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公开(公告)号：CN112204387A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201980036260.5
申请日：2019-06-19
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01J4/04
Abstract: 本发明提供测量装置、测量方法和测量程序，能方便地输入其他测量装置获得的测量结果，并可防止输入错误。使用其它装置测量结果获得自己的测量结果，包括输出数据取得部，取得经其它测量装置得到的输出数据；指定位置取得部，输出数据中的用户指定位置；其它装置测量结果取得部，取得包含在输出数据取得部取得的输出数据中、指定位置的其它装置测量结果；测量结果取得部，使用取得的其它装置测量结果取得自己的测量结果；位置数据存储部，存储表示指定位置的位置数据，当输出数据取得部取得其它测量装置得到的其它输出数据时，如位置数据存储部中已存储位置数据，其它装置测量结果取得部取得该位置数据所表示的指定位置中的其它装置测量结果。
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公开(公告)号：CN112082652A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010963096.7
申请日：2020-09-14
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明公开了一种多层透明黑磷片堆叠的集成阵列式偏振成像探测器以及相应的偏振信息计算方法。偏振成像探测器由多个探测器单元排列而成，每个探测器单元由三层功能层和基底支撑层构成，功能层结构以透明黑磷片作为光敏层和导电沟道层，辅以电极和保护绝缘介质，并加以外围电路。以功能层为结构单元，沿光路方向堆叠多层可实现实时高分辨率的偏振探测。当偏振光照射器件时，由于黑磷片本身的特性，只对沿黑磷片的AC方向(Armchair)的偏振光吸收最大，其他方向会存在透射，所以多个角度的黑磷片的堆叠结构，可以在同一位置实时测量得到多个方向的光强信息。在黑磷片内载流子在外加电势驱动下单向运动，产生响应信号并实现偏振光光强的探测，并通过特定的算法求解出目标光束信息。该探测器解决了现有偏振探测空间不一致的问题，具有高度集成化、无分辨率损失、实时性好等特点，适用于偏振探测成像、导航等领域。
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公开(公告)号：CN108801466B
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN201810372011.0
申请日：2018-04-24
Applicant: 富士通光器件株式会社
Abstract: 波长监测装置、光源装置以及光模块。一种波长监测装置包括：偏振旋转元件；标准具元件，该标准具元件包括第一双折射层和单折射层或第二双折射层，该第二双折射层是使第二双折射层的光学轴相对于第一双折射层的光学轴旋转而设置的；偏振分离元件，该偏振分离元件将旋转了偏振方向并透射过标准具元件的输入光分成第一光和第二光，第一光具有与第一双折射层的光学轴平行的偏振方向，第二光具有与第一双折射层的光学轴垂直的偏振方向；第一光接收装置，该第一光接收装置接收第一光而检测第一监测值；以及第二光接收装置，该第二光接收装置接收第二光而检测第二监测值。
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公开(公告)号：CN111397734A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010285203.5
申请日：2020-04-13
Applicant: 中山科立特光电科技有限公司
Inventor： 不公告发明人
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及基于光热电的偏振光检测器及系统，主要涉及偏振光检测领域。本申请提供的偏振光检测器，当该偏振光检测器对待测光进行检测的时候，将该待测光通过石墨烯层入射到该手性结构和该对比结构上，该石墨烯层上产生表面等离激元，会增加该石墨烯层中载流子的浓度，进而增加该石墨烯层对待测光的吸收，若该待测光为偏振光，则该手性结构吸收该待测光，在光强和偏振光的影响下产生热量，该对比结构在光强的影响下产生热量，并将热量传递到该石墨烯层上，该石墨烯层由于具有热量差，会使得该石墨烯层中的载流子发生定向移动，从而产生电流，通过对该石墨烯层两端的电流的测量，就可以知道待测光是否为偏振光。
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公开(公告)号：CN109742173B
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201910021590.9
申请日：2019-01-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H01L31/101 , H01L31/0232 , G01J4/04 , G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种量子阱红外圆偏振探测器，其结构包括金属反射镜、量子阱红外光电转换激活层、大周期金属光栅、小周期亚波长金属光栅、二维金属超表面，其中大周期金属光栅、小周期亚波长金属光栅和二维金属超表面嵌埋在对工作波段透明的介质层中。本发明利用二维金属超表面和小周期亚波长金属光栅形成选择转换腔，可选择透射特定类型圆偏振光并将其转换为相应的线偏振光；大周期金属光栅与金属反射镜形成等离激元微腔，将经过选择转换腔的光子电矢量方向由x方向转换为z方向，使其能够被量子阱子带跃迁吸收实现光电转换。同时微腔有效增强量子阱红外光电转换激活区的电场强度，进一步增强对光子的吸收，从而实现探测器对圆偏振光的选择和探测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111256829A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010084939.6
