公开(公告)号：LU92740A1

公开(公告)日：2016-12-12

申请号：LU92740

申请日：2015-06-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： GUGEL HILMAR ,  NEUGART FELIX ,  BÖHM INGO

IPC: G02B21/00 ,  G02B5/28

CPC classification number: G02B21/0064 ,  G02B5/28 ,  G02B21/0076

公开(公告)号：DE102004038321B4

公开(公告)日：2022-05-25

申请号：DE102004038321

申请日：2004-08-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BÖHM INGO ,  BIRK HOLGER DR ,  LEIMBACH VOLKER ,  SEIFERT ROLAND

IPC: G02B5/00 ,  G02B5/10 ,  G02B21/00

Abstract: Lichtfalle (1) mit einem Hohlelement (3) zur Aufnahme von unerwünschtem Licht, wobei ein in das Hohlelement (3) mündendes Zuführelement (5) vorgesehen ist, das das unerwünschte Licht in das Hohlelement (3) leitet, dadurch gekennzeichnet, dass das Hohlelement (3) zylinderförmig ausgebildet ist, und dass jede von der Mittelachse des Hohlelements (3) ausgehende gedachte Halbgerade die Innenfläche (7) des Hohlelements (3) und/oder die Innenfläche (9) des Zuführelements (5) schneidet.

公开(公告)号：DE102005059649B4

公开(公告)日：2017-09-07

申请号：DE102005059649

申请日：2005-12-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： HAY WILLIAM C ,  GORSHÖFER ANDREAS ,  BÖHM INGO

IPC: G02B7/00 ,  G02B21/00 ,  G02B27/62

Abstract: Vorrichtung zur Montage von mehreren Lasern (16a, 16b, 16c), dadurch gekennzeichnet, dass an einer Montageplatte (15) mindestens drei Beine (60) montiert sind, die die mehreren Laser (16a, 16b, 16c, 32) von einer Auflage (70) beabstanden, dass die Montageplatte (15) eine Oberseite (15a) und eine Unterseite (15b) ausgebildet hat, wobei die Oberseite (15a) mindestens einen Laser und eine Elektronikeinheit trägt, wobei die Unterseite mindestens einen weiteren Laser und eine Elektronikeinheit trägt, und wobei die Beine derart montiert sind, dass sowohl die Oberseite (15a) als auch die Unterseite (15b) von der Auflage (70) weg weist.

公开(公告)号：LU92740B1

公开(公告)日：2016-12-12

申请号：LU92740

申请日：2015-06-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： GUGEL HILMAR ,  NEUGART FELIX ,  BÖHM INGO

IPC: G02B21/00 ,  G02B5/28

公开(公告)号：DE10356826B4

公开(公告)日：2021-12-02

申请号：DE10356826

申请日：2003-12-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BÖHM INGO ,  KNEBEL WERNER DR ,  ULRICH HEINRICH DR

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00 ,  G02F1/11 ,  G02F1/29

Abstract: Rastermikroskop mit mindestens einer Lichtquelle, die ein Beleuchtungslichtstrahlenbündel erzeugt, mit einem akustooptischen Bauteil zur Einstellung der Lichtleistung des Beleuchtungslichtstrahlenbündels und mit einer Strahlablenkeinrichtung zum Führen des Beleuchtungslichtstrahlenbündels über und/oder durch eine Probe, dadurch gekennzeichnet, dass das akustooptische Bauteil ein Manipulationslichtstrahlenbündel aus dem Beleuchtungslichtstrahlenbündel räumlich abspaltet, und dass Strahlführungsmittel vorgesehen sind, die das Manipulationslichtstrahlenbündel zur Manipulation auf die Probe lenken, und dass das Rastermikroskop ein Objektiv aufweist, das das übrige Beleuchtungslichtstrahlenbündel auf die Probe fokussiert.

公开(公告)号：DE10337345B4

公开(公告)日：2016-12-29

申请号：DE10337345

申请日：2003-08-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BÖHM INGO ,  LEIMBACH VOLKER

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/04 ,  G01J3/36 ,  G02B21/00

Abstract: Vorrichtung zur gleichzeitigen Detektion mehrerer Spektralbereiche eines Lichtstrahls, nämlich zur Detektion des Detektionslichts (1) in einem Konfokalmikroskop, mit einer Lochblende (2), einer Einrichtung zum dispersiven Aufspalten des Lichts und einer Detektoranordnung zur Detektion der unterschiedlichen Spektralbereiche, wobei die Detektoranordnung für die jeweiligen Spektralbereiche Detektoren mit unterschiedlichem Abstand zur Detektionsebene (6) umfasst, wobei die Detektoranordnung Spiegelschieber zum Ablenken des spektral aufgespaltenen und aufgefächerten Strahls zu den jeweiligen Detektoren umfasst und wobei die Fokuslinien der jeweiligen Spektralbereiche auf den Spiegelflächen der Spiegelschieber liegen, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zur Erzeugung eines definierten Farblängsfehlers, so dass unterschiedliche Wellenlängenbereiche in unterschiedlichen Abbildungsebenen die jeweils beste spektrale Auflösung haben, wobei die Größe des Farblängsfehlers an eine vorgegebene Anordnung der Detektoren oder die Anordnung der Detektoren an einen vorgegebenen Farblängsfehler angepasst ist.

公开(公告)号：DE102004054262B4

公开(公告)日：2016-08-18

申请号：DE102004054262

申请日：2004-11-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： RIEDMANN JÜRGEN ,  BÖHM INGO ,  LEIMBACH VOLKER ,  ULRICH HEINRICH DR ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/32

Abstract: Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten, mit einem Mikroskop, mit einer zur Beleuchtung des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs verlaufenden Beleuchtungslichtstrahl (1) erzeugt, der mittels einer Strahlablenkeinrichtung über und/oder durch das Objekt führbar ist, mit einem Detektor zur Detektion des von dem Objekt ausgehenden Lichts, das entlang eines Detektionstrahlengangs verläuft, mit einem Hauptstrahlteiler und mit einer zur Manipulation des Objekts dienenden Lichtquelle, die einen entlang eines Manipulationsstrahlengangs verlaufenden Manipulationslichtstrahl (3) erzeugt, wobei im Beleuchtungsstrahlengang zusätzlich zu der Strahlablenkeinrichtung und dem Hauptstrahlteiler eine Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls (3) vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Einkopplung des Manipulationslichtstrahls (3) als Spiegel (2) mit nachgeschalteter Spreizoptik (4) ausgeführt ist, wobei der Spiegel (2) beabstandet zum Beleuchtungslichtstrahl (1) angeordnet ist und die Spreizoptik (4) derart justierbar ist, dass der Strahlwinkel zwischen Beleuchtungslichtstrahl (1) und Manipulationslichtstrahl (3) veränderbar ist.