公开(公告)号：KR100170195B1

公开(公告)日：1999-05-01

申请号：KR1019950049257

申请日：1995-12-13

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 박상호 ,  심재기 ,  이윤학 ,  정명영 ,  최태구

IPC: G02B6/10

Abstract: 본 발명은 광통신에 사용되는 수동부품을 별도의 기판위에 도파로를 형성하여 광신호의 흐름을 구성하고 광회로를 구현하는 유리막을 용이하게 형성하기 위한 실리카 미립자의 저온 고밀화 공정 및 그 장치에 관한 것으로 통상 화염가수분해법은 광섬유의 제조법인 VAD법에서 파생된 방법으로 상압, 고온의 토치내에 원료를 반응시켜 산화물 미립자를 형성하여 열처리로 고밀화된 유리막을 얻는 방법으로서 종래의 방법은 화염온도가 1200∼1250℃의 고온토치반응이라는 점과 미립자의 녹임공정온도가 1250∼1380℃로 높은 이유 때문에 발생하는 복굴절, 균열등의 문제가 완전히 배제되지 못하며 또한 동일한 고밀화 공정온도에서 점도의 조절이 용이하지 않아 오버 클래드막 증착후 평탄성이 열악한 문제가 있었다.
이와 같은 문제점을 해소하기 위하여 안출된 본 발명은 양질의 유리막을 형성하여 광부품의 손실을 근본적으로 개선하고 향후 광통신에서 사용될 각종 광부품의 질적향상을 위하여 고밀화 공정 최적화를 위한 공정방법 및 시스템으로서 실리콘기판과 유리막의 열팽창 계수의 차이에 따른 복굴절, 균열등의 문제를 해소하고 실리콘, 석영등의 기판위에 광회로를 구성하여 극저손실의 광수동부품을 제조할 수 있도록 FHD(화염 가수분해 증착)법을 이용하여 실리콘 기판위에 저손실의 실리카 도파로를 제조하기 위한 입자상의 실리카를 용융, 균일화하는 것이다.
본 발명은 저온화염으로 형성된 실리카 미립자의 고밀화를 기존의 방법보다 저온에서 공정하여 복굴절, 균열등의 문제를 감소시켜 FHD방법에서 가장 문제시 되는 기판의 크기를 증가시킬 수 있고, 또한 기존의 수평형으로 사용되던 고밀화 전기로를 수직형으로 설계하여 고온에서 석영 튜브의 휨현상을 제거 하였으며 좁은 가열 영역에서도 대량의 기판을 공정할 수 있게 함을 특징으로 하는 것임.

公开(公告)号：KR100170194B1

公开(公告)日：1999-05-01

申请号：KR1019950050103

申请日：1995-12-14

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 이윤학 ,  심재기 ,  박상호 ,  정명영 ,  최태구

IPC: G02B6/00

Abstract: 본 발명은 광통신에 사용되는 수동부품을 별도의 기판위에 도파로를 형성하여 광신호의 흐름을 구성하고 광회로를 구현하기 위한 저온화염가수분해증착장치의 반응토치에 관한 것으로 종래의 FHD 방법은 첫째 기판과 화염이 직접 접촉하는 공정으로 상온의 기판에 일부분을 접촉하기 때문에 열분포의 불균형이 발생할 수 있고, 둘째, 화염의 온도가 산화물 미립자의 녹는 온도와 유사하여 토치에 구성되어 있는 석영관내부에 유리녹음현상이 발생되어 공기중의 이물질과 접촉하여 미립자 증착층에 치명적인 오염을 유발시키는 문제점이 있었다.
본 발명은 종래의 FHD 방법에서 발생되는 손실문제를 근본적으로 개선하고, 향후 광통신망에서 사용될 도파로형 광수동부품의 질적향상을 위한 것으로 도파로형 광부품을 제조하기 위한 FHD 반응시스템에서 화염을 일으키며 화염의 형성점과 종방향의 균일한 성막을 위하여 앵글회전과 상하좌우 이동이 가능하도록 Step Moter에 의해 구동되며 석영관을 정밀 가공된 테프론 홀더블럭에 구성하여 오염여부나 동축형성의 불일치를 실시간에 보수 및 보정하도록 하고, 반응가스의 정밀한 제어와 더불어 중요한 역할을 하며, 원료의 반응온도를 낮추는 기능을 갖도록 한 No Shield 구조로 구성된 저온 화염가수분해증착장치의 반응토치에 관한 것임.

