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101.发明授权ＳｏＣ 코아로직의 천이 지연 고장 테스트를 지원하는ＩＥＥＥ 1500 래퍼 셀 및 이를 이용한 테스트 방법 失效用于支持SoC核心逻辑的转换延迟故障的IEEE 1500封装单元以及使用封装单元的测试方法
公开(公告)号：KR100851524B1
公开(公告)日：2008-08-11
申请号：KR1020060137404
申请日：2006-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: G01R31/28
Abstract: 본 발명은 SoC 코아로직의 천이 지연 고장을 테스트하기 위하여 코아로직의 입력 또는 출력 포트에 연결되는 래퍼 셀에 있어서,제1 멀티플렉서와, 상기 제1 멀티플렉서로부터 출력된 데이터를 입력받아, 후속하여 연결된 다른 래퍼 셀의 제1 멀티플렉서로 출력하는 제1 플립플롭과, 상기 제1 플립플롭의 출력과 CFI(Core Function Input) 데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 제2 멀티플렉서와, 상기 제2 멀티플렉서로부터 출력된 데이터를 입력받아 출력하는 제2 플립플롭 및 상기 제2 플립플롭의 출력과 상기 CFI 데이터 중 어느 하나를 선택하여 CFO(Core Function Output) 데이터로 출력하는 제3 멀티플렉서를 포함하되, 상기 제1 멀티플렉서는 상기 제2 플립플롭의 출력과 CTI(Core Test Input) 데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 SoC 코아로직의 천이 지연 고장 테스트용 레퍼 셀을 제공한다.
SoC, 코아로직, 래퍼 셀, 천이 지연 고장, 테스트-
102.发明公开ＳｏＣ 코아로직의 천이 지연 고장 테스트를 지원하는ＩＥＥＥ 1500 래퍼 셀 및 이를 이용한 테스트 방법 失效用于支持SOC核心逻辑的转换延迟故障的IEEE 1500 WRAPPER CELL和使用封装单元的测试方法
公开(公告)号：KR1020080062082A
公开(公告)日：2008-07-03
申请号：KR1020060137404
申请日：2006-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31725 , G01R31/318552 , G06F15/7807
Abstract: An IEEE 1500 wrapper cell for supporting a transition delay fault test of an SOC(System On Chip) core logic and a test method using the same are provided to efficiently perform a transition delay fault test in a small overhead area within a short test time by controlling the IEEE 1500 wrapper cell by an IEEE 1149.1 TAP controller. An IEEE 1500 wrapper cell for supporting a transition delay fault test of an SOC core logic includes a first flip-flop(FF1), a second flip-flop(FF2), a first multiplexer(M1), a second multiplexer(M2), and a third multiplexer(M3). The wrapper cell is coupled to input and output ports of the SOC core logic. The first multiplexer selects one of CTI(Core Test Input) data and the data of the second flip-flop. The second multiplexer selects one of CFI(Core Function Input) data and the data of the first flip-flop. The third multiplexer selects one of a CFI signal and the data of the second flip-flop. The first flip-flop receives the data from the first multiplexer, and outputs the data to a first multiplexer of another wrapper cell and the second multiplexer. The second flip-flop receives the data from the second multiplexer, and outputs the data to the third and first multiplexers.
Abstract translation: 提供用于支持SOC（片上系统）核心逻辑的转换延迟故障测试的IEEE 1500封装单元和使用其的测试方法，以在短的测试时间内在小的开销区域中有效地执行转换延迟故障测试， 通过IEEE 1149.1 TAP控制器控制IEEE 1500封装单元。 用于支持SOC核心逻辑的转换延迟故障测试的IEEE 1500封装单元包括第一触发器（FF1），第二触发器（FF2），第一多路复用器（M1），第二多路复用器（M2） 和第三多路复用器（M3）。 封装单元耦合到SOC核心逻辑的输入和输出端口。 第一个复用器选择CTI（核心测试输入）数据和第二个触发器的数据之一。 第二个复用器选择CFI（核心功能输入）数据和第一个触发器的数据之一。 第三复用器选择CFI信号和第二触发器的数据中的一个。 第一触发器接收来自第一多路复用器的数据，并将数据输出到另一包装单元和第二多路复用器的第一多路复用器。 第二触发器从第二多路复用器接收数据，并将数据输出到第三和第一多路复用器。
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公开(公告)号：KR100757264B1
公开(公告)日：2007-09-11
申请号：KR1020050133448
申请日：2005-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31725 , G01R31/31855
Abstract: 본 발명은 IIEEE 1491.1 규격을 사용하여 경계 스캔 셀(Boundary Scan Cell, BSC) 사이의 연결선 지연 고장(IDFT)을 테스트하는 제어 신호를 발생하는 연결선 지연 고장 테스트 제어기로서, IEEE 1491.1 규격의 데이터 레지스터 쉬프트 신호(ShiftDR)와 데이터 레지스터 갱신 신호(UpdateDR)와 데이터 레지스터 클럭 신호(ClockDR)를 입력받는 신호 입력부와, 상기 신호 입력부에서 입력받은 상기 신호들에 대해서 시스템 클럭(SysCLK)을 기초로 상기 경계 스캔 셀 내에서 1 시스템 클럭 구간 내에서 갱신(Update)과 캡쳐(Capture)가 수행되도록 갱신 신호(UpDR)와 캡쳐 신호(CapDR)를 생성하는 신호 생성부를 포함하는 연결선 지연 고장 테스트 제어기에 관한 것이다.
