Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for attenuating sound on a light beam path of a microscope and a microscope having a corresponding device.SOLUTION: The device for attenuating sound on a light beam path (1) of a microscope includes a sound-proof casing (casing) (2) for sealing a sound radiation component, preferentially, quickly moving or vibrating beam deflection means, especially, a resonant mirror (3), and the casing (2) includes at least one optical inlet/outlet opening (opening). The casing (2), preferentially, the opening of the casing is formed and/or constituted such that sound to be output from the casing (2) mostly disappears due to offset-like interference without affecting a light beam when this invention is not used. A microscope having the corresponding device is further claimed.
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a high spatial resolution inspection method using a laser scanning fluorescence microscope. SOLUTION: A sample 1 contains a substance transited repeatedly from the first state (Z1, A) to the second state (Z2, B), and the first state is different in at least one optical property from the second state. The method includes steps of: (a) transiting the substance to the first state by a switch signal 2 within a recorded sample area P; (b) inducing the second state by an optical signal 4, and for removing clearly a spatially limited partial area within the recorded sample area P; (c) reading the residual first area (Z1, A1, A2, A3) by a test signal 7; and (d) repeating the steps (a)-(c), and displacing the optical signal 4 in every repetition to scan the sample 1. The steps (a)-(d) are carried out in a sequence adapted to individual measuring situations, in the method. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope of the kind with which interference-free image acquisition is possible and negative impact on the detector is avoided, even in the presence of critical measurement parameters. SOLUTION: The microscope includes at least one illuminating light source, illumination beam path for guiding the illuminating light to a specimen, a detector, and a detection beam path for guiding detected light from the specimen to the detector. In such a microscope, in particular a fluorescence microscope, an activatable element is positioned in the detection beam path (3) for regulating and/or limiting power level in the detection beam path (3). COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
Abstract:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a device for separating a plurality of different emission wavelengths by a simple means. SOLUTION: In the method for separating a plurality of different emission wavelengths in a scanning microscope (6) which is so configured that a specimen (4) is scanned with an illuminating light beam (10) which is guided onto the specimen (4) by a beam deflector and has a plurality of different excitation wavelengths (1, 2, 3), and emission light which is emitted from the specimen (4) and includes a plurality of emission wavelengths corresponding to the excitation wavelengths (1, 2, 3) is detected by at least one detector (5), the plurality of excitation wavelengths (1, 2, 3) are selectively applied to the illuminating light beam (10) during the scanning stage in accordance with a predefinable illumination scheme, and the detector is read out each time an excitation wavelength is applied, and detected signals are associated with the respective excitation wavelengths (1, 2, 3) by using the illumination scheme. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
Abstract:
Disclosed is a light detector (110) for use in a scanning microscope (142), especially a line scanning microscope. Said light detector (110) comprises a linear array (112) of avalanche semiconductor detectors (114) and an electronic control circuit (116) which is designed to operate the avalanche semiconductor detectors (114) in Geiger mode with internal charge gain and/or in a linear mode. The control circuit (116) is equipped with a parallel meter (118) which is designed to read in parallel light pulses that are detected by the avalanche semiconductor detectors (114). Furthermore, the parallel meter (118) is designed to add up the light pulses detected by the avalanche semiconductor detectors (114) during a predefined counting period.
Abstract:
A device for the production of a light beam having several wavelengths, particularly an illuminating light beam for a preferably confocal scan microscope, comprising a beam combining arrangement (1) used to combine laser light beams (19) of different wavelengths, wherein said arrangement combines individual beam combining devices (2), characterized in that the beam combining devices (2) are arranged in a row or according to groups parallel to each other and are respectively configured in order to inject a laser light beam (19) having a wavelength of a defined wavelength range.
