-
公开(公告)号:FR3042925A1
公开(公告)日:2017-04-28
申请号:FR1560185
申请日:2015-10-26
Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS
Inventor: ARNAUD ARTHUR , BOUGHALEB JIHANE , MONFRAY STEPHANE , SKOTNICKI THOMAS
Abstract: Le système de conversion d'énergie thermique en énergie électrique (SYS), comprend un châssis (1), au moins un élément sensible à la température (3) maintenu dans le châssis (1) par deux de ses extrémités (31, 32) entre une source chaude (TC) et une source froide (TF), au moins un élément piézoélectrique (5) disposé entre au moins une partie du châssis (1) et au moins une première desdites deux extrémités (31, 32) dudit au moins un élément sensible à la température (3), ledit au moins un élément sensible à la température (3) étant configuré pour se déformer cycliquement entre deux états sous l'action du gradient thermique entre la source chaude (TC) et la source froide (TF) tout en exerçant une contrainte lors de sa déformation cyclique sur ledit au moins un élément piézoélectrique (5) par l'intermédiaire de ladite au moins une première extrémité.
-
公开(公告)号:FR3032845B1
公开(公告)日:2017-03-10
申请号:FR1551192
申请日:2015-02-13
Inventor: MIRSHEKARI GHOLAMREZA , LEVEILLE ETIENNE , FRECHETTE LUC G , MONFRAY STEPHANE , SKOTNICKI THOMAS
IPC: H02N2/18
-
公开(公告)号:FR3039925A1
公开(公告)日:2017-02-10
申请号:FR1557609
申请日:2015-08-07
Inventor: GUYADER FRANCOIS , GOURVEST EMMANUEL , GROS D'AILLON PATRICK
IPC: H01L21/00 , H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un procédé de formation d'une couche plane (40a) d'un matériau choisi sur une face (3) d'une plaquette (1) présentant des creux (5), le procédé comprenant les étapes suivantes : a) déposer une première couche (30a) du matériau choisi sur la face ; b) procéder à un polissage mécano-chimique de la première couche ; c) déposer une deuxième couche (40a) du matériau choisi sur la première couche ; et d) procéder à un polissage mécano-chimique de la deuxième couche.
-
公开(公告)号:FR3037714A1
公开(公告)日:2016-12-23
申请号:FR1555588
申请日:2015-06-18
Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS
Inventor: PETITPREZ EMMANUEL
IPC: H01L21/334 , H01L21/328
Abstract: Circuit intégré, comprenant au moins une zone active (ZA) s'étendant au-dessus d'un substrat semiconducteur (3), une cavité (CVO) située en bordure de la zone active et s'étendant dans une zone isolante (2, 4) jusqu'au voisinage d'une région semiconductrice, un empilement isolant et un contact électriquement conducteur (CTC) au sein de l'empilement isolant débouchant sur la zone active et dans la cavité. L'empilement isolant comporte une première couche isolante (6) recouvrant la zone active à l'extérieur dudit contact et tapissant les parois de la cavité, une couche isolante supplémentaire (12) recouvrant la partie de la première couche isolante (6) tapissant les parois de ladite cavité, le contact (CTC) atteignant cette couche isolante supplémentaire dans ladite cavité, et une région isolante (7, 9) au-dessus de la première couche isolante (6) et de la couche isolante supplémentaire (12) comportant au moins un matériau isolant (7, 9) autour dudit contact.
