-
公开(公告)号：CN100373423C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200480015320.9
申请日：2004-06-02
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G09G3/00
Abstract: 随着图像传感器的视场追踪测试模型的运动而在用于测量的屏幕5上移动测试模型以便观察BEW。然后，以与上述观察中相同的速度vc移动图像传感器的视场33以捕捉静态模型PE，并观察捕捉到的图像的分布图中出现的滚动方向上的模糊宽度W。基于所述模糊宽度W和用于捕捉静态模型PE的图像的图像传感器的曝光时间，估算BEW观察过程中测试模型的运动速度，利用所述运动速度将BEW标准化。利用标准化后的N_BEW来对屏幕的运动图像质量进行评价。由此可以容易地且准确地估算出原始测试模型的运动速度，因此可以准确地评价屏幕的运动图像质量。
-
公开(公告)号：CN101047868A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200710085078.8
申请日：2007-02-28
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 江南世志
CPC classification number: G09G3/2003 , G09G2310/0235 , G09G2320/0242 , G09G2320/0261 , G09G2320/0666 , G09G2360/145 , H04N9/3114 , H04N9/3179 , H04N9/3194
Abstract: 本发明提供一种彩色显示器的活动图像质量改善方法以及程序，取得与图像正活动着的部分对应的图像信号，在该已取得的图像信号的活动图像的边缘部分，对边缘的差色R+G附加成为规定关系(补色关系)的颜色B，由此消去边缘的色调，并将附加了上述消除边缘的差色的颜色的图像信号提供给彩色显示器。
-
公开(公告)号：CN1721838A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200510084614.3
申请日：2005-07-15
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/3504
Abstract: 本发明涉及气体中杂质的定量方法及装置。从气体中除去杂质、导入容器15、透过容器15光的强度作为参照实施测定。将含已知浓度杂质的气体导入同一容器15，保持同温同压，测定透过容器15光的强度，由上述两次测定所得的光强度之比求杂质的吸光度。此杂质吸光度作为杂质浓度函数记忆在存储器20a中。将含未知浓度杂质的气体导入容器15，保持同温同压，测定透过容器15的光强度，求经此测定所得杂质对上述参照的吸光度，此吸光度应用于上述函数、求杂质浓度。
-
公开(公告)号：CN1720752A
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：CN03825722.X
申请日：2003-06-06
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 冈宏一
IPC: H04N17/04
CPC classification number: H04N17/04
Abstract: 公开了一种系统，该系统包括一个可旋转的镜子2，一个通过镜子2拍摄屏幕5图像的照相机3，一个具有覆盖部分屏幕5的探测范围的光电探测器4，和一个控制部件6。当光电探测器4探测到包含在显示在屏幕5上的移动图像中的测量模式时，光电探测器4输出探测信号。基于这个探测信号，控制部件触发镜子2旋转，并且在镜子2开始旋转后，控制部件6旋转，以使镜子2追随测量模式的运动进行旋转。不需凭借镜子旋转的电子同步和移动图像信号，就可以获得跟踪照相机3的探测器平面上的移动图像运动的图像，并用一种简单的结构来测量移动图像的显示质量。
-
公开(公告)号：CN1710407A
公开(公告)日：2005-12-21
申请号：CN200510078909.X
申请日：2005-06-16
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/031 , G01N21/3504
Abstract: 具备照射出在某一波长范围扩展的光线的光源S、使从上述光源照射出的光线发生反射的第1反射镜M1、引导上述被第1反射镜反射的光线的长光程气管1、从上述长光程气管射出的光线发生反射的第2反射镜M2、以及检测被上述第2反射镜反射的光线的传感器D，并且在上述光源S到上述传感器D的光程间，设置了具有在与光程正交的2偏振方向(X、Y)间焦距不同的双聚焦特性的透镜21、22。补偿设置在气管1内部的球面镜6、7的像差，使得气管1的光线透过率不会降低。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1170139C
公开(公告)日：2004-10-06
申请号：CN98811260.4
申请日：1998-11-19
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N21/474 , G01N15/02
Abstract: 一种用来作为散射角的函数测量来自试样的散射光的强度的装置，包括：一个用来反射来自试样(23)的散射光并使之聚焦的椭圆面反射镜(24)，一个位于来自椭圆面反射镜(24)的反射光的焦点并把出现在椭圆面反射镜(24)的表面上的像成像的成像透镜(25)，以及一个用来记录由成像透镜(25)所形成的像的摄像机(26)，借此在很短的时间段内检测广角范围内的散射光。
-
公开(公告)号：CN1460176A
公开(公告)日：2003-12-03
申请号：CN02800929.0
申请日：2002-03-26
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01N15/0211 , G01J2001/442 , G01N2013/003
Abstract: 一种光子相关器，它包括：多个取样门11a－11e，这些取样门在不同的时期中打开；多个存储器12a－12e，这些存储器每一个都是与多个取样门11a－11e中的各个取样门相应地设置的，用于存储与光子数目相应的数据；以及，数据处理控制部分，用于读取存储在存储器12a－12e中的数据，并借助软件进行相关性计算。包括取样门11a－11e和存储器12a－12e的硬件装置使得能够进行数据在存储器中的高速写入和数据的实时读出。另外，软件与上述处理并行地进行相关性计算。因此，能够在各种条件下以高速获得在一种流体中的颗粒的颗粒大小和散射系数。
-
公开(公告)号：CN308733796S
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202330656345.2
申请日：2023-10-11
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 1.本外观设计产品的名称：立体显微镜的主体。
2.本外观设计产品的用途：要求保护的局部外观设计所在的整体和要求保护的局部外观设计均用于观察、测定、分析试样等。
3.本外观设计产品的设计要点：在于要求保护的局部的形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
5.其他需要说明的情形其他说明：涂敷红色的部分为不请求保护的局部，未涂敷红色的部分为请求保护的局部。 -
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
143
records
(took 0.041 seconds)
