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公开(公告)号：CN114096816B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202080050617.8
申请日：2020-07-30
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 一种镜夹(30)，具体地说用于光学发射光谱仪的光学镜壳的镜夹，包括：包括镜座部分的主体(31)、用于将所述镜夹定位并附接到光学镜壳的至少一个铰链构件(33)，以及用于将所述镜夹可拆卸地固定到所述光学镜壳的至少一个夹持构件(38)。镜子(40)可容纳在所述镜座部分中。所述至少一个铰链构件(33)可包括卡钩以在所述镜夹与所述光学镜壳之间提供可释放的铰链连接。
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公开(公告)号：CN116067493B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202310175794.4
申请日：2023-02-28
Applicant: 江苏第三代半导体研究院有限公司
Inventor： 周梦凡
Abstract: 本发明公开了一种基于角度分辨的量子效率测试方法及测试系统，测试方法，包括：调节发光器件与光子采集构件之间的相对位置，以使光子采集构件按照预设分辨角度，采集以收集角为顶角的步进形成的相对单位体积内的光子数；其中，收集角为以发光器件为圆心，以光子采集构件中物镜的有效直径为弦长的弦所对应的圆心角；每次采集中，发光器件与光子采集构件之间的距离保持不变；根据全部单位体积内的光子数，得到发光器件的实际发射光子数；通过点亮发光器件获取发光器件的注入的采集区域的总载流子数；基于实际发射光子数和采集区域的总载流子数获得发光器件的量子效率。提高了对发光器件的量子效率测试的准确性。
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公开(公告)号：CN117968845A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410124276.4
申请日：2024-01-26
Applicant: 杭州谱育科技发展有限公司
Abstract: 本发明提供了一种光传递装置及光谱仪，涉及光谱分析设备技术领域。该光传递装置包括中阶梯光栅、第一反射光路组件和第二反射光路组件。中阶梯光栅上开设有多个连续的凹槽；凹槽的至少一个内侧壁形成反射面，反射面用于反射轴向光和径向光以使轴向光和径向光能投射至检测器。第一反射光路组件用于将轴向光沿第一预设方向反射至反射面。第二反射光路组件用于将径向光沿第二预设方向反射至反射面。轴向光沿第一预设方向投射在反射面上形成的入射角小于径向光沿第二预设方向投射在反射面上形成的入射角。本发明提供的光谱仪采用了上述的光传递装置。本发明提供的光传递装置及光谱仪可以改善紫外波段的反射率不能达到理想要求的技术问题。
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公开(公告)号：CN113847987B
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202111355594.4
申请日：2021-11-16
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种红外和可见光集成宽光谱荧光测量方法，包括以下步骤：半导体激光光源经过多模光纤耦合输出激光信号，所述激光信号依次经过长焦距的双胶合消色差透镜和短焦距的双胶合消色差透镜后，所述激光信号的光斑汇聚为一点；将CrErTm:GGG晶体放在温控台上保持恒定温度，调节CrErTm:GGG晶体的位置，使CrErTm:GGG晶体位于光斑汇聚点；使用平凸透镜收集红外荧光，经滤波片过滤掉泵浦光后进入傅里叶变换红外光谱仪测量中红外荧光；以及同时，在垂直光路方向将可见光光谱仪的光纤探头对准CrErTm:GGG晶体，收集可见荧光，耦合进入可见光谱仪测量可见荧光。本发明实现了红外和
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公开(公告)号：CN116457642A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202180075003.X
申请日：2021-11-05
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
IPC: G01J3/443
Abstract: 波长测定装置具备：分光单元(3)，对测定对象物(100)中包含的多个发光元件芯片(101)被激发而发出的光进行分光；受光单元(5)，具有多个像素(51)，该多个像素分多个区域地接收从各发光元件芯片的各发光面发出并被分光后的光；分离单元(6)，按照每个发光元件芯片(101)将基于受光结果而得到的测定数据分离；以及运算单元(6)，按照分离后的每个发光元件芯片(101)，根据针对发光面内的多个区域的每个波长的测定数据来运算代表波长。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111630373B
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN201880087284.9
