Invention Grant
- Patent Title: 一种半导体器件及其制备方法
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Application No.: CN201610951857.0Application Date: 2016-10-27
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Publication No.: CN106409901BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 吴传佳 , 裴轶
- Applicant: 苏州捷芯威半导体有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号西北区20幢517-B室
- Assignee: 苏州捷芯威半导体有限公司
- Current Assignee: 苏州捷芯威半导体有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号西北区20幢517-B室
- Agency: 北京品源专利代理有限公司
- Agent 孟金喆; 胡彬
- Main IPC: H01L29/778
- IPC: H01L29/778 ; H01L21/335

Abstract:
本发明实施例公开了一种半导体器件及其制备方法,其中,所述半导体器件的制备方法包括:提供一衬底,并在衬底上依次形成漂移层、电流阻挡层和欧姆接触层的叠层结构;在欧姆接触层上形成掩膜层;刻蚀掩膜层形成窗口,窗口的底部露出欧姆接触层;通过窗口刻蚀欧姆接触层、电流阻挡层和漂移层,形成凹槽结构,凹槽结构的底部终止于漂移层;在凹槽结构内依次形成沟道层、势垒层和钝化层的叠层结构,其中所述掩膜层、凹槽、沟道层、势垒层与钝化层在同一腔室中形成,且形成过程中不接触外界空气。采用上述技术方案,可以避免晶圆暴露在空气中,不会在凹槽结构的底部刻蚀界面处引入氧化层,可以降低半导体器件导通电阻,保证半导体器件动态特性良好。
Public/Granted literature
- CN106409901A 一种半导体器件及其制备方法 Public/Granted day:2017-02-15
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IPC分类: