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公开(公告)号：CN103776540A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201310750061.5
申请日：2013-12-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01V8/10 , G01J3/0208 , G01J3/453 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明涉及一种多波段共光路图谱联合遥感测量系统及方法，该系统包括红外窗口、二维转镜、平面反射镜、反射式多波段红外镜头、傅里叶干涉光谱模块、图谱联合处理模块、电源模块、制冷模块和显示模块；入射光从红外窗口进入，经二维转镜反射后再由平面反射镜反射至反射式多波段红外镜头并由分光镜分光；透射的光线经过会聚透镜聚焦，在红外探测器上成像；反射的光线聚焦于光纤耦合器，由红外光纤进入傅里叶干涉光谱模块形成干涉图，并经傅里叶变换得到光谱数据；图谱联合处理模块有效联合宽谱成像与非成光谱数据，控制二维转镜指向目标，实现智能化的遥感测量。本发明具有对场景局部区域光谱测量以及多目标跟踪光谱测量的能力，速度快，数据量适宜，成本低。
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公开(公告)号：CN102027343B
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN200980117552.8
申请日：2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G02B7/00
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0256 , G01J3/0259 , G01J3/0286 , G01J3/0297 , G01J2003/1213 , G02B5/1814 , G02B5/1852 , G02B5/1861 , G02B7/025 , G02B27/4244
Abstract: 本发明所涉及的分光模块(1)具备使从前表面(2a)入射的光(L1)透过的基板(2)、使入射到基板(2)的光(L1)透过的透镜部(3)、对入射到透镜部(3)的光(L1)进行分光并且反射的分光部(4)、以及检测由分光部(4)进行反射的光(L2)的光检测元件(5)。在基板(2)上设置有相对于成为用于定位光检测元件(5)的基准部的对准定位标记(12a、12b)等而具有规定的位置关系的凹部(19)，透镜部(3)被嵌合于凹部(19)。根据分光模块(1)，仅通过将透镜部(3)嵌合于凹部(19)，从而能够实现分光部(4)与光检测元件(5)的被动对准定位。
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公开(公告)号：CN101997054B
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201010267198.1
申请日：2010-08-24
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 夏秋和弘
IPC: H01L31/101
CPC classification number: G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/51 , G01J3/513 , H01L27/14621 , H01L27/14645
Abstract: 本发明提供一种半导体光电探测器元件和半导体装置，该半导体光电探测器元件的制造成本被降低且精度被提高。该半导体光电探测器元件包括：第一光电二极管，形成在P型硅基板中；第二光电二极管，形成在P型硅基板中并且具有与第一光电二极管相同的结构；由绿色滤色器形成在第一光电二极管上方的滤色器层；由黑色滤色器形成在第二光电二极管上方的滤色器层；以及运算电路部，将第二光电二极管的检测信号从第一光电二极管的检测信号减去。
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公开(公告)号：CN103502799A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201180036619.2
申请日：2011-05-23
Applicant: 增强型光谱测定技术公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J1/58 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/44 , G01N21/6445 , G01N21/645 , G01N21/65 , G01N2021/6417 , G01N2021/6484
Abstract: 本发明公开一种用于检测物质的拉曼和光致发光光谱并借助物质的拉曼和/或光致发光光谱特性鉴定物质的装置和方法。该装置包括具有激光源的可替换激光源集合体、准直系统、用于接收可替换激光源集合体同时确保装置的操作而无须进一步调整准直系统或激光源的定位的插口、滤波系统、被优化以提供足以同时获得物质的拉曼和光致发光光谱的光谱分辨率和光谱范围的光分散系统、检测器和至少一个用于处理电子信号的控制器。公开且要求保护的方法用于同时获得物质的拉曼和光致发光光谱、将光谱分成基于拉曼内容和光致发光内容的分量、分析拉曼和光致发光内容以及使用一组光谱处理方法鉴定物质。
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公开(公告)号：CN103376158A
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201310111452.2
申请日：2013-04-01
Applicant: 安捷伦科技有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01J2003/1217
