检测设备和检测方法
    102.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111033228A

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201980002435.0

    申请日:2019-08-09

    Inventor: 金大锡

    Abstract: 本发明构思涉及一种检测设备,所述检测设备快照捕获具有由一件式离轴偏振干涉仪产生的高的空间载频的干涉图样,并且精确且迅速地测量包括空间偏振信息的斯托克斯矢量。所述检测设备在不采用二维扫描仪的情况下动态实时测量二维偏振信息。

    一种自共相片上干涉光谱成像方法

    公开(公告)号:CN107782449B

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201710864380.7

    申请日:2017-09-22

    Abstract: 一种自共相片上干涉光谱成像方法,包括以下步骤:S1、根据透镜阵列效能函数确定透镜阵列的分布;S2、透镜利用介电润湿效应或整体变形对入射光进行初步相位调节;S3、通过光子集成芯片使初步相位调节后的入射光形成基线对,并对基线对进行精确相位调节后使其发生干涉以形成干涉成像;S4、提取所述干涉成像的信息;S5、根据所述干涉成像的信息,使用光子干涉图像重构方法获得目标数字图像和光谱图像。

    光学装置
    104.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110799884A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201880042645.8

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 光学装置具备:弹性支撑部,其以可动部能够沿着第1方向移动的方式支撑可动部;第1梳齿电极,其具有多个第1梳齿;及第2梳齿电极,其具有多个第2梳齿。弹性支撑部具有沿着与第1方向垂直的第2方向延伸的扭力棒、及连接于扭力棒与可动部之间的非线性缓和弹簧。非线性缓和弹簧构成为,在可动部在第1方向移动的状态下,非线性缓和弹簧绕第2方向的变形量小于扭力棒绕第2方向的变形量,且与第1方向及第2方向垂直的第3方向上的非线性缓和弹簧的变形量大于第3方向上的扭力棒的变形量。第2梳齿电极沿着可动部的外缘配置。

    反射镜组件和光模块
    105.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110799881A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201880040989.5

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 反射镜组件(2)包括:含有基体(21)和可动反射镜(22)的反射镜器件(20);光学功能部件(13);和相对于光学功能部件(13)配置在与反射镜器件(20)相反侧的固定反射镜(16)。在光学功能部件(13)形成有构成分束器组件(3)与固定反射镜(16)间的光路的一部分的光透射部(14)。光透射部(14)是对分束器组件(3)与可动反射镜(22)间的光路和分束器组件(3)与固定反射镜(16)间的光路之间产生的光程差进行修正的部分。基体(21)的第2表面(21b)与光学功能部件(13)的第3表面(13a)彼此接合在一起。

    用于红外光谱测定的高级参考检测器

    公开(公告)号:CN110770551A

    公开(公告)日:2020-02-07

    申请号:CN201880039198.0

    申请日:2018-07-13

    Inventor: J·M·考菲

    Abstract: 一种其中光学路径遵循干涉仪的光谱测定系统和方法包含具有大体上安置在其焦点处的孔径的Jacquinot光阑(70)。所述Jacquinot光阑包含与所述路径的纵向轴大体上非正交且面向含有干涉图的IR信号的源的反射性表面(74)。所述孔(72)径传递入射IR信号的内部部分,同时所述反射性表面反射外部部分。归因于干涉仪光学件中的固有缺陷而含有错误光谱信息的所述入射IR信号的所述反射的外部部分由此从最终用于照射样本的初始入射IR信号有效地去除,但仍可用于监视取样光学件的背景光谱。

    光栅剪切干涉波前传感器的剪切量标定装置及方法

    公开(公告)号:CN110736543A

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201910948565.5

    申请日:2019-10-08

    Abstract: 本发明涉及一种光栅剪切干涉波前传感器的剪切量标定装置及方法。该标定装置包括点光源显微聚焦系统、待标定的光栅剪切干涉波前传感器和位移调节装置;点光源经显微聚焦系统后成像于待标定波前传感器的探测面。该剪切量标定方法,通过记录点光源经剪切光栅后的各衍射级次在传感器探测面上的成像位置,根据所用剪切光栅衍射频谱分布的几何关系,计算得到待标定波前传感器的剪切量。该标定装置及方法简化了光栅剪切干涉波前传感器剪切量的标定过程,同时提高了标定结果的精度。

    光谱测定方法、光谱测定装置以及宽波段脉冲光源单元

    公开(公告)号:CN110730903A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201880036736.0

    申请日:2018-06-06

    Abstract: 提供一种新的光谱测定技术,即使在被测定光仅存在非常短时间的情况下也能够进行测定。使被测定光(L0)与在脉冲内波长随时间连续地变化的宽波段脉冲光(L1)干涉,将对所发出的干涉光进行检测的检测器(5)的输出信号进行傅立叶转换,由此测定被测定光(L0)的每个波长的光强度。来自激光源(1)的激光(L2)通过非线性光学元件(2)而成为超连续光(L3),通过脉冲伸长元件(3)使其脉冲伸长而生成宽波段脉冲光(L1)。

    基于电热效应的可调制型纤维集成Michelson干涉仪

    公开(公告)号:CN107727123B

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201710896517.7

    申请日:2017-09-28

    Inventor: 苑立波 王洪业

    Abstract: 本发明提供的是一种基于电热效应的可调制型纤维集成Michelson干涉仪。包括光源、单模光纤环行器、光纤锥、非对称双芯光纤、电热阵列、电源控制系统、反射镜和光电检测装置,其特征是:光源与单模光纤环行器的第一端口相连,单模光纤环行器的第二端口通过光纤锥与非对称双芯光纤的一端相连,单模光纤环行器的第三端口与光电检测装置相连,反射镜位于非对称双芯光纤的另一端,所述的非对称双芯光纤包括中间芯和边芯,电热阵列位于非对称双芯光纤边芯一侧的包层上,电热阵列通过导线与电源控制系统相连接。本发明结构简单紧凑、系统的稳定性好、制作方便、成本低的,在光纤传感,光信息检测、外界环境监测等方面有较为广阔的应用前景。

    一种测量塞曼效应子谱线强度的方法

    公开(公告)号:CN110501068A

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201910768790.0

    申请日:2019-08-20

    Inventor: 张建民

    Abstract: 本发明提出了一种测量塞曼效应子谱线强度的方法,属于光谱测量技术领域,其具体方法步骤为打开光源,依次调节聚光镜、干涉滤光片、F-P标准具、望远镜及可拍照手机拍照镜头的位置,使他们与光源同轴且设置光源位于聚光镜的焦点上;接通直流电磁铁的电源并增加外磁场使每一个干涉级次K的每一个分立圆环分裂为右旋光σ+1、π成分光和左旋光σ-1;用可拍照手机拍摄并用《画图板》进行强度提取。利用本发明的方法进行汞灯光谱线强度测量时,其测量成本低,测量结果准确,对数据的后续分析利用能够提供准确的参考价值。

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