-
公开(公告)号：CN109557057A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811377546.3
申请日：2018-11-19
Applicant: 西安交通大学 , 苏州热工研究院有限公司
IPC: G01N21/63 , G01J3/443 , G01J3/02 , G21C17/017
Abstract: 本发明公开了一种用于核电站主管道内的光纤LIBS探测装置及方法，包括光纤LIBS探测器和主控检测系统两个部分；主控检测系统安装于核电站主控室内，光纤LIBS探测器进入管道内进行探测作业，两者之间通过传输光纤和控制信号线相连。本发明主控检测系统和光纤LIBS探测器通过耐高温的高功率传输光纤和控制信号线相连，在核电站主控室内即可实现对核电站主管道内壁指定区域进行定位定点的远程在线检测，无须对待测管道进行预处理，管道内壁微损甚至无损，可实现多种元素的同时快速定量分析，整个检测过程操作安全可靠效率高。
-
公开(公告)号：CN109297940A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201811036090.4
申请日：2018-09-06
Applicant: 中国科学院沈阳自动化研究所
Abstract: 本发明涉及原子发射光谱检测技术领域，特别涉及一种在微米尺度下激光离焦量自动调节装置及其调节方法。所述装置包括一激光笔，激光笔发射光束的中心轴上配置了一个光束整形系统和一块分束镜，分束镜与激光笔的光束夹角为45°，分束镜上下侧设有用于对样品表面形貌进行观察及对样品表面激光笔光斑进行探测的显微成像光学系统，显微成像光学系统的下方设有用于承载样品的三维载物台，显微成像光学系统和三维载物台均与控制主机电性连接。显微成像光学系统包括位于分束镜上下侧的CCD相机和显微物镜。本发明能利用CCD相机实时获取图像，实时判断，实时对激光离焦量进行校正，对于保证激光在样品上产生等离子体形貌的一致性具有重要意义。
-
公开(公告)号：CN105829843B
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201480054413.6
申请日：2014-07-31
Applicant: TSI公司
CPC classification number: G01J3/0275 , B07C5/342 , G01D5/26 , G01D5/48 , G01J3/0248 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01N21/718 , G01N21/85
Abstract: 基于激光的光谱系统，其包括距离/接近度/间隔传感器，高重复率激光光谱系统，以及嵌入在处理单元内的决策制定软件，这些结合地在目标对象位于询问区域内时执行九龙岗的选择性发射。在类似的实施例中，系统基于来自间隔信号的消息和包含在光谱信号本身内的消息来提供光谱信号的选择性分选。该激光发射可在保持激光发射的同时进行主动控制，以此保持热稳定性以及因此的激光能量，可将间隔传感器消息和光谱消息结合来确定合适的相对加权或每个光谱消息的重要性。
-
公开(公告)号：CN107101723B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201710442950.3
申请日：2017-06-13
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01J3/443
Abstract: 本发明属于光谱技术领域，特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤：步骤一，获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图；步骤二，对获得的二维谱图进行判读；步骤三，反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量；步骤四，对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算，同时能够实现二维偏差谱图的校正工作，对二维偏差谱图进行分析并校正后，能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势，同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变，具有操作简单、易于实现等优点。
-
公开(公告)号：CN107110783A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580072427.5
申请日：2015-11-06
Applicant: 加拿大国家研究院
Abstract: 本发明涉及一种用于目标样品的激光诱导击穿原子发射光谱的方法和紧凑型装置，该装置具有：产生激光束的激光器，该激光束被引导至样品；用于操纵激光束以使样品的目标表面处的激光注量最大化的光学装置，激光束在目标表面处从样品产生烧蚀和等离子体发射；具有用于检测来自等离子体发射的等离子体羽的检测器的发射光谱仪。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107101723A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710442950.3
申请日：2017-06-13
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/443
Abstract: 本发明属于光谱技术领域，特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤：步骤一，获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图；步骤二，对获得的二维谱图进行判读；步骤三，反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量；步骤四，对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算，同时能够实现二维偏差谱图的校正工作，对二维偏差谱图进行分析并校正后，能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势，同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变，具有操作简单、易于实现等优点。
-
公开(公告)号：CN107076612A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201480082674.9
申请日：2014-10-14
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 小林央祐
Abstract: 在具有波长色散元件(123)、光检测器(124a～124c)、以及收纳它们的腔室(121)的分光器中，设置有：排气管(128)，其用于将腔室(121)内部的气体排出；气体供给源(150)，其填充有被压缩至大气压以上的惰性气体；冷却单元(151b、152b、153b)，其通过将惰性气体从气体供给源(150)导入至腔室(121)内并使该惰性气体膨胀来使腔室(121)内的温度降低；温度传感器(127)，其检测腔室(121)内的温度；以及制御手段(140)，其控制冷却单元(151b、152b、153b)，以使由温度传感器(127)检测到的温度成为目标温度。由此，能够以低于现有技术的温度对分光器进行温调，并能够减轻由光检测器的暗电流导致的背景的影响。
-
公开(公告)号：CN104981687B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201380072223.2
申请日：2013-09-17
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01N21/31 , G01J3/0254 , G01J3/0291 , G01J3/42 , G01J3/4406 , G01N21/645 , G01N21/6489 , G01N2021/6469 , G01N2021/6482 , G01N2021/6491 , G01N2201/062 , G01N2201/065 , G01N2201/12
Abstract: 一种对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，其包含：光源，其产生激发光；积分器，其具有入射激发光的入射开口部及射出被测定光的射出开口部；收纳部，其配置于积分器内且收纳试样；入射光学系统，其使激发光入射至试样；光检测器，其检测自射出开口部射出的被测定光；及解析单元，其基于由光检测器检测出的检测值，计算试样的光吸收率；向试样的入射位置上的激发光的照射面积大于试样的被照射面积，解析单元对于所计算出的光吸收率，进行与激发光的照射面积及试样的被照射面积相关的面积比修正。
-
公开(公告)号：CN106768340A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611222202.6
申请日：2016-12-27
Applicant: 天津西北虎科技有限公司
Inventor： 冯素纯
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/0262 , G01N21/01 , G01N21/6402 , G01N2021/0106
Abstract: 本发明提供了一种光栅光谱仪，包括光路机箱、入射狭缝、LED灯、LED控制开关和照相机，所述入射狭缝在光路机箱侧面的一端，所述LED灯安装在入射狭缝所在的侧面上，所述LED控制开关在光路机箱表面上并通过信号线与LED灯相连接，所述照相机固定在光路机箱内部。本发明所述一种光栅光谱仪具有以下优势：所述LED灯为实验人员在黑暗环境下进行样品调换提供方便快捷的操作，所述照相机记录光路设备的调节和样品调换并由USB将信息传递到计算机中存储，减小了实验人员的工作强度，提高了工作效率。
-
公开(公告)号：CN104359553B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201410740739.6
申请日：2014-12-05
Applicant: 中国科学院光电研究院
Abstract: 本发明涉及一种紧凑型光栅色散光谱成像仪，包括前置望远物镜系统、狭缝、准直‑成像系统、反射光栅及面阵探测器；前置望远物镜系统实现对目标成像的功能；狭缝为视场光阑，限制了目标成像范围；准直‑成像系统一方面将目标狭缝像的出射光束准直，另外也将反射光栅色散后的各波长平行光成像到探测器靶面；反射光栅是色散元件，实现对空间目标的光谱分离；面阵探测器通过光电效应获取和记录数字信息。本发明采用了共用准直、成像系统的方式，简化了传统色散系统的结构。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
3524
records
(took 0.035 seconds)