본 발명에 따르면, IEEE 1149.1 기반의 보드 상의 연결선 뿐만 아니라, SoC내의 IEEE P1500 랩드(Wrapped) 코어 사이의 연결선 지연 고장 테스트를 1 시스템 클럭 또는 코어 클럭 구간 내에서 갱신과 캡쳐를 수행하도록 구성할 수 있으며, 또한 시스템 클럭 또는 코어 클럭이 다수개 있는 경우에도 각 시스템 클럭 또는 코어 클럭에 대응하여 한 번의 테스트 사이클에 서로 다른 시스템 클럭 또는 코어 클럭을 사용하는 여러 연결선의 지연 고장 테스트를 동시에 수행할 수 있다.
IEEE 1149.1, JTAG, IEEE P1500, 연결선 지연 고장 테스트(IDFT), 갱신, 캡 쳐, 코어, 데이터 레지스터 쉬프트 신호(ShiftDR), 데이터 레지스터 갱신 신호(UpdateDR), 데이터 레지스터 클럭 신호(ClockDR), 시스템 클럭(SysCLK), 코어 클럭(CoreCLK)-
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公开(公告)号：KR101878081B1
公开(公告)日：2018-07-12
申请号：KR1020160182911
申请日：2016-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: A61C9/00
Abstract: 본발명의일실시예에따른스캐너장치는, 측정물체상에광을조사하는광원, 상기측정물체에반사된광을수광하는광학계, 상기광학계에의해수광된반사광에의해상기측정물체단면을촬영하는카메라및 상기광학계에포함된액체렌즈의초점조절을 AC 펄스를통해제어하는뎁스제어부및 상기카메라를제어하며, 상기뎁스제어부에상기측정물체에관한포커싱간격설정값을제어하는메인제어부를포함한다. 본발명의일실시예에따르면, 3D 스캐너장치에있어서, 초점조절을무구동광학계를적용함으로써무구동에따른진동및 소음의저감을위한스캐너장치의내구성및 작동신뢰성을효과적으로확보할수 있는효과가있다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101845139B1
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：KR1020150188463
申请日：2015-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: H01L31/107 , H01L31/02 , H01L31/0392 , H01L31/18
CPC classification number: H01L31/035227 , H01L27/0248 , H01L27/1443 , H01L31/022408 , H01L31/028 , H01L31/107 , H01L31/1804 , H01L31/1864
Abstract: 본발명은실리콘(Si)으로형성되는제1 실리콘나노와이어, 상기제1 실리콘나노와이어의일면에, 제1 도펀트가도핑되어형성되는제1 도전성영역, 및상기제1 실리콘나노와이어의일면에, 상기제1 도전성영역으로부터길이방향으로연속하도록, 상기제1 도펀트와상이한도전형을갖는제2 도펀트가도핑되어형성되는제2 도전성영역을포함하며, 상기제1 실리콘나노와이어는양단에인가되는역전압의크기가기설정된항복전압이상인경우, 외부로부터의광 입사에의한내부전류의애벌런치증배가발생하는발생하는실리콘나노와이어를이용한애벌런치포토다이오드를제공한다.
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公开(公告)号：KR1020170130178A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：KR1020160060908
申请日：2016-05-18
Applicant: 전자부품연구원
IPC: G06F17/30
CPC classification number: G06F17/30 , G06F17/40 , G06F17/30545 , G06F17/30194 , G06F17/30318 , G06F17/30595
Abstract: 분산환경기반빅데이터실시간분석을위한인-메모리 DB 연결지원형스케줄링방법및 시스템이제공된다. 본발명의실시예에따른데이터처리방법은, 분산시스템을이용하여분산환경기반으로데이터를분석하고, 분산환경을기초로분산시스템을구성하는분산 DB의구조를동적으로변경한다. 이에의해, 샤드들의개수를동적으로관리하여분산환경에적응적으로동시성확보가가능해지고, TMO 기반의스케줄링을통해실시간성확보가가능하여, 궁극적으로빅데이터분석속도/효율을향상시킬수 있게된다.