申请日：2020-02-10
Applicant: 陕西师范大学
Abstract: 本发明涉及一种光偏振态的探测器、系统及制备方法，具体而言，涉及光学探测器领域。本申请通过将小球结构层设置在基底的一侧，纳米线层设置在小球结构层远离基底的一侧，第一电极和第二电极分别设置在纳米线层远离基底的一侧的两端，小球结构层由多个具有手性结构的小球构成，当待测光照射时，小球结构层上的手性结构和圆偏光发生相互作用，在不同偏振的照射下手性结构上的能量耗散不同，即所产生的热量不同，从而使得该探测器的第一电极和第二电极的输出电压不同，通过对输出电压的测量，并根据输出电压与偏振光的对应关系，就可以得到待测光为左偏振光还是右偏振光，并且使得本申请检测的偏振光不受其他电磁波的影响，使得测量更加准确。
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公开(公告)号：CN109870234B
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN201711256309.7
申请日：2017-12-04
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于第二类外尔半金属二碲化钼的光探测器及其探测方法。本发明采用二碲化钼纳米片作为光的探测材料，二碲化钼纳米片为零带隙材料，探测光谱范围广，并且不需要也不能外加偏压，在室温下具有灵敏的响应度；本探测器对偏振光方向敏感，可以用于偏振探测；本发明的探测器可用于红外成像、军事侦察、夜视镜等领域，在军用设备方面有着广阔的应用前景；另外需要特别指出的是，基于本材料的光探测器不需要提供偏置电压即可产生相当高的光电流响应，并且暗电流非常低，并且本发明的光探测器也不能够外加偏置电压，否则会产生本底电流，而且基于本材料的光探测器也不需要提供低温环境，这些将非常有助于探测器的微型化和经济化。
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公开(公告)号：CN109916516A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910247192.9
申请日：2019-03-29
Applicant: 郑州大学
Abstract: 本发明公开了一种二维二硒化钯纳米薄膜在宽波段偏振光信号检测中的应用，是以二维二硒化钯纳米薄膜作为光敏感层，制作偏振敏感的光电探测器，实现对宽波段偏振光信号的探测。本发明以二维二硒化钯纳米薄膜制作的偏振敏感的光电探测器，对偏振光信号具有显著的响应，可以在复杂的电磁环境下对波长覆盖紫外-可见-红外的偏振光信号进行精确、稳定的探测。
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公开(公告)号：CN109870234A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201711256309.7
申请日：2017-12-04
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于第二类外尔半金属二碲化钼的光探测器及其探测方法。本发明采用二碲化钼纳米片作为光的探测材料，二碲化钼纳米片为零带隙材料，探测光谱范围广，并且不需要也不能外加偏压，在室温下具有灵敏的响应度；本探测器对偏振光方向敏感，可以用于偏振探测；本发明的探测器可用于红外成像、军事侦察、夜视镜等领域，在军用设备方面有着广阔的应用前景；另外需要特别指出的是，基于本材料的光探测器不需要提供偏置电压即可产生相当高的光电流响应，并且暗电流非常低，并且本发明的光探测器也不能够外加偏置电压，否则会产生本底电流，而且基于本材料的光探测器也不需要提供低温环境，这些将非常有助于探测器的微型化和经济化。
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公开(公告)号：CN109459138A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811257436.3
申请日：2018-10-26
Applicant: 天津大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明公开了一种基于四次光强测量的Mueller矩阵椭偏仪椭偏参数测量方法及装置，依序包括激光光源(1)、第一偏振片(2)、基底(4)、第二偏振片(5)、四分之一波片(6)和光强探测器(7)，所述激光光源(1)发出的光经过固定角度为45度的所述第一偏振片(2)入射到所述样本薄膜上(3)，经所述样本薄膜(3)反射后的出射光经所述第二偏振片(5)和所述四分之一波片(6)后进入所述光强探测器(7)；按照以下偏振态特征态Ti组合，分别调节所述第二偏振片(5)和所述四分之一波片(6)获得4种不同偏振态下的PSA的仪器矩阵，实现四次光强测量。本发明可有效降低测量的方差，减少测量时间，从而提高测量的精度，降低测量装置成本。
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