Abstract: 提供了一种包括二向色性光束组合器的光学发射系统。一种光学发射光谱仪系统(100，200)包括光源(101)和二向色性光束组合器(130)。光源在第一方向上发射第一光(115)并且在不同于所述第一方向的第二方向上发射第二光(125)。二向色性光束组合器经由第一光路(110)接收所述第一光并且经由第二光路(120)接收所述第二光，反射一部分所述第一光进入光检测及测量装置(140)的入口孔(145)，并且透射一部分所述第二光进入所述入口孔，使得能够同时分析并且测量第一光和第二光两者的特性。被反射进入所述入口孔的所述第一光的部分主要具有第一波长范围内的波长，并且被透射进入所述入口孔的所述第二光的部分主要具有不同于所述第一波长范围的第二波长范围内的波长。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102519595B
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201110406650.2
申请日：2011-12-07
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0294 , G01J3/18 , G01J3/36 , G02B17/0804 , G02B17/0816 , G02B27/1006 , G02B27/1013
Abstract: 一种星载差分吸收光谱仪的光学系统，由中继光学系统和Offner成像光谱仪系统组成，中继光学系统由中继反射镜、中继镜头及分色片构成；Offner成像光谱仪系统由入射狭缝、凸面光栅和凹面反射镜构成；中继光学系统利用分色片将探测波段分光形成四通道，分别由四组中继镜头聚集到光谱仪入射狭缝处。各波段光从光谱仪入射狭缝进入光谱仪，经凸面光栅分光后，光路转折聚焦到探测器上。本发明利用中继反射镜将光路转折，利用分色片将探测波段分为四个通道，从而提高系统的探测分辨率，保证测量准确性，使得整个光学系统体积紧凑。Offner成像光谱仪成像光谱性能优异，尤其对畸变的改善，易于整个系统的小型化、轻型化，适合空间技术应用。
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公开(公告)号：CN103293126A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310023630.6
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
IPC: G01N21/45
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号：CN103292901A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310057156.9
申请日：2013-02-22
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0224 , G01J3/10 , G01J3/44 , G02B5/1814 , G02B27/0905 , G02B27/0927 , G02B27/0933
Abstract: 本发明涉及光谱测定光学系统和使用该光谱测定光学系统的光谱测定仪。所述光谱测定光学系统包括：反射部件，其具有沿第一圆形形成的凹面；衍射光栅，其具有边缘部和沿第二圆形形成的凸面，所述第二圆形与所述第一圆形同心地布置，在所述反射部件的所述凹面处被反射的光入射到所述衍射光栅上；以及输入元件，其相对于所述反射部件及所述衍射光栅布置在预定位置处，使得衍射光在输入至所述光谱测定光学系统的输入光与所述衍射光栅的所述边缘部之间穿过。所述衍射光自所述衍射光栅射出、具有不小于600nm且不超过1100nm的波长区域、并且在所述凹面处被反射。根据本发明的光谱测定光学系统和光谱测定仪，能够用于检测具有特定波长范围的光。
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公开(公告)号：CN101548151B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200880001006.3
申请日：2008-05-21
Applicant: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
CPC classification number: G01B11/026 , G01B2210/50 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/024 , G01J3/12 , G02B21/0064
Abstract: 本发明设计了一种包括至少一个透镜(2)的光学装置中与温度相关的测量误差的补偿方法，由于与温度相关的测量误差的这种补偿没有明显增加生产费用，故该方法较经济可靠，其中，多色光线(5)穿过光学装置(1、1’)，再聚焦在由于透镜(2)的色差而距透镜(2)的不同距离的点上，以致于光线(5)的至少一部分光谱至少部分地在光学装置(1、1’)内反射，再射向检测装置(12)，借助于检测装置确定光谱，由检测装置(12)所记录的光谱测定装置(1、1’)的温度，再补偿与温度相关的测量误差。
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公开(公告)号：CN103189735A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201180052542.8
申请日：2011-10-27
Applicant: 三鹰光器株式会社
Inventor： 山崎登志夫
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0243 , G01J3/0264 , G01J3/04 , G01J3/2823 , G01N21/31 , G01N2021/1793 , G02B27/1066 , G02B27/143
Abstract: 可监视的分光测量装置设置有从测定对象（Sm）经由光学系统（30）、狭缝-反射镜模块（21）的狭缝部（23）到达分光器主体（25）的第一光路（L1）、从测定对象（Sm）经由光学系统（30）、狭缝-反射镜模块（21）的镜面（22）到达二维摄像装置（40）的第二光路（L2）。狭缝部（23）和分光器主体（25）成为一体地构成分光部（20）。
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