor： Sachin D Dasnurkar

IPC: H03M1/10

CPC classification number: H03K4/501 ,  H03K4/90 ,  H03M1/109 ,  H03M1/12

Abstract: An apparatus configured for built in self test (BiST) of analog-to-digital convertors (ADCs) is described. The apparatus includes an ADC to be tested. The apparatus includes a ramp generator. The ramp generator provides a voltage ramp to the ADC. The apparatus further includes feedback circuitry for the ramp generator. The feedback circuitry maintains a constant ramp slope for the ramp generator. The apparatus includes an interval counter. The interval counter provides a timing reference.

Abstract translation: 描述了配置用于模数转换器（ADC）的内置自检（BiST）的装置。 该装置包括要测试的ADC。 该装置包括斜坡发生器。 斜坡发生器为ADC提供电压斜坡。 该装置还包括用于斜坡发生器的反馈电路。 反馈电路为斜坡发生器保持恒定的斜坡斜率。 该装置包括间隔计数器。 间隔计数器提供定时参考。