KR102238741B1 - Method of measuring light emitting status of display panel and method of compensating light emitting status of display panel

    公开(公告)号:KR102238741B1

    公开(公告)日:2021-04-12

    申请号:KR1020150001090A

    申请日:2015-01-06

    Inventor: 안병관 양성모

    CPC classification number: G01N21/88 G01N21/84 G01N2201/06

    Abstract: 표시 패널의 발광 상태 측정 방법은, 카메라의 촬영 범위가 표시 패널의 하나의 분할 영역을 포함하도록 카메라의 위치를 설정하는 단계, 카메라가 하나의 분할 영역을 촬영하여 인식 패턴 촬영 결과를 생성하는 단계, 카메라가 하나의 분할 영역을 촬영하여 단색 촬영 결과를 생성하는 단계, 인식 패턴 촬영 결과에 기초하여 단색 촬영 결과를 수정하여 하나의 분할 영역에 상응하는 수정된 단색 촬영 결과를 생성하는 단계, 복수의 분할 영역들에 상응하는 복수의 수정된 단색 촬영 결과들을 모두 생성할 때까지 상기 단계들을 반복하는 단계 및 복수의 수정된 단색 촬영 결과들을 조합하여 표시 패널의 전체 단색 촬영 결과를 생성하는 단계를 포함한다.

    질소의 분석 방법 및 질소 분석 장치
    128.
    发明公开
    질소의 분석 방법 및 질소 분석 장치 审中-公开
    氮分析法和氮分析仪

    公开(公告)号:KR20180029034A

    公开(公告)日:2018-03-19

    申请号:KR20187001010

    申请日:2015-09-01

    Abstract: 오존에의한화학발광법을이용하여시료중의질소를정량분석하는방법이며, 한층고정밀도로질소농도를측정할수 있는질소의분석방법, 및당해분석방법을실시하기위한질소분석장치를제공한다. 또한, 연료관련시료중의질소를분석할때도, 인체에대한영향이없고, 환경부하도한층저감시킬수 있는질소의분석방법및 질소분석장치를제공한다. 질소화합물을함유하는시료를연소시키고, 얻어진시료가스와오존을반응시켜그 화학발광강도를측정하고, 화학발광강도와질소중량과의관계를나타내는미리작성된검량선에기초하여시료중의질소농도를정량하는질소의분석방법에있어서, 검량선으로서, 질소농도 5 내지 100ppm의표준시료로부터미리작성된검량선을사용하고, 시료로서, 용매로질소농도 5 내지 100ppm으로희석된희석시료를사용한다.

    Abstract translation: 通过使用臭氧的化学发光法定量分析样品中的氮的方法和能够以更高精度测量氮浓度的氮分析方法和用于执行分析方法的氮分析装置。 另外,在分析燃料相关试样中的氮时,提供了对人体没有影响的氮分析方法和氮分析装置,并且可以进一步降低环境负荷。 燃烧含有氮化合物的样品,并通过将得到的样品气体和臭氧测量化学发光强度进行反应,并且基于示出了用于氮浓度的样品中的化学发光测定强度和氮的重量之间的关系的现成的校准曲线上 在氮的分析方法中,作为校准曲线,使用从5的氮浓度至100ppm的的标准样品预先准备的校正曲线,和,作为样品,并使用稀释的样品为5的氮浓度,以作为溶剂为100ppm稀释。

    불량 검출 장치
    130.
    发明公开
    불량 검출 장치 审中-实审
    检查缺陷的装置

    公开(公告)号:KR1020160084726A

    公开(公告)日:2016-07-14

    申请号:KR1020150001334

    申请日:2015-01-06

    Inventor: 강민수

    Abstract: 불량검출장치가제공된다. 본발명의일 실시예에따른불량검출장치는, 제1 파장의광을시료의상면에제공하고제2 파장의광을상기시료의하면에제공하는조명부; 상기제1 및제2 파장의광을상기시료로반사시키고, 상기시료에서재반사된제1 및제2 파장의광을투과시키는스플리터; 상기스플리터를투과한제1 파장의광과제2 파장의광을결상위치로결상시키는결상렌즈; 및상기결상된제1 및제2 파장의광을인가받아상기시료의영상을획득하는카메라를포함한다.

    Abstract translation: 提供了能够使用一个照相机获得样品的上表面和底面的缺陷检查装置。 根据本发明的实施例,缺陷检查装置包括:照明单元,用于向样品的顶表面提供具有第一波长的光,并将具有第二波长的光提供到样品的底表面; 用于以第一波长反射光的分光器和具有第二波长的光,透射具有第一波长的光和再次由样品反射的具有第二波长的光; 成像透镜,用于将具有第一波长的光成像,并且将具有第二波长的光透射通过分离器到成像位置; 以及照相机,通过接收具有第一波长的成像光和具有第二波长的成像光来获得样品的图像。

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