반도체 메모리장치의 멀티 비트 테스트방법 및 테스트 회로
    95.
    发明公开
    반도체 메모리장치의 멀티 비트 테스트방법 및 테스트 회로 失效
    半导体存储器件的多位测试方法和测试电路

    公开(公告)号:KR1019960039013A

    公开(公告)日:1996-11-21

    申请号:KR1019950009638

    申请日:1995-04-24

    Inventor: 최명찬 박철우

    Abstract: 본 발명은 반도체 메모리장치의 멀티 비트 테스트회로 및 테스트방법에 관한 것으로서, 테스트 모든 인에시블신호를 입력하기 위한 제1 입력단자; 제1 입력단자에 인가되는 테스트 모드 인에이블신호를 발생하는 제1 입력회로부; 테스트 모드 선택신호를 입력하기 위한 제2 입력단자; 제1 입력발생부의 내부 테스트 모드 인에이블신호에 응답하여 상기 제2 입력단자에 인가되는 테스트 모드 선택신호를 입력하여 내부 테스트 모두 선택신호를 발생하는 제2 입력회로부; 제2 입력회로부에서 출력되는 내부 테스트 모드 선택신호에 응답하여 복수의 데이터 비트값이 모두 같은지 다른지를 비교하는 비트비교부; 멀티비트 테스트 모드에서 리드 데아타 전송신호에 응답하여 상기 비트비교부의 출력에 래치하는 래치부; 내부 테스트 모드 선택신호 및 래치부의 출력에 응답하여 데이타 버스를 데이타 입출력라인에 접속하기 위한 버스제어부를 구비한 것을 특징으로 한다.
    따라서, 본 발명에서는 멀티 비트 테스트시에 통합된 비트들 중 특정의 비트를 테스트할 수 있다.

    에러 알림 기능이 있는 메모리 장치

    公开(公告)号:KR102210327B1

    公开(公告)日:2021-02-01

    申请号:KR1020140109040

    申请日:2014-08-21

    Abstract: 본발명은에러알림기능이있는메모리장치에대하여개시된다. 메모리장치는메모리셀 어레이의메모리셀들에대하여 ECC 동작을수행하여에러비트를검출및 정정하는 ECC 엔진과, ECC 동작에따라에러신호를출력하는에러알림부를포함한다. ECC 엔진은 ECC 동작으로에러정정된에러비트에상응하는에러어드레스를출력하고, 에러비트를검출하고정정할때마다 ECC 플래그신호를출력한다. 에러알림부는에러어드레스와기존의불량셀 정보를비교하고, 비교결과일치하지않는경우에러신호를출력한다. 에러알림부는카운트되는 ECC 플래그신호로부터생성되는 ECC 동작회수가 ECC 동작최대치를초과하는경우에러신호를출력하고, 에러모니터링시간동안의 ECC 동작회수를출력한다.

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