一种半导体器件及其制备方法
Abstract:
本发明实施例公开了一种半导体器件及其制备方法,其中,所述半导体器件的制备方法包括:提供一衬底,并在衬底上依次形成漂移层、电流阻挡层和欧姆接触层的叠层结构;在欧姆接触层上形成掩膜层;刻蚀掩膜层形成窗口,窗口的底部露出欧姆接触层;通过窗口刻蚀欧姆接触层、电流阻挡层和漂移层,形成凹槽结构,凹槽结构的底部终止于漂移层;在凹槽结构内依次形成沟道层、势垒层和钝化层的叠层结构,其中所述掩膜层、凹槽、沟道层、势垒层与钝化层在同一腔室中形成,且形成过程中不接触外界空气。采用上述技术方案,可以避免晶圆暴露在空气中,不会在凹槽结构的底部刻蚀界面处引入氧化层,可以降低半导体器件导通电阻,保证半导体器件动态特性良好。
Public/Granted literature
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L29/00 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件(H01L31/00至H01L47/00,H01L51/05优先;除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00;由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00)
H01L29/66 .按半导体器件的类型区分的
H01L29/68 ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的(H01L29/96优先)
H01L29/76 ...单极器件
H01L29/772 ....场效应晶体管
H01L29/778 .....带有二维载流子气沟道的,如HEMT
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