公开(公告)号：KR1019980016218A

公开(公告)日：1998-05-25

申请号：KR1019960035750

申请日：1996-08-27

Applicant: 한국전자통신연구원 ,  주식회사 케이티

Inventor： 정명영 ,  박상호 ,  전오곤 ,  안승호 ,  최태구 ,  김학석

IPC: G02B6/42

Abstract: 본 발명은 광가입자망 구축시 반복적인 접속 및 분리가 요구되는 광선로에 있어서, 리본형 광케이블의 일단에 부설되어 낮은 손실로 광신호들을 동시에 전달시키거나 단락시키기 위한 다심 광커넥터에 관한 것으로, 양측에는 플러그(20)가 삽입되는 개구(12)가 구비되고, 중앙에는 길이방향으로 관통공이 천설되며, 그 양측 상하면 중앙부에는 결합공(11)이 형성된 어댑터(10)와; 중앙에는 광섬유가 삽입되는 관통공이 형성되며, 그 일단의 상하부에는 상기한 어댑터(10)의 결합공(11)에 삽입되어 플러그(20)를 상기한 어댑터(10)에 체결시키기 위한 걸림턱(24)이 부설된 결합보(23)가 구비되고, 그 외부에는 플러그 몸체를 수용하는 플러그 하우징(21)이 부설되며, 상기한 어댑터(10)의 양 개구(12)에 착탈되는 플러그(20)와; 상기한 플러그(20)의 일단에 부설되고, 중앙에 광섬유의 코어(52)가 삽입되는 다수의 미세구멍(54)이 일렬로 천설되어, 광섬유의 보호기능과 정렬기능을 수행하기 위한 페룰(25)과; 상기한 어댑터(10)의 중앙 관통공 내에 삽설되며, 상기한 어댑터(10) 내에 삽입된 플러그(20)의 일단에 부설되는 양 페룰(25)의 외부를 감싸도록 지지하여 상기한 페룰(25) 내에 삽설된 광섬유를 정밀하게 정렬시키는 광섬유 정렬수단(40)과; 상기한 플러그(20)에 연결된 광케이블(50)의 외부를 감싸도록 부설되어 광케이블(50)의 파단을 방지하기 위한 광케이블 보호수단(30)을 포함한다.

公开(公告)号：KR1019970000819B1

公开(公告)日：1997-01-20

申请号：KR1019940027302

申请日：1994-10-25

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 김성철 ,  박상호 ,  최상국

IPC: G01R31/28

Abstract: A crosstalk test apparatus of digital PCB is provided that rapidly checks a reason of crosstalk in PCB pattern using a monostable pulse latch when an error occurs due to crosstalk. The crosstalk test apparatus of digital PCB using a monostable pulse latch for testing a crosstalk between interconnections in designing PCB includes a signal generator(10) being connected to a pin hole or via hole of a PCB to be tested by a signal transmitting bar(40) and a wire, for generating a monostable pulse signal(ST) under the control of a control signal; a plurality of crosstalk detectors(20A~20N) for detecting whether the signal inputted from the interconnections to which a plurality of crosstalk receiving bars(50A~50N) each connected via the wire is a crosstalk signal beyond a predetermined limitation value; and a display means(30) for receiving a test signal outputted from the plurality of crosstalk detectors(20A~20N) and displaying crosstalk receiving bars that received a crosstalk beyond the predetermined threshold value and its polarity.

Abstract translation: 提供数字PCB的串扰测试装置，当由于串扰发生错误时，使用单稳态脉冲锁存器快速检查PCB图案中的串扰原因。 使用用于测试设计PCB中的互连之间的串扰的单稳态脉冲锁存器的数字PCB的串扰测试装置包括信号发生器（10），其被连接到要由信号传输条（40）测试的PCB的针孔或通孔 ）和导线，用于在控制信号的控制下产生单稳态脉冲信号（ST）; 多个串扰检测器（20A〜20N），用于检测从经由导线连接的多个串扰接收条（50A〜50N）的互连输入的信号是否超过预定限制值的串扰信号; 以及显示装置（30），用于接收从多个串扰检测器（20A〜20N）输出的测试信号，并显示接收超过预定阈值及其极性的串扰的串扰接收条。