申请日：2018-10-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 分光测定装置(1)具备：光源(2)，其输出激发光；积分器(3)，其具有供长余辉发光材料(S)配置的内部空间(11)，自内部空间(11)输出检测光；分光检测器(4)，其取得检测光的光谱数据；解析部(21)，其基于光谱数据对长余辉发光材料(S)的发光量子产率进行解析；及控制部(22)，其控制激发光向内部空间(11)的输入的有无的切换及分光检测器(4)中的曝光时间；控制部(22)以在第1期间(T1)维持向内部空间(11)输入激发光且在第2期间(T2)停止向内部空间(11)输入激发光的方式控制光源(2)，并以第2期间(T2)内的曝光时间(t2)长于第1期间(T1)内的曝光时间(t1)的方式控制分光检测器(4)。
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公开(公告)号：CN113447243B
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202010453841.3
申请日：2020-05-26
Applicant: 重庆康佳光电技术研究院有限公司
IPC: G01M11/02 , G01J1/02 , G01J1/08 , G01J1/16 , G01J3/443 , G01J3/02 , G01J3/28 , H01L21/67 , H01L21/66
Abstract: 本发明涉及一种终点检测装置、蚀刻设备及检测方法。所述终点检测装置包括：石英件、第一滤光片、第二滤光片以及光检测模块，本发明提供的终点检测装置通过设置分别用于加工产生的光和检测光源发出的光通过的第一滤光片和第二滤光片，以及用于检测通过所述第一滤光片和所述第二滤光片的光的强度的光检测模块，能够实现加工过程中的终点检测功能，同时能够通过检测通过第二滤光片的光的强度是否与检测光源发出的光的强度一致来实现自检。
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公开(公告)号：CN115077701A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202210695853.6
申请日：2022-06-20
Applicant: 四川大学 , 西安航天动力试验技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种一维瞬态成像光谱的测量方法，利用高精度光学平面反射镜、高精度光学凹面镀膜反射镜、多通道示波器、光谱仪和ICCD相机、电子传感器以及多通道数字延时脉冲发生器，将一维分布的光信号经过准直、空间转向和特定比例压缩后，传输到一探测器的空间阵列上，并保证被测光信号空间分布与探测器空间分布满足一一对应关系，从而通过单次探测即可获得光源不同空间的瞬态辐射光谱信息。本发明实用性和功能性强，可广泛应用于光谱测量技术领域。
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公开(公告)号：CN113639867B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202110916049.1
申请日：2021-08-11
Applicant: 吉林大学
IPC: G01J3/443 , G01J3/28 , G01N21/359 , G06F17/15 , G06F17/18
Abstract: 本发明涉及一种高温目标短波红外方向光谱发射率及温度实验观测方法，包括暗室条件下标准漫反射板光谱辐射亮度角度观测，高温目标发射及反射、发射混合光谱辐射亮度角度交替观测，高温目标二向性反射率因子计算，二向性反射分布函数的拟合，光谱方向‑半球反射率计算，获取法向光谱发射率；暗室条件下法向、角度快速交替观测辐射亮度高温目标，高温目标方向辐射亮度比的计算，方向辐射亮度比分布函数的拟合，高温目标发射率观测天顶角分布函数，温度反演并消减误差；本发明借助方向发射辐射亮度比观测法获取方向发射率与法向发射率比值并获得高温状态下目标物发射率观测天顶角分布函数，从而获取任意观测角度光谱发射率。
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公开(公告)号：CN113675067A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110496473.5
申请日：2021-05-07
Applicant: 东京毅力科创株式会社
IPC: H01J37/32 , H01J37/244 , G01J3/443 , G01J3/02
Abstract: 本发明提供一种减少发射光谱分析的机械误差的校准方法和校准系统。提供的校准方法包括以下工序：在基准装置内配置具有给定的波长带的LED光源；使从所配置的所述LED光源输出的光量发生变化，并获取被阶段性地进行了调整的光量中的每个波长的发光强度即第一数据；将所述第一数据存储到存储器中；将所述LED光源配置于校准对象装置；使从所配置的所述LED光源输出的光量发生变化，并获取被阶段性地进行了调整的光量中的每个波长的发光强度即第二数据；以及基于所述第二数据和所述存储器中存储的所述第一数据来计算校准式。
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