Invention Grant
- Patent Title: 用于集成电路器件的保护性封装
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Application No.: CN201410297996.7Application Date: 2014-05-16
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Publication No.: CN105097680BPublication Date: 2019-06-07
- Inventor: 毕建设 , 白兰萍 , 陈泉 , 郭利萍 , 徐艳博
- Applicant: 恩智浦美国有限公司
- Applicant Address: 美国得克萨斯
- Assignee: 恩智浦美国有限公司
- Current Assignee: 恩智浦美国有限公司
- Current Assignee Address: 美国得克萨斯
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Agent 陈华成
- Main IPC: H01L21/82
- IPC: H01L21/82 ; H01L23/31

Abstract:
本发明涉及用于集成电路器件的保护性封装。一种封装集成电路IC器件的方法,其中,将管芯机械地接合到相应的互连基板上,引线接合所述管芯,以及将管芯密封到保护性的壳内这些传统的制造步骤被单一的制造步骤代替,该步骤包括热处理适当的部件组件,从而既为最终的IC封装中的所述管芯形成合适的电连接,又使得一个或多个模塑复合物将所述管芯密封到保护性外壳内。
Public/Granted literature
- CN105097680A 用于集成电路器件的保护性封装 Public/Granted day:2015-11-25
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IPC分类: