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公开(公告)号：CN106052874A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610481840.3
申请日：2016-06-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J3/45 , G01B9/02017 , G01B9/02044
Abstract: 本发明公开了一种干涉成像光谱仪及干涉仪，干涉成像光谱仪包括前置成像物镜、干涉仪、成像耦合镜和光电探测器；所述干涉仪包括两块相同的等腰梯形棱镜，两块等腰梯形的下底面胶合，相胶合的面为分束面；两块等腰梯形的上底面为反射面；两块等腰梯形棱镜的4个腰面中，其中相邻的两个腰面为干涉仪的两个入射端，另两个腰面为干涉仪的两个出射端。这种干涉成像光谱仪灵敏度高，结构紧凑，易于实现高空间分辨率光路，易于实现宽覆盖成像，双端口的入射和出射面可实现全视场全孔径定标而无需增加辅助光路，并可采用双探测器接收实现谱段的扩展或采用亚像元技术实现超分辨成像，干涉仪棱镜具有易于实现加工和装配的优点。
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公开(公告)号：CN105890752A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610200704.2
申请日：2016-03-31
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01J3/0237 , G01J3/0243 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/45
Abstract: 本发明提供了一种提高探测器阵列光谱分辨率的光纤光栅解调系统，所述解调系统包括泵浦源、波分复用器、布拉格光纤光栅、光阑、狭缝、准直镜、分光光栅、成像镜和线阵探测器、压电执行元件及电压控制系统，其中所述泵浦源、波分复用器和布拉格光纤光栅依次连接，所述波分复用器同时连接光阑，所述泵浦源发出的光通过波分复用器的耦合后进入布拉格光纤光栅，所述布拉格光纤光栅的反射谱作为注入光进入光纤光栅解调系统，注入光通过狭缝后，依次通过准直镜、分光光栅、成像镜的反射，最终汇聚到线阵探测器上，其中所述狭缝或线阵探测器能够沿长轴方向左右移动微小距离，其中所述准直镜、分光光栅、成像镜能够沿逆时针或顺时针旋转微小角度。
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公开(公告)号：CN105890751A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610200398.2
申请日：2016-03-31
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01J3/0237 , G01J3/0243 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/45
Abstract: 本发明提供了一种采用准直镜微调提高光谱分辨率的光纤光栅解调系统，所述解调系统包括泵浦源、波分复用器、布拉格光纤光栅、光阑、狭缝、准直镜、分光光栅、成像镜和线阵探测器、压电执行元件及电压控制系统，其中所述泵浦源、波分复用器和布拉格光纤光栅依次连接，所述波分复用器同时连接光阑，所述泵浦源发出的光通过波分复用器的耦合后进入布拉格光纤光栅，所述布拉格光纤光栅的反射谱作为注入光进入光纤光栅解调系统，注入光通过狭缝后，依次通过准直镜、分光光栅、成像镜的反射，最终汇聚到线阵探测器上，其中所述准直镜沿逆时针或顺时针旋转微小角度。
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公开(公告)号：CN105823559A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610308996.1
申请日：2016-05-11
Applicant: 上海朗研光电科技有限公司
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种自适应双光梳光谱补偿信号提取系统，其特点是迈克尔逊干涉仪和电学拍频获得自适应双光梳光谱补偿信号，采用时域延时和频域选择的方式，有效利用迈克尔逊干涉仪相干探测一定延时的前后脉冲，提取出表征单个脉冲激光器自身重复频率抖动和载波包络相位抖动的信号，最后通过电学倍频及混频过程，获得表征两个脉冲激光器相对重复频率抖动和相对载波包络相位抖动的补偿信号，可直接用于自适应双光梳光谱测量。本发明与现有技术相比完全避免了自适应双光梳光谱中需要引入两台窄线宽连续激光器提取补偿信号的方式，补偿信号受连续光波长飘移干扰小，信号稳定可靠，进一步提高了自适应双光梳光谱系统的稳定性和可靠性。
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公开(公告)号：CN105758521A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201610201753.8
申请日：2016-03-31
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01J3/0218 , G01J3/45
Abstract: 本发明提供了一种采用微动光栅提高光谱分辨率的光纤光栅解调方法，解调系统包括泵浦源、波分复用器、布拉格光纤光栅、光阑、狭缝、准直镜、分光光栅、成像镜和线阵探测器、压电执行元件及电压控制系统，其中分光光栅沿逆时针或顺时针旋转微小角度的方法如下：a)压电执行元件调节至最低端，此电压为初调电压；b)记录最低端光谱数据为初始光谱；c)小步距调节压电执行元件，计算当前光谱与初始光谱；d)首次相关度峰值时的调节电压记录为终调电压；e)将初调电压与终调电压间等分为若干等级，每次解调均对各等级进行测量，以获得更高的空间分辨率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105588641A