-
公开(公告)号:FR3027732B1
公开(公告)日:2016-12-23
申请号:FR1460301
申请日:2014-10-27
Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE , STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS , STMICROELECTRONICS (GRENOBLE 2) SAS
Inventor: CAZAUX YVON , ROY FRANCOIS , GUILLON MARIE , LAFLAQUIERE ARNAUD
IPC: H01L27/146
-
公开(公告)号:DE102015121909A1
公开(公告)日:2016-12-22
申请号:DE102015121909
申请日:2015-12-16
Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS
Inventor: PETITPREZ EMMANUEL
IPC: H01L21/768 , H01L21/283 , H01L21/60 , H01L23/485 , H01L23/50
Abstract: Integrierte Schaltung, umfassend mindestens eine aktive Zone (ZA), die sich über einem Halbleitersubstrat (3) erstreckt, einen Hohlraum (CV0), der sich am Rand der aktiven Zone befindet und sich in einer Isolierzone (2, 4) bis in die Nähe eines Halbleiterbereichs erstreckt, einen isolierenden Stapel und einen elektrisch leitenden Kontakt (CTC) innerhalb des isolierenden Stapels, der auf der aktiven Zone und in dem Hohlraum mündet. Der isolierende Stapel umfasst eine erste Isolierschicht (6) umfasst, die die aktive Zone außerhalb des Kontakts bedeckt, die und die Wände des Hohlraums auskleidet, eine zusätzliche Isolierschicht (12), die den Teil der ersten Isolierschicht (6) bedeckt, der die Wände des Hohlraums auskleidet, wobei der Kontakt (CTC) diese zusätzliche Isolierschicht in dem Hohlraum erreicht, und einen Isolierbereich (7, 9) über der ersten Isolierschicht (6) und der zusätzlichen Isolierschicht (12), umfassend mindestens ein Isoliermaterial (7, 9) um den Kontakt herum.
-
137.
公开(公告)号:DK2917688T3
公开(公告)日:2016-12-19
申请号:DK13763109
申请日:2013-09-19
Inventor: DUTARTRE DIDIER , KONONCHUK OLEG
-
公开(公告)号:FR3037439A1
公开(公告)日:2016-12-16
申请号:FR1555362
申请日:2015-06-12
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA , STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS
Inventor: HOTELLIER NICOLAS , FOURNEL RICHARD , GIANESELLO FREDERIC , GUYADER FRANCOIS , FIORI VINCENT
Abstract: Dispositif électronique et procédé de traitement, dans lesquels une plaque arrière (3) comprend une couche arrière de substrat (4), une couche avant de substrat (5) et une couche intermédiaire diélectrique (6), située entre la couche arrière et la couche avant, et comprenant une structure électronique (7) aménagée sur ladite couche avant de substrat (5), incluant des composants électroniques et des moyens de connexion électrique, et dans lesquels ladite couche arrière de substrat (4) présente au moins une région locale pleine (17) et au moins une région locale évidée (18), cette région locale évidée étant aménagée sur toute l'épaisseur de ladite couche arrière, de sorte que ladite couche arrière de substrat ne recouvre pas au moins une zone locale (19) de la face arrière de ladite couche intermédiaire diélectrique (6), correspondant à ladite région locale évidée (18).
-
公开(公告)号:FR3007197B1
公开(公告)日:2016-12-09
申请号:FR1355710
申请日:2013-06-18
Inventor: JOBLOT SYLVAIN , COLONNA JEAN-PHILIPPE , GUILLER OLIVIER , MOURIER THIERRY
-
公开(公告)号:FR3036846A1
公开(公告)日:2016-12-02
申请号:FR1554853
申请日:2015-05-29
Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS
Inventor: PERRIN EMMANUEL
IPC: H01L21/762
Abstract: Circuit intégré, comprenant un substrat (1) du type SOI comportant un film semi-conducteur (12) situé au-dessus d'une couche isolante enterrée (11), elle-même située au-dessus d'un substrat porteur (10), le film semi-conducteur (12) comprenant une première zone (Z1), des premiers motifs (21) au dessus de la première zone (Z1) du film semi-conducteur (12) formant des régions de grille de premiers transistors MOS et des premières régions de grille fictives, la première zone (Z1) du film semi-conducteur comportant deux domaines (d1, d2) mutuellement espacés, ledit espace (7) étant comblé par au moins un matériau isolant (9) et situé entre deux régions de grille fictives (240, 241) au dessus d'une région du substrat porteur (11) exempte de tranchée isolante.
-
-
-
-
-
-
-
-
-