公开(公告)号：US20150059449A1

公开(公告)日：2015-03-05

申请号：US14478620

申请日：2014-09-05

Applicant: Technische Universiteit Delft

Inventor： Qiang Xu ,  Gregory Schneider ,  Henny Zandbergen ,  Mengyue Wu ,  Bo Song ,  Cornelis Dekker

IPC: G01N33/487 ,  B81C1/00

CPC classification number: G01N33/48721 ,  B81C1/00492 ,  B81C1/00531 ,  B81C2201/0143 ,  B81C2203/00 ,  B82Y30/00 ,  B82Y40/00 ,  G03F7/00 ,  G03F7/2037 ,  G03F7/2059 ,  Y10T428/24355

Abstract: A method for removing a high definition nanostructure in a partly free-standing layer, the layer, a sensor comprising said layer, a use of said sensor, and a method of detecting a species, and optional further characteristics thereof, using said sensor. The sensor and method are suited for detecting single ions, molecules, low concentrations thereof, and identifying sequences of base pairs, e.g., in a DNA-strand.

Abstract translation: 一种用于去除部分自立层中的高分辨率纳米结构的方法，该层，包括所述层的传感器，所述传感器的使用，以及使用所述传感器检测物种的方法及其可选的其它特征。 传感器和方法适用于检测单个离子，分子，低浓度，以及鉴定碱基对序列，例如DNA链。