公开(公告)号：CN103969230B

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201410040012.7

申请日：2014-01-27

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 白岩久志 ,  镰田刚史 ,  三岛俊介

IPC: G01N21/64

Abstract: 提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。

公开(公告)号：CN103292978A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310054909.0

申请日：2013-02-20

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 白岩久志 ,  镰田刚史

IPC: G01M11/02

CPC classification number: F21V21/14 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0242 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括：基座部；第1支承部，其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承；第1臂部和第2臂部，其分别连接于基座部的两端，沿着与第1轴平行的方向延伸；一对第2支承部，其设置在第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置，用于支承被测定光源。一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与第1轴垂直的第2轴旋转。第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于基座部装卸自如。

公开(公告)号：CN103969230A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201410040012.7

申请日：2014-01-27

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 白岩久志 ,  镰田刚史 ,  三岛俊介

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明提供一种能够在更短时间内测量荧光体的光学性能的测量装置以及测量方法。测量装置(1)具备：光源(52)，其用于对荧光体照射激励光；受光部(10)，其用于接收激励光中的透过了荧光体的光以及通过激励光而由荧光体产生的荧光；以及检测部(200)，其用于检测由受光部接收到的光。受光部包括：壳体(12)，其在激励光的照射方向上具有规定长度；光漫射部(14)，其被配置在壳体的荧光体一侧；以及窗(18)，其被配置在壳体的与光漫射部相反一侧，用于将所入射的荧光引导到检测部。