Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe umfassend ein Mikroskop

    公开(公告)号:DE102009057304B4

    公开(公告)日:2025-01-23

    申请号:DE102009057304

    申请日:2009-12-07

    Abstract: Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe (30), umfassend ein Mikroskop,mit einer Lichtquelle (22), die einen Beleuchtungslichtstrahl (23) erzeugt, einer Scaneinheit (24), die den über ein Objektiv auf die Probe (30) gelenkten Beleuchtungslichtstrahl (23) ablenkt und dadurch einen Fokusbereich des Beleuchtungslichtstrahls (23) innerhalb eines vorgegebenen Scanfelds auf oder in der Probe (30) bewegt,mit einer ersten Detektoranordnung (38), die zwei oder mehr photosensitive Halbleiterelemente (50) umfasst und die einen von der Probe (30) in Beleuchtungsrichtung ausgehenden und von der Scaneinheit (24) nicht abgelenkten ersten Detektions-Lichtstrahl (40) detektiert und wobei die Vorrichtung gekennzeichnet ist,dass die Vorrichtung mindestens eine zweite Detektoranordnung (36) umfasst, die zwei oder mehr photosensitive Halbleiterelemente (50) umfasst und die einen von der Probe (30) entgegen der Beleuchtungsrichtung ausgehenden und von der Scaneinheit (24) nicht abgelenkten zweiten Detektions-Lichtstrahl (31) detektiert,dass die zwei oder mehr Halbleiterelemente (50) der ersten und der zweiten Detektoranordnung (36, 38) jeweils parallel geschaltet und jeweils über eine gemeinsame Ausgangsleitung mit einer Auswerteeinheit verbunden sind,wobei die Halbleiterelemente (50) jeweils eine Lawinenfotodiode aufweisen, die oberhalb ihrer Durchbruchspannung im Geigermodus betrieben wird.

    Verfahren zur Korrektur von Bildverzeichnungen bei einem konfokalen Scan-Mikroskop

    公开(公告)号:DE102010061612A1

    公开(公告)日:2012-07-05

    申请号:DE102010061612

    申请日:2010-12-29

    Inventor: BIRK HOLGER DR

    Abstract: Zum Ermitteln von Scankoordinatenwerten (&phgr;n, &thetas;n) zum Betreiben einer Scaneinheit (28) eines konfokalen Scanmikroskops (20) werden abhängig von kartesischen Bildkoordinatenwerten (Xn, Yn) von Bildpunkten eines zu erstellenden Bildes (60) einer Probe (32) mit Hilfe einer Koordinatentransformation der kartesischen Bildkoordinatenwerte (Xn, Yn) in ein Kugelkoordinatensystem sphärische Scankoordinatenwerte (&phgr;n, &thetas;n) ermittelt. Die Scaneinheit (28) wird abhängig von den sphärischen Scankoordinatenwerten (&phgr;n, &thetas;n) betrieben.

    Vorrichtung und Verfahren zum Scannen eines Objekts und Mikroskop

    公开(公告)号:DE102010007728A1

    公开(公告)日:2011-09-29

    申请号:DE102010007728

    申请日:2010-02-12

    Abstract: Eine Vorrichtung zum Scannen eines Objekts hat eine Fokussieroptik (30), die einen Beleuchtungslichtstrahl (24) auf einen zu untersuchenden Bereich des Objekts fokussiert. Eine Aktoranordnung ist mit der Fokussieroptik (30) gekoppelt und bewegt die Fokussieroptik (30) gemäß einem vorgegebenen Abtastmuster quer zu einer Mittelachse des Beleuchtungslichtstrahls (24) in einer Referenzposition des Beleuchtungslichtstrahls (24). Ein Frontglas (38) ist in Richtung des Beleuchtungslichtstrahls (24) gesehen nach der Fokussieroptik (30) angeordnet. Ein internes Immersionsmedium (40) ist zwischen der Fokussieroptik (30) und dem Frontglas (38) angeordnet. Zwischen dem Frontglas (38) und dem Objekt kann ein externes Immersionsmedium (48) eingebracht werden.

