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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1883116A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480034305.9
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: H03K5/13
CPC classification number: H03L7/0812 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/0805
Abstract: 本发明的可变延迟电路包括：多段第1可变延迟元件，串联连接，使参考时钟信号或数据信号依次延迟；第2可变延迟元件，并联连接于多段第1可变延迟元件，使参考时钟信号延迟；相位比较器，将通过多段第1可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位，与通过第2可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位进行比较；以及延迟量控制部，根据相位比较器的比较结果，为了使多段第1可变延迟元件所延迟的参考时钟信号的相位，与第2可变延迟元件所延迟的参考时钟信号在特定周期后的相位大致相等，对多段第1可变延迟元件的各延迟量进行控制。
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公开(公告)号：CN100581095C
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200480034306.3
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03L7/0812 , G01R31/31922 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/0805 , H04L1/205 , H04L1/24 , H04L7/0008 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明的一种时钟恢复电路，包括：多级第1可变延迟元件，使数据信号依次延迟第1延迟量；多级第2可变延迟元件，使时钟信号依次延迟大于第1延迟量的第2延迟量；多个定时比较器，根据因同一级第2可变延迟元件而延迟的时钟信号，对因多级第1可变延迟元件而延迟的多个数据信号进行抽样；多个EOR电路，对连续的2个定时比较器的2个抽样结果进行逻辑异或运算；以及恢复可变延迟电路，依据多个EOR电路的运算结果，使时钟信号延迟。
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公开(公告)号：CN100476448C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200480022637.5
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31922 , H03K5/133 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/07 , H03L7/0805 , H03L7/0812 , H03L7/0814 , H03L7/091 , H04L7/00 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明中所述的数据取样装置包含：多数段第1可变延迟元件，其以第1延迟量依次延迟数据信号；多数段第2可变延迟元件，其以大于第1延迟量的第2延迟量依次延迟选通信号；以及多数个时序比较器，其利用由同一段的第2可变延迟元件而延迟的选通信号，对由多数段第1可变延迟元件而延迟的多数个数据信号进行取样；并且，时序比较器具备：动态D-FF电路，其根据选通信号且使用寄生电容锁存数据信号并进行输出，以及正反馈D-FF电路，其根据延迟的选通信号且使用正反馈电路将动态D-FF电路所输出的输出信号锁存并进行输出。
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公开(公告)号：CN1883153A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480034306.3
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03L7/0812 , G01R31/31922 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/0805 , H04L1/205 , H04L1/24 , H04L7/0008 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明的一种时钟恢复电路，包括：多级第1可变延迟元件，使数据信号依次延迟第1延迟量；多级第2可变延迟元件，使时钟信号依次延迟大于第1延迟量的第2延迟量；多个定时比较器，根据因同一级第2可变延迟元件而延迟的时钟信号，对因多级第1可变延迟元件而延迟的多个数据信号进行抽样；多个EOR电路，对连续的2个定时比较器的2个抽样结果进行逻辑异或运算；以及恢复可变延迟电路，依据多个EOR电路的运算结果，使时钟信号延迟。
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公开(公告)号：CN1833175A
公开(公告)日：2006-09-13
申请号：CN200480022637.5
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31922 , H03K5/133 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/07 , H03L7/0805 , H03L7/0812 , H03L7/0814 , H03L7/091 , H04L7/00 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明中所述的数据取样装置包含：多数段第1可变延迟元件，其以第1延迟量依次延迟数据信号；多数段第2可变延迟元件，其以大于第1延迟量的第2延迟量依次延迟选通信号；以及多数个时序比较器，其利用由同一段的第2可变延迟元件而延迟的选通信号，对由多数段第1可变延迟元件而延迟的多数个数据信号进行取样；并且，时序比较器具备：动态D－FF电路，其根据选通信号且使用寄生电容锁存数据信号并进行输出，以及正反馈D－FF电路，其根据延迟的选通信号且使用正反馈电路将动态D－FF电路所输出的输出信号锁存并进行输出。
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