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201610070737.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 青岛市光电工程技术研究院
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种用于地震预测预报的地基气辉成像仪，包括会聚透镜组、滤光组件、转像镜组件和探测器组件，其中：所述会聚透镜组，用于将大视场孔径光束会聚为小角度光束，并发射给转像镜组件；所述转像镜组件，包括一个场镜和一组对称布置在光路上的两个转像镜组，其中所述场镜接收所述会聚透镜组的光束并依次射入两个所述转像镜组，经过两个所述转像镜组的光束射入所述探测器组件；所述滤光组件，置于所述转像镜组之间；所述探测器组件，用于探测光束信号。本发明采用的F-P窄带滤光组件，可实现1nm单波长点滤光，提高了整个系统的信噪比。
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公开(公告)号：CN104272069B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201380023041.6
申请日：2013-05-08
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/26 , G01J3/0213 , G01J3/2803 , G01J3/45 , G01J2003/1234
Abstract: 分光传感器(1A)具备：具有腔层(21)以及第1和第2镜层(22、23)的干涉滤光部(20A)；具有透过了干涉滤光部(20A)的光进行入射的受光面(32a)的光检测基板(30)。干涉滤光部(20A)包含：与受光面(32a)相对应的第1滤光区域(24)；以及包围第1滤光区域(24)的环状的第2滤光区域(25)。光检测基板(30)的垫片部(33a)以包含于第2滤光区域(25)的方式设置有多个，在第2滤光区域(25)，形成有用于使垫片部(33a)露出至外部的贯通孔(6)。
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公开(公告)号：CN104272070B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201380023137.2
申请日：2013-05-08
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/26 , G01J3/0259 , G01J3/0291 , G01J3/36 , G01J3/45
Abstract: 分光传感器(1A)包括：具有腔层(21)以及第1和第2镜层(22、23)的干涉滤光部(20A)；以及具有透过了干涉滤光部(20A)的光进行入射的受光面(32a)的光检测基板(30)。干涉滤光部(20A)包括与受光面(32a)对应的第1滤光区域(24)和包围第1滤光区域(24)的环状的第2滤光区域(25)。第1滤光区域(24)中，第1镜层(22)和第2镜层(23)之间的距离变化，第2滤光区域(25)中，第1镜层(22)和第2镜层(23)之间的距离固定。
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公开(公告)号：CN103180699B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201180051362.8
申请日：2011-07-26
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 原吉宏
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/4535 , G02B26/0858
Abstract: 在分光测定前的粗调工序中，使移动镜移动（＃11），将由4分割传感器接收到移动镜的反射光与固定镜的反射光的干涉光时的各分割元件的输出相加，来检测干涉光的对比度的变化（＃12），并且基于该对比度的变化，检测两反射光的相对倾斜量（＃13），对初始倾斜误差进行修正（＃14）。另一方面，在分光测定前的微调工序中，基于由4分割传感器接收到两反射光的干涉光时的各分割元件的输出的相位差，检测两反射光的相对倾斜量以及倾斜方向，对初始倾斜误差进行修正。
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公开(公告)号：CN104272069A
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201380023041.6
申请日：2013-05-08
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/26 , G01J3/0213 , G01J3/2803 , G01J3/45 , G01J2003/1234
Abstract: 分光传感器(1A)具备：具有腔层(21)以及第1和第2镜层(22、23)的干涉滤光部(20A)；具有透过了干涉滤光部(20A)的光进行入射的受光面(32a)的光检测基板(30)。干涉滤光部(20A)包含：与受光面(32a)相对应的第1滤光区域(24)；以及包围第1滤光区域(24)的环状的第2滤光区域(25)。光检测基板(30)的垫片部(33a)以包含于第2滤光区域(25)的方式设置有多个，在第2滤光区域(25)，形成有用于使垫片部(33a)露出至外部的贯通孔(6)。
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