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    Device for distributing illumination light and detection light in microscope and its method
    2.
    发明专利
    Device for distributing illumination light and detection light in microscope and its method 审中-公开
    用于分布照明灯的设备和微光检测灯及其方法

    公开(公告)号：JP2013057931A

    公开(公告)日：2013-03-28

    申请号：JP2012178023

    申请日：2012-08-10

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： SCHREIBER FRANK

    IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64

    CPC classification number: G02B21/0032 ,  G02B21/0068 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/16 ,  G02B27/283

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for distributing illumination light and detection light in a microscope, and its method.SOLUTION: The device has a light distribution optical system 12 that guides illumination light 14 to a sample 18 and guides detection light 20 from the sample 18 to at least one of detectors. The light distribution optical system 12 comprises: polarization units 28, 30, and 32 arranged in a first optical path and configured to convert the illumination light 14 directed to the sample 18 into a first polarization state; a beam splitter 34 having such polarization dependability that while the illumination light 14 converted into the first polarization state is guided to the sample 18, a first portion 20a of detection light from the sample 18, which exhibits a first polarization state, is guided so as to return to the first optical path, a second portion 20b of the detection light, which has a second polarization state different from the first polarization state, is guided to a second optical path; and a beam combiner 38 configured to combine the first portion 20a and the second portion 20b of the detection light together and to guide the combined portions to the detector.

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于在显微镜中分配照明光和检测光的装置及其方法。 解决方案：该装置具有将照明光14引导到样品18并将检测光20从样品18引导到至少一个检测器的配光系统12。 光分配光学系统12包括：布置在第一光路中并被配置为将指向样本18的照明光14转换成第一偏振状态的偏振单元28,30和32。 具有这种极化依赖性的分束器34，当将转换成第一偏振态的照明光14引导到样品18时，来自样品18的具有第一偏振态的检测光的第一部分20a被引导为 为了返回到第一光路，具有与第一偏振态不同的第二偏振状态的检测光的第二部分20b被引导到第二光路; 以及组合器38，被配置为将检测光的第一部分20a和第二部分20b组合在一起，并将组合部分引导到检测器。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

    Detecting device for optical device and confocal microscope
    3.
    发明专利
    Detecting device for optical device and confocal microscope 有权
    用于光学器件和共焦显微镜的检测器件

    公开(公告)号：JP2006133781A

    公开(公告)日：2006-05-25

    申请号：JP2005320749

    申请日：2005-11-04

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： SCHREIBER FRANK

    IPC: G02B21/06

    CPC classification number: G02B21/0024

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.
    SOLUTION: The detecting device for an optical device, particularly for the confocal microscope, includes: a detector; an aperture plate (2) disposed within an optical path (1) of a detected light ray so as to be positioned in front of the detector; and a lens (3) disposed in front of the aperture plate (2) and used to focus the detected light ray on the aperture plate (2). A means (4) for illuminating the lens (3) depending on a wavelength is disposed within the optical path (1) so as to be positioned in front of the lens(3).
    COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题：通过使用简单的结构手段，在具有检测装置的检测装置和共聚焦显微镜中实现高分辨率和高检测效率，而不管检测到的不同波长的光线如何。 光学装置的检测装置，特别是用于共聚焦显微镜的检测装置包括：检测器; 设置在检测光线的光路（1）内的孔板（2），以便位于检测器的前面; 以及设置在孔板（2）的前方并用于将检测到的光线聚焦在孔板（2）上的透镜（3）。 用于根据波长照射透镜（3）的装置（4）设置在光路（1）内，以便位于透镜（3）的前方。 版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

    Detector
    4.
    发明专利
    Detector 有权
    探测器

    公开(公告)号：JP2007163448A

    公开(公告)日：2007-06-28

    申请号：JP2006022709

    申请日：2006-01-31

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： VOLKER SEYFRIED ,  SCHREIBER FRANK

    IPC: G01J3/36 ,  G02B7/04 ,  G02B21/00

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To attain, in particular, quick detection by a structurally simple means, in regard to a detector.
    SOLUTION: A focusing means is a microlens array 2 provided with at least one microlens 8, in this detector of the present invention provided with a photoelectric array 1 provided with at least one photoelectric face 9, and arranged with the focusing means for focusing spectral-divided light onto the photoelectric array 1, in a front side of the photoelectric array 1 inside an optical path.
    COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：特别地，关于检测器，通过结构简单的手段来实现快速检测。 解决方案：聚焦装置是设置有至少一个微透镜8的微透镜阵列2，在本发明的该检测器中，设置有设置有至少一个光电面9的光电阵列1，并配置有聚焦装置 将光谱阵列1的光谱阵列1的光谱聚焦在光路阵列1的前侧。 版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

    Detection device
    5.
    发明专利
    Detection device 有权
    检测装置

    公开(公告)号：JP2013040940A

    公开(公告)日：2013-02-28

    申请号：JP2012180131

    申请日：2012-08-15

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： SCHREIBER FRANK ,  WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER

    IPC: G01J1/02 ,  H01L35/30 ,  H01L35/32

    CPC classification number: H01L31/024 ,  H01J40/02 ,  H01J40/16 ,  H01J43/02 ,  H01J43/28

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a detection device.SOLUTION: The detection device is embodied so as to receive light and generate an electric signal, and has a housing, a sensor arranged in the housing and a cooling element arranged in the housing. The cooling element electrically insulates the detector from the housing, or the cooling element is configured to be a part of an insulation body that electrically insulates the detector from the housing.