Abstract:
The invention relates to a method and a device for illuminating or irradiating a sample (8), or the like, for the purpose of imaging or analysis, particularly for use in a laser microscope (1), preferably in a confocal microscope having a laser light source (2) emitting the illuminating light, the laser light being coupled directly or by means of a glass fiber into an illumination light path (4), characterized in that the laser light source (2) is switched on rapidly upon a trigger signal directly prior to the actual need, for example, directly prior to imaging.
Abstract:
Detektorvorrichtung, die dazu ausgebildet ist Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Gehäuse und einem in dem Gehäuse angeordneten Detektor, wobei der Detektor einen Lichtsensor aufweist, der dazu ausgebildet ist, Licht zu empfangen und Elektronen freizusetzen, und der auf einem niedrigeren elektrischen Potentialniveau liegt, als das Gehäuse, wobei der Detektor durch eine elektrisch isolierende Zwischenanordnung in wärmeleitendem Kontakt zu dem Gehäuse steht, und wobei innerhalb des Gehäuses die Wärmeleitungsrichtung der Lichtausbreitungsrichtung des zu detektierenden Lichtes entgegengesetzt ist, dadurch gekennzeichnet, dass die von dem Lichtsensor freigesetzten Elektronen innerhalb des Detektors frei fliegend mittels ausschließlich einer einzigen Beschleunigungsstufe über eine Beschleunigungsstrecke beschleunigt werden.
Abstract:
Beschrieben ist eine Einrichtung (10) zum Beleuchten einer Probe (40), mit mindestens einer Pulslaserlichtquelle (12) zum wiederholten Aussenden eines ersten Laserimpulses längs eines ersten Lichtwegs (14) und eines zweiten Laserimpulses längs eines von dem ersten Lichtweg räumlich getrennten zweiten Lichtwegs (16), einem Überlagerungselement (32) zur kollinearen Überlagerung der beiden Laserimpulse in einem gemeinsamen Lichtweg (34), einer in dem ersten oder dem zweiten Lichtweg (14, 16) angeordneten Verzögerungsstufe (26) zum Verzögern eines der beiden Laserimpulse relativ zu dem anderen Laserimpuls derart, dass die beiden längs des gemeinsamen Lichtwegs (34) auf die Probe (40) gesendeten Laserimpulse eine zeitliche Überlagerung aufweisen, einer in dem gemeinsamen Lichtweg (34) angeordneten gemeinsamen Chirp-Einheit (36) zur frequenzverändernden Beeinflussung sowohl des ersten Laserimpulses als auch des zweiten Laserimpulses; und mindestens einer in dem ersten Lichtweg (14) angeordneten separaten Chirp-Einheit (18) zur frequenzverändernden Beeinflussung allein des ersten Laserimpulses. Die gemeinsame Chirp-Einheit (36) und die separate Chirp-Einheit (18) sind zur Erzielung eines Sollzustands aufeinander abgestimmt. Die separate Chirp-Einheit (18) ist mit einer Steuerung (20) gekoppelt, durch welche die separate Chirp-Einheit (18) mit einem von der Wellenlänge des ersten Laserimpulses abhängigen Steuerparameter zum Einstellen des Sollzustand ansteuerbar ist.
Abstract:
Eine Vorrichtung zur Dämmung von Schall im optischen Strahlengang (1) eines Mikroskops, mit einem Schallschutzgehäuse (Gehäuse) (2) zum Kapseln eines Schall emittierenden Bauteils, vorzugsweise eines sich schnell bewegenden bzw. oszillierenden Strahlablenkmittels, insbesondere eines resonant schwingenden Spiegels (3), wobei das Gehäuse (2) mindestens eine optische Ein-/Austrittsöffnung (Öffnung) aufweist, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (2), vorzugsweise die Öffnung des Gehäuses, derart ausgebildet und/oder ausgestattet ist, dass der ansonsten aus dem Gehäuse (2) austretende Schall durch destruktive Interferenz weitgehend ausgelöscht ist, ohne dabei den optischen Strahl zu beeinflussen. Des Weiteren ist ein Mikroskop mit einer entsprechenden Vorrichtung beansprucht.