    Lasersystem für ein Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Lasersystems für ein Mikroskop

    公开(公告)号:DE102009048710B4

    公开(公告)日:2020-04-02

    申请号:DE102009048710

    申请日:2009-10-08

    Abstract: Lasersystem (20) für ein Mikroskop,mit einem Lasermodul (22), das einen Lichtstrahl (24) erzeugt,einer Strahlkorrekturvorrichtung (26), die der Lichtstrahl (24) durchdringt und die eine Abweichung eines Ist-Werts mindestens eines Parameters des Lichtstrahls (24) von einem vorgegebenen Soll-Wert des Parameters korrigiert, wobei die Strahlkorrekturvorrichtung (26) einen Frequenzumsetzer (45) aufweist, mittels dessen eine Frequenz des Lichtstrahls in eine vorgegebene Frequenz umgesetzt wird,einem Lichtleiter (31), in den der korrigierte Lichtstrahl (28) eingekoppelt wird,einem Messelement (34), das dem Lichtleiter (31) nachgeschaltet ist und das einen Ist-Wert der Intensität zumindest eines Teilstrahls (32) des korrigierten Lichtstrahls (28) erfasst,und mit einer äußeren Regeleinrichtung (37), die mit einer Energieversorgung (39) des Lasermoduls (22) und mit dem Messelement (34) gekoppelt ist und die mittels der Energieversorgung (39) den Ist-Wert der Intensität auf einen vorgegebenen Soll-Wert der Intensität regelt.

    Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts

    公开(公告)号:DE10257120B4

    公开(公告)日:2020-01-16

    申请号:DE10257120

    申请日:2002-12-05

    Abstract: Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts (1), mit einer Lichtquelle (2), einem nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Element (8), einer nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Detektionseinrichtung (4), einem von der Lichtquelle (2) bis zum Objekt (1) verlaufenden Beleuchtungsstrahlengang (3), einem vom Objekt (1) zur Detektionseinrichtung (4) verlaufenden Detektionsstrahlengang (5), wobei mit dem spektral selektiven Element (8) Licht der Lichtquelle (2) zur Objektbeleuchtung selektierbar ist, wobei mit dem spektral selektiven Element (8) das am Objekt (1) reflektierte und/oder gestreute selektierte Licht der Lichtquelle (2) aus dem Detektionsstrahlengang (5) ausblendbar ist, wobei zumindest ein Wellenlängenbereich des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts mit der spektral selektiven Detektionseinrichtung (4) detektierbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) eine Beleuchtungsspaltblende (11) vorgesehen und dazu ausgelegt ist, in einem Bereich des Objekts (1) ein linienförmiges Beleuchtungsmuster zu erzeugen, dass im Detektionsstrahlengang (5) eine Detektionsspaltblende (13) vorgesehen und dazu ausgelegt ist, von dem linienförmigen Beleuchtungsmuster in einer Fokalebene herrührendes Licht zu empfangen, um einen konfokalen Spaltscanner bereitzustellen, dass die Spaltlänge und/oder die Spaltbreite der Beleuchtungsspaltblende (11) und/oder der Detektionsspaltblende (13) variabel einstellbar ist, und dass die spektral selektive Detektionseinrichtung (4) Mittel (23) zur spektralen Zerlegung des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts, Mittel (24, 40) zum Selektieren eines ersten Spektralbereichs (25) zur Detektion mit einem ersten Detektor (6) und Mittel (24, 40) zur Reflexion zumindest eines Teils des nicht selektierten Spektralbereichs zur Detektion mit einem zweiten Detektor (7) aufweist.

    9.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE50015213D1

    公开(公告)日:2008-07-31

    申请号:DE50015213

    申请日:2000-11-09

    Abstract: The invention concerns an apparatus for beam deflection, in particular for scanning microscopy, a light beam being deflectable by a mirror arrangement that is alternatingly rotatable by a rotary drive. The apparatus for beam deflection makes possible maximum variability in terms of frequency range and maximally achievable oscillation frequency, and is thus usable in flexible and versatile fashion. It moreover allows almost any desired angular offset from the zero point position to be established, and is characterized in that the rotary drive comprises two mutually independent drive units which rotate the mirror arrangement, together or mutually independently, about a rotation axis.

    10.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DK1186929T3

    公开(公告)日:2006-03-13

    申请号:DK01114039

    申请日:2001-06-08

    Abstract: The arrangement for studying microscopic preparations with a scanning microscope consists of a laser (1) and an objective (12), which focuses the light produced by the laser (1) onto a sample (13) to be studied, an optical waveguide element (3), which transports the light produced by the laser (1), being provided between the laser (1) and the objective (12). The optical waveguide element is constructed from a plurality of micro-optical structure elements which have at least two different optical densities. It is particularly advantageous if the optical waveguide element (3) consists of photonic band gap material and is configured as an optical fiber.

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