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种检测装置。 解决方案：检测装置被实施为接收光并产生电信号，并且具有壳体，布置在壳体中的传感器和布置在壳体中的冷却元件。 冷却元件将检测器与壳体电绝缘，或者冷却元件构造成绝缘体的一部分，该绝缘体将检测器与壳体电绝缘。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

    Detection device
    6.
    发明专利
    Detection device 审中-公开
    检测装置

    公开(公告)号：JP2013040939A

    公开(公告)日：2013-02-28

    申请号：JP2012180130

    申请日：2012-08-15

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： SCHREIBER FRANK ,  WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER

    IPC: G01J1/02 ,  H01L35/30

    CPC classification number: H01L31/024 ,  H01J40/02 ,  H01J40/16 ,  H01J43/02 ,  H01J43/28

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a detection device.SOLUTION: The detection device is embodied so as to receive light and generate an electric signal, and has an optical sensor having a light incident surface and a cooling element. The cooling element comes into direct contact with the optical sensor on the light incidence surface of the optical sensor and/or a substrate that carries the optical sensor.

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种检测装置。 解决方案：检测装置被实现为接收光并产生电信号，并且具有具有光入射表面和冷却元件的光学传感器。 冷却元件与光学传感器的光入射表面上的光学传感器和/或承载光学传感器的基板直接接触。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

    Variable light deflecting apparatus
    7.
    发明专利
    Variable light deflecting apparatus 有权
    可变光折射装置

    公开(公告)号：JP2013037359A

    公开(公告)日：2013-02-21

    申请号：JP2012169470

    申请日：2012-07-31

    Applicant: Leica Microsystems Cms Gmbh ,  ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー

    Inventor： SCHREIBER FRANK

    IPC: G02B26/08 ,  B81B7/02

    CPC classification number: G02B21/0076 ,  G01J1/0414 ,  G01J3/021 ,  G02B26/0833

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a variable light deflecting apparatus.SOLUTION: A variable light deflecting apparatus (100) comprises: a micro mechanical mirror system (14) having a plurality of light reflection mirror actuators (18, 20, 22, 34 and 26); and a control unit (32) that changes light deflection by controlling the mirror actuators (18, 20, 22, 24 and 26) to different reflection positions. The variable light deflecting apparatus (100) includes a back reflection mechanism (60) that is systematically adjusted according to the mirror system (14). The back reflection mechanism (60) reflects back the light reflected from a part of the mirror actuators (18, 20, 22, 24 and 26) to the back reflection mechanism (60) aiming at other parts of the mirror actuators (18, 20, 22, 24 and 26).

    Abstract translation: 要解决的问题：提供可变光偏转装置。 解决方案：可变光偏转装置（100）包括：具有多个光反射镜致动器（18,20,22,44和26）的微机械镜系统（14）; 以及通过将反射镜致动器（18,20,22,24,26）控制到不同的反射位置来改变光偏转的控制单元（32）。 可变光偏转装置（100）包括根据反射镜系统（14）系统地调节的背反射机构（60）。 背反射机构60将从反射镜致动器的一部分（18,20,22,24,26）反射的光反射到反射镜驱动器（18,20）的其他部分的背反射机构（60） ，22,24和26）。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

    Detektorvorrichtung
    9.
    发明专利
    Detektorvorrichtung 未知

    公开(公告)号：DE102012107480A1

    公开(公告)日：2013-02-21

    申请号：DE102012107480

    申请日：2012-08-15

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SCHREIBER FRANK ,  WIDZGOWSKI BERND ,  SEYFRIED VOLKER ,  BIRK HOLGER

    IPC: H01L31/024 ,  G01J1/02 ,  G02B21/00 ,  H01L31/0232 ,  H01L31/10

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Detektorvorrichtung, die dazu ausgebildet ist Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Gehäuse und einem in dem Gehäuse angeordneten Detektor, wobei der Detektor einen Lichtsensor aufweist, der dazu ausgebildet ist, Licht zu empfangen und Elektronen freizusetzen. Die Detektorvorrichtung zeichnet sich dadurch aus, dass der Lichtsensor auf einem niedrigeren elektrischen Potentialniveau liegt, als das Gehäuse, und dass der Detektor durch eine elektrisch isolierende Zwischenanordnung in wärmeleitendem Kontakt zu dem Gehäuse steht, wobei innerhalb des Gehäuses die Wärmeleitungsrichtung der Lichtausbreitungsrichtung des zu detektierenden Lichtes entgegengesetzt ist.

    Vorrichtung zum zeitlichen Verschieben von Weißlichtlaserpulsen
    10.
    发明专利
    Vorrichtung zum zeitlichen Verschieben von Weißlichtlaserpulsen 未知

    公开(公告)号：DE102010037190A1

    公开(公告)日：2012-03-01

    申请号：DE102010037190

    申请日：2010-08-27

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SCHREIBER FRANK

    IPC: G01N21/63

    Abstract: Ein Lasermikroskop (10) hat zum Untersuchen einer Probe (16) eine Laserlichtquelle (22), die Laserlichtpulse (23) erzeugt. Ein optisches Element (25) ist im Strahlengang der Laserlichtpulse (23) angeordnet. Das optische Element (25) verbreitert das Wellenlängenspektrum der Laserlichtpulse (23). Unterschiedliche Wellenlängen aufweisende Anteile (46, 48, 60, 62) der breitbandigen Laserlichtpulse (32) legen beim Durchlaufen einer Kompensationsvorrichtung (30) unterschiedliche Weglängen zurück, so dass die unterschiedlichen Anteile (46, 48, 60, 62) zeitgleich auf die Probe (16) treffen.

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