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公开(公告)号：KR1020170078188A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：KR1020150188468
申请日：2015-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: H01L27/146 , H01L29/06
CPC classification number: H04N5/374 , H01L27/14607 , H01L27/1461 , H01L27/14689 , H01L29/4916 , H01L31/022408 , H01L31/035227
Abstract: 본발명의나노와이어를이용한이미지센서는기판, 입사광을감지하여입사광의세기에따라크기가변화하는광전류를생성하는광검출소자, 광전류의발생여부및 크기에기초하여, 입사광의발생여부및 세기정보를포함하는광검출전류를출력하는신호처리모듈및 광검출소자와신호처리모듈을전기적으로연결하며, 광검출소자와신호처리모듈상에형성되는전극을포함하며, 광검출소자와상기신호처리모듈은동일한기판상에형성되며, 광검출소자는적어도하나이상의실리콘나노와이어로형성된다.
Abstract translation: 使用本发明的纳米线的图像传感器包括基板，检测入射光和光学检测的基础上，以产生一光电流，其大小是根据入射光强度chulsoja改变时，如果产生的光电流和大小，发生和强度信息入射光 和电连接所述光检测信号处理，用于输出当前的模块和光学检测chulsoja以及信号处理模块，包括，它包括一个在光学检测chulsoja以及信号处理模块，所述光学检测chulsoja和信号处理模块形成的电极是在同一基板 并且光电探测器由至少一个硅纳米线形成。
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公开(公告)号：KR1020170078187A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：KR1020150188463
申请日：2015-12-29
Applicant: 전자부품연구원
IPC: H01L31/107 , H01L31/02 , H01L31/0392 , H01L31/18
CPC classification number: H01L31/035227 , H01L27/0248 , H01L27/1443 , H01L31/022408 , H01L31/028 , H01L31/107 , H01L31/1804 , H01L31/1864
Abstract: 본발명은실리콘(Si)으로형성되는제1 실리콘나노와이어, 상기제1 실리콘나노와이어의일면에, 제1 도펀트가도핑되어형성되는제1 도전성영역, 및상기제1 실리콘나노와이어의일면에, 상기제1 도전성영역으로부터길이방향으로연속하도록, 상기제1 도펀트와상이한도전형을갖는제2 도펀트가도핑되어형성되는제2 도전성영역을포함하며, 상기제1 실리콘나노와이어는양단에인가되는역전압의크기가기설정된항복전압이상인경우, 외부로부터의광 입사에의한내부전류의애벌런치증배가발생하는발생하는실리콘나노와이어를이용한애벌런치포토다이오드를제공한다.
Abstract translation: 如权利要求1所述的发明中，硅纳米线，第一硅纳米线的一个表面上，在所述第一掺杂剂被掺杂形式的第一导电区域，与所述第一硅纳米线的一个表面上的硅（Si）形成， 以及第二导电区域，其掺杂有导电性不同于所述第一掺杂物的第二掺杂物，以从所述第一导电区域沿纵向连续， 提供了使用硅纳米线的雪崩光电二极管，其中当电压大于预定击穿电压时，内部电流的雪崩倍增是由来自外部的光入射引起的。
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公开(公告)号：KR101596326B1
公开(公告)日：2016-02-23
申请号：KR1020140191241
申请日：2014-12-28
Applicant: 전자부품연구원
CPC classification number: H04W48/18 , H04W64/00 , H04W74/004 , H04W88/06
Abstract: 다중무선접속망을이용한 VDI 클라이언트액세스방법이제공된다. 본발명의실시예에따른무선단말은, 수행하는작업의종류및 현재위치중 적어도하나를고려하여, 제1 무선통신방식으로네트워크에접속하는제1 통신모듈과제2 무선통신방식으로네트워크에접속하는제2 통신모듈중 어느하나를선택하여네트워크에접속한다. 이에의해, 최선의무선접속으로최적의서비스를제공받을수 있게된다.
Abstract translation: 提供了使用多个无线接入网络的VDI客户端接入方法。 根据本发明的一个实施例，无线终端通过在第一无线通信方法中连接到网络的第一通信模块和要连接到网络的第二通信模块之间选择一个而连接到网络 考虑到执行的操作的类型和当前位置之间的至少一个，第二无线通信方法。 因此，用户可以通过最佳无线连接接收最